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单晶 x射线 分析

本专题涉及单晶 x射线 分析的标准有499条。

国际标准分类中，单晶 x射线 分析涉及到教育、金属材料试验、无机化学、分析化学、物理学、化学、半导体材料、粒度分析、筛分、陶瓷、黑色金属、词汇、有色金属、光学和光学测量、耐火材料、空气质量、无损检测、核能工程、建筑材料、辐射测量、电站综合、涂料配料、金属矿、钢铁产品、化工产品、辐射防护、电子管、职业安全、工业卫生、铁合金、有色金属产品、光学设备、非金属矿、医疗设备、实验室医学、水质、医学科学和保健装置综合、石油产品综合、煤、消防、摄影技术、燃料、长度和角度测量、橡胶和塑料工业的生产工艺、废物、润滑剂、工业油及相关产品、石油、石油产品和天然气储运设备。

在中国标准分类中，单晶 x射线 分析涉及到教学专用仪器、金属物理性能试验方法、教育、学位、学衔、无机化工原料综合、电离辐射计量、化学试剂综合、基础标准与通用方法、人工晶体、、筛分、筛板与筛网、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、轻金属及其合金分析方法、电子光学与其他物理光学仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、硅质耐火材料、耐火材料综合、有色金属矿综合、无机盐、工业防尘防毒技术、金属无损检验方法、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、放射源、水泥、核仪器与核探测器综合、电力试验技术、颜料基础标准与通用方法、重金属及其合金分析方法、光学仪器综合、铁矿、钢铁与铁合金分析方法、化妆品、涂料基础标准与通用方法、涂料、通用核仪器、金属化学分析方法综合、化学、其他电真空器件、同位素与放射源综合、放射卫生防护、辐射防护仪器、物理学与力学、大气环境有毒害物质分析方法、元素半导体材料、建材产品综合、稀有轻金属及其合金、冶金原料与辅助材料综合、半导体分立器件综合、生产环境安全卫生设施、钢铁产品综合、金相检验方法、石油地质勘探、稀有金属及其合金分析方法、轻金属及其合金、颜料、非金属矿、化学计量、建材原料矿、不定型耐火材料、定型隔热耐火材料、混凝土、集料、灰浆、砂浆、电化学、热化学、光学式分析仪器、辐射防护监测与评价、电子元件综合、实验室基础设备、有色金属及其合金产品综合、燃料油、冶金辅助原料矿、放射性同位素应用仪器、医用核仪器、轻金属矿、化学助剂基础标准与通用方法、医用射线设备、水环境有毒害物质分析方法、核材料、核燃料及其分析试验方法、稀有金属矿、碱性耐火材料、催化剂基础标准与通用方法、固体燃料矿综合、石油产品综合、光学测试仪器、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、润滑油、基本有机化工原料。


行业标准-教育，关于单晶 x射线 分析的标准

  • JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
  • JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

国家质检总局，关于单晶 x射线 分析的标准

  • GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
  • GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
  • GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
  • GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
  • GB/T 19140-2003 水泥X射线荧光分析通则
  • GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
  • GB/T 13710-1992 分析用X射线管空白详细规范
  • GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
  • GB/T 5225-1985 金属材料定量相分析 X射线衍射K值法
  • GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
  • GB/T 8359-1987 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
  • GB/T 16597-1996 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
  • GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
  • GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
  • GB/Z 42520-2023 铁矿石X射线荧光光谱分析实验室操作指南
  • GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
  • GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 29513-2013 含铁尘泥 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法
  • GB/T 21114-2007 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 - 熔铸玻璃片法
  • GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
  • GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
  • GB/T 8156.10-1987 工业用氟化铝中硫量的测定 X射线荧光光谱分析法
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
  • GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
  • GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
  • GB/T 17416.2-1998 锆矿石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定锆量和铪量
  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
  • GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
  • GB/T 14506.28-1993 硅酸盐岩石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定主、次元素量
  • GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分：元素含量的测定.X射线荧光光谱法
  • GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定

PT-IPQ，关于单晶 x射线 分析的标准

国家计量技术规范，关于单晶 x射线 分析的标准

韩国科技标准局，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-航空，关于单晶 x射线 分析的标准

  • HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • GB/T 39123-2020 X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范
  • GB/T 36923-2018 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法
  • GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
  • GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
  • GB/T 16597-2019 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
  • GB/T 21114-2019 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法
  • GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染
  • GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

中国团体标准，关于单晶 x射线 分析的标准

  • T/IAWBS 017-2022 金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
  • T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
  • T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法
  • T/IMPCA 0001-2021 化工装置钢铁及其制品中合金元素 X 射线 荧光光谱分析方法
  • T/NAIA 0128-2022 氢氧化铝快速测定 X射线荧光光谱分析（压片）法测定元素含量

