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半導体試験装置

半導体試験装置は全部で 7 項標準に関連している。

半導体試験装置 国際標準分類において、これらの分類：長さと角度の測定、 電気機器部品、 電気、磁気、電気および磁気測定。

Group Standards of the People's Republic of China, 半導体試験装置

• T/ZACA 041-2022 ミックスドシグナル半導体デバイス試験装置
• T/ZZB Q041-2022 ミックスドシグナル半導体デバイス試験装置

Professional Standard - Machinery, 半導体試験装置

• JB/T 4219-1999 パワー半導体デバイス試験装置 型式命名方法

国家质量监督检验检疫总局, 半導体試験装置

• SN/T 3480.4-2016 輸入エレクトロニクスおよび電気産業向けの機器一式の検査に関する技術要件 パート 4: 半導体パッケージングおよび試験機器

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 半導体試験装置

• ECA CB 5-1969 半導体放熱装置の推奨試験手順

SE-SIS, 半導体試験装置

• SIS SS-IEC 749:1991 半導体装置。 機械的および気候的試験方法

CZ-CSN, 半導体試験装置

• CSN IEC 749:1994 半導体装置。 機械的および気候的試験方法

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