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電子半導体装置

電子半導体装置は全部で 17 項標準に関連している。

電子半導体装置 国際標準分類において、これらの分類：総合電子部品、 集積回路、マイクロエレクトロニクス。

British Standards Institution (BSI), 電子半導体装置

• BS EN IEC 62435-3:2020 電子部品、電子半導体装置のデータの長期保存
• BS EN 62435-1:2017 電子部品・電子半導体装置の長期保管の概要
• BS EN 62435-5:2017 電子部品 電子半導体装置の長期保管 パート 5: ダイおよびウェーハ装置
• 18/30367158 DC BS EN 62435-3 電子部品および電子半導体装置の長期保管 パート 3. データ
• 20/30424473 DC BS EN 62435-9 電子部品および電子半導体装置の長期保管 パート 9. 特殊な場合

International Electrotechnical Commission (IEC), 電子半導体装置

• IEC 62435-4:2018 電子部品 電子半導体装置の長期保管 その4: 保管
• IEC 62435-2:2017 電子部品 電子半導体デバイスの長期保管 その2 劣化のメカニズム
• IEC 62435-5:2017 電子部品 電子半導体装置の長期保管 パート 5: ダイおよびウェーハ装置

ES-UNE, 電子半導体装置

• UNE-EN 62435-1:2017 電子部品電子半導体デバイスの長期保管 第1部：概要
• UNE-EN IEC 62435-3:2020 電子部品電子半導体デバイスの長期保管パート 3: データ
• UNE-EN IEC 62435-9:2021 電子部品および電子半導体装置の長期保管 第 9 部: 特殊な状況

Association Francaise de Normalisation, 電子半導体装置

• NF C96-435-6*NF EN IEC 62435-6:2018 電子部品 電子半導体装置の長期保管 パート 6: 梱包または完成した機器

SCC, 電子半導体装置

• DIN EN 62435-3 E:2018 文書草案 - 電子部品 - 電子半導体デバイスの長期保管 - パート 3: データ (IEC 47/2430/CD:2017)
• DIN EN 62435-4 E:2017 草案 - 電子部品 - 電子半導体デバイスの長期保管 - パート 4: 保管 (IEC 47/2324/CD:2016)
• DIN EN 62435-1 E:2013 文書草案 - 電子部品 - 電子半導体デバイスの長期保管 - パート 1: 一般 (IEC 47/2172/CD:2013)

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., 電子半導体装置

• NAS4118-1996 ヒートシンク電気電子部品半導体機器固定用クリップタイプ

Aerospace Industries Association, 電子半導体装置

• AIA NAS 4118-1996 ヒートシンク、電気・電子部品、半導体装置、保持クリップタイプ

その他：   半導体試験装置, 電子機器, 静電気電子機器, 電子機器パラメータ, 電子測定器, 電子機器および装置, 半導体装置, 電子機器, 半導体装置, 半導体試験装置, 半導体製造装置, 半導体装置の封止, 半導体 + テスト + 装置, 半導体装置パラメータ, 半導体エレクトロニクス, 電子半導体装置, 半導体電子部品, 半導体装置の封止, エレクトロニクス・半導体, 半導体装置.