KR-KS，关于单晶 x射线 分析的标准

英国标准学会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • BS ISO 17867:2015 粒径分析. 小角X射线散射
  • BS ISO 22278:2020 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
  • DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射线散射法
  • BS ISO 17867:2020 粒度分析 小角 X 射线散射 (SAXS)
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 粒径分析.小角度X射线散射法
  • 20/30360821 DC BS ISO 22278 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
  • BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
  • BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
  • BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
  • BS ISO 16258-2:2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 间接分析法
  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射 X 射线荧光光谱在生物和环境分析中的应用
  • BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • BS ISO 29581-2:2010 水泥.试验方法.用X射线荧光法的化学分析
  • BS EN 15305:2008 无损检验.使用X射线衍射分析剩余应力的试验方法
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
  • BS EN ISO 21587-2:2007 硅酸铝耐熔制品的化学分析(可选择X射线荧光法).湿化学分析
  • BS ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准
  • BS ISO 16258-1:2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 直接过滤法
  • BS ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
  • BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
  • PD ISO/TR 12389:2009 水泥测试方法 测试计划的报告 X 射线荧光化学分析
  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
  • BS EN ISO 10058-2:2009 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（可选X射线荧光法） 湿化学分析
  • BS EN ISO 10058-2:2008 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法).湿化学分析
  • DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
  • BS 6870-3:1989 铝矿石分析.第3部分:采用波长色散式X射线荧光法对多元素分析的方法
  • BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
  • BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
  • BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS 1902-9.1:1987 耐火材料试验方法.第9部分:化学分析仪法.第1节:硅酸铝耐火材料X射线荧光分析法
  • BS EN 10315:2006 临近技术使用的X射线荧光光谱法(XRF)高合金钢分析的常规方法

国际标准化组织，关于单晶 x射线 分析的标准

  • ISO 17867:2015 粒径分析. 小角X射线散射
  • ISO 22278:2020 精细陶瓷（高级陶瓷 高级工业陶瓷）.用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的试验方法
  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角度X射线溅射法
  • ISO 17867:2020 粒度分析.小角度X射线散射（SAXS）
  • ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
  • ISO 20289:2018 表面化学分析.水的全反射X射线荧光分析
  • ISO 16258-2:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第2部分: 间接分析法
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
  • ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
  • ISO 14706:2000 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
  • ISO 14706:2014 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
  • ISO 16258-1:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第1部分: 直接过滤法
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
  • ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
  • ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
  • ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
  • ISO 17470:2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
  • ISO/TS 10798:2011 纳米技术.使用扫描电镜与X射线能谱分析的单臂碳纳米管的特征描述
  • ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
  • ISO 29581-2:2010 水泥.试验方法.第2部分:用X射线荧光法的化学分析
  • ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
  • ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
  • ISO 21587-2:2007 硅酸铝耐火材料的化学分析(可选择X射线荧光法).第2部分:湿化学分析
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
  • ISO 12677:2011 用X射线荧光对耐火产品(XRF)进行化学分析.熔铸珠法
  • ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
  • ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • ISO/TR 12389:2009 水泥试验方法.X射线荧光进行化学分析的试验程序报告
  • ISO 12980:2000 铝生产用碳素材料 电极用生焦和煅烧焦 X射线荧光分析
  • ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • ISO 10058-2:2008 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法).第2部分:湿化学分析
  • ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析电子显微镜 透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • ISO 17054:2010 用X射线荧光光谱法(XRF)近似技术分析高合金钢的常规方法
  • ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
  • ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

