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TXRFチップ

TXRFチップは全部で 3 項標準に関連している。

TXRFチップ 国際標準分類において、これらの分類：分析化学。

International Organization for Standardization (ISO), TXRFチップ

• ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
• ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), TXRFチップ

• JIS K 0148:2005 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用した、シリコン ウェーハ上の主な表面汚染物質の測定。

その他：   ウエハース, TXRF, txrfアウトソーシング, シリコン表面TXRF, txrfアウトソーシング, 標準シリコンウェーハ, ++++txrf, シリコンウェーハ, ウェーハ検査, ウェーハ ウェーハ, txrfシリコンウェーハ, シリコンウェーハエッジ, TXRFチップ, ウェーハ処理, チップ3枚, シングルチップ, スーパーチップ, ウェーハ検査, txrf+, txrf要素.