RU-GOST R，关于单晶 x射线 分析的标准

德国标准化学会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • DIN 51418-2:2015 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN 51418-2:1996 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN 51418-1:2008 X射线光谱测定法.X射线散射和X射线荧光分析(XRF).第1部分:定义和基本原理
  • DIN EN 13925-2:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
  • DIN EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第1部分:总则
  • DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 无损检测 - 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 - 第 2 部分：程序
  • DIN 51418-1:1996 X光射线光谱测定法.X光射线散射和X光射线荧光分析(RFA).第1部分:定义和基本原理
  • DIN 51418-1:2008-08 射线光谱测定 X 射线发射和 X 射线荧光分析(XRF)第1部分：定义和基本原理
  • DIN EN 13925-1:2003-07 无损检测 - 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 - 第 1 部分：一般原理
  • DIN 51418-2:2015-03 X 射线光谱测定 X 射线发射和 X 射线荧光分析(XRF)第2部分：测量、校准和结果评估的定义和基本原则
  • DIN EN 1330-11:2007-09 无损检测 术语 第11部分：多晶和非晶材料 X 射线衍射中使用的术语
  • DIN IEC 62495:2011 核仪器.使用微型X射线管的便携式X射线荧光分析设备(IEC 62495-2011)
  • DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
  • DIN EN 15305:2009-01 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法
  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X射线光度法.X射线散射和X射线荧光分析(XRF).第2部分:定义和测量、校准及对结果评定的基本原理.附加信息和计算范例
  • DIN EN 1330-11:2007 无损检验.专业术语.第11部分:在多晶和非晶材料的X射线衍射中使用的术语
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 无损检验 使用X射线衍射法进行分析残余应力分析的试验方法
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 颜料.二氧化钛颜料.分析方法.用X射线荧光分析法制定校准曲线
  • DIN EN 15305:2009 无损检测.X射线衍射法对残余应力分析用试验方法
  • DIN 50443-1:1988 半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 颜料.二氧化钛颜料.分析方法.用X射线荧光分析测定次要成分的实例
  • DIN EN 12698-2:2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 硅酸铝耐熔制品的化学分析(可选择X射线荧光法).第2部分:湿化学分析
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代X射线荧光法）-第2部分：湿化学分析
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
  • DIN 6855-2:2005 核医疗仪器的质量控制.第2部分:用于单光子X线断层术的带旋转检测头的角型γ射线摄像机和平面闪烁扫描术的单晶γ射线摄像机的稳定试验
  • DIN 6855-2:2013 核医疗仪器的质量控制.第2部分:用于单光子X线断层术的带旋转检测头的角型γ射线摄像机和平面闪烁扫描术的单晶γ射线摄像机的稳定试验
  • DIN EN ISO 12677:2013-02 通过 X 射线荧光(XRF)对耐火产品进行化学分析 熔铸珠法
  • DIN 51440-1:2003 汽油检测.磷含量测定.第1部分:波长色散X射线光谱分析法
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
  • DIN EN ISO 10058-2:2009 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法) 第2部分:湿化学分析
  • DIN EN ISO 10058-2:2009-04 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（替代X射线荧光法）-第2部分：湿化学分析
  • DIN EN ISO 20565-2:2009-06 含铬耐火制品和含铬原材料的化学分析（替代X射线荧光法）-第2部分：湿化学分析
  • DIN 51729-10:1996 固体燃料试验.燃料灰化学成分测定.第10部分:X射线荧光分析法(RFA)
  • DIN EN ISO 14597:1999 矿物油制品.钒和镍含量的测定.波长色散X射线荧光分析法
  • DIN 25703:1993 硝酸溶液中铀含量和钚含量的测定.波长分散X射线荧光分析法
  • DIN 51729-10:2011-04 固体燃料的测试 燃料灰分化学成分的测定 第10部分：X射线荧光分析
  • DIN 51729-10:2011 固体燃料的试验.燃料灰分化学组成的测定.第10部分:X射线荧光分析
  • DIN EN 10315:2006 使用临近技术用X射线荧光光谱法(XRF)分析高合金钢的常规法
  • DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
  • DIN 51396-2:1998 润滑剂的试验.磨损元件的测定.第2部分:波长弥散X射线荧光分析(XRS)
  • DIN 51431-2:2004 润滑剂的检验.镁含量测定.第2部分:波长色散的X射线光谱分析法(XRF)
  • DIN 51396-2:2008 润滑剂的试验.磨损元件的测定.第2部分:波长弥散X射线荧光分析(XRS)
  • DIN 51390-2:1997 矿物油制品试验.硅含量测定.第2部分:波长耗散X射线萤光分析(RFA)法

工业和信息化部，关于单晶 x射线 分析的标准

  • YS/T 1178-2017 铝渣物相分析X射线衍射法
  • YB/T 172-2020 硅砖定量相分析 X射线衍射法
  • YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法
  • YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
  • YS/T 483-2022 铜及铜合金分析方法 X射线荧光光谱法 （波长色散型）
  • YS/T 1033-2015 干式防渗料元素含量的测定 X射线荧光光谱分析法
  • YS/T 806-2020 铝及铝合金化学分析方法 元素含量的测定 X射线荧光光谱法
  • YS/T 575.23-2021 铝土矿石化学分析方法 第23部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法

行业标准-机械，关于单晶 x射线 分析的标准

美国材料与试验协会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • ASTM F847-94(1999) 单晶硅片参考面结晶学取向X射线测量的标准试验方法
  • ASTM E1621-21 X射线发射光谱分析标准指南
  • ASTM D5380-93(2009) 用X射线绕射分析识别涂料中结晶颜料和填充剂的标准试验方法
  • ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
  • ASTM D5380-93(1998) 用X射线绕射分析法鉴定涂料中结晶颜料和填充剂的标准试验方法
  • ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
  • ASTM D5380-93(2014) 用X射线绕射分析法鉴定涂料中水晶颜料和填充剂的标准试验方法
  • ASTM E1621-05 X射线发散光谱分析标准指南
  • ASTM E1085-95(2004) 金属的X射线辐射光谱测定分析试验方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金属的X射线辐射光谱测定分析试验方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金属的X射线辐射光谱测定分析试验方法
  • ASTM E572-94(2000) 不锈钢X射线发射光谱分析的标准试验方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 不锈钢X射线发射光谱分析的标准试验方法
  • ASTM E572-02a(2006) 不锈钢X射线发射光谱分析的标准试验方法
  • ASTM E572-02a 不锈钢X射线发射光谱分析的标准试验方法
  • ASTM E1361-90(1999) X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南
  • ASTM E572-94(2000)e1 不锈钢X射线发射光谱分析的标准试验方法
  • ASTM E1361-02(2021) X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南
  • ASTM E322-96e1 低合金钢和铸铁的X射线发射光谱测定分析法
  • ASTM D5381-93(2003) 颜料和填充剂的X射线萤光(XRF)光谱分析
  • ASTM D5381-93(1998) 颜料和填充剂的X射线萤光(XRF)光谱分析
  • ASTM C1271-99(2006) 石灰和石灰岩X射线光谱分析标准试验方法
  • ASTM C1271-99 石灰石灰石X射线光谱分析的标准测试方法
  • ASTM C1271-99(2020) 石灰石灰石X射线光谱分析的标准测试方法
  • ASTM E322-96(2004) 低合金钢和铸铁的X射线发射光谱分析的标准测试方法
  • ASTM E2465-11e1 用 X 射线光谱法分析镍基合金的标准试验方法
  • ASTM C1271-99(2012) 石灰和石灰岩X射线光谱分析的标准试验方法
  • ASTM E3294-22 用粉末X射线衍射法对地质材料进行法医分析的标准指南
  • ASTM E1621-13 波长色散X射线荧光光谱法元素分析的标准指南
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
  • ASTM D2332-84(1999) 通过波长 - 分散X射线荧光分析水形沉积物的标准实践
  • ASTM E539-90(1996)e1 6铝4钒钛合金的X射线辐射光谱测定分析的标准试验方法
  • ASTM E539-02 6铝4钒钛合金的X射线辐射光谱测定分析的标准试验方法
  • ASTM E539-06 6铝4钒钛合金的X射线辐射光谱测定分析的标准试验方法
  • ASTM E3294-23 用粉末X射线衍射法对地质材料进行法医学分析的标准指南
  • ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
  • ASTM E539-11 利用 X 射线荧光光谱法分析钛合金的标准试验方法
  • ASTM E1085-09 用X 射线荧光光谱法分析低合金钢的标准试验方法
  • ASTM E2465-19 用X射线荧光光谱法分析镍基合金的标准试验方法
  • ASTM E1361-02 X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
  • ASTM E1361-02(2007) X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
  • ASTM E1361-02(2014)e1 X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
  • ASTM D2332-84(2003) 用波长色散X射线荧光法作水沉积物分析标准操作规程
  • ASTM C1416-99 用X射线荧光法分析天然水和废水中铀的标准试验方法
  • ASTM C1416-04 用X射线荧光法分析天然水和废水中铀的标准试验方法
  • ASTM E1621-94(1999) 用波长色散X射线荧光光谱法进行元素分析的标准指南
  • ASTM D2332-08 用波长色散X射线荧光法作水沉积物分析标准实施规程
  • ASTM E1621-22 用波长色散X射线荧光光谱法进行元素分析的标准指南
  • ASTM C1416-04(2009) 用X 射线荧光法分析天然水和废水中铀的标准试验方法
  • ASTM D2332-13 用波长色散X射线荧光法作水沉积物分析标准操作规程
  • ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
  • ASTM E539-19 用波长色散X射线荧光光谱法分析钛合金的标准试验方法
  • ASTM D2332-13(2021) 用波长色散X射线荧光法分析水成沉积物的标准实施规程
  • ASTM E539-07 6铝4钒钛合金的X射线荧光光谱测定分析用标准试验方法
  • ASTM E2465-11 用波长色散X射线荧光光谱法分析镍基合金的标准试验方法
  • ASTM E1085-22 用波长色散X射线荧光光谱法分析低合金钢的标准试验方法
  • ASTM E2465-13 用波长色散X射线荧光光谱法分析镍基合金的标准试验方法
  • ASTM D6247-98(2004) 用X射线荧光光谱法分析聚烯烃中元素含量的标准试验方法
  • ASTM E1031-96 用 X 射线光谱法分析炼铁和炼钢渣的标准试验方法（2002 年撤回）
  • ASTM E1588-16a 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
  • ASTM E1588-17 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
  • ASTM D8064-16 使用多个单色激发光束的单色能量色散X射线荧光光谱法进行土壤和固体废物元素分析的标准测试方法
  • ASTM E2465-06 用X射线荧光光谱测定法分析不锈钢和合金钢的标准试验方法
  • ASTM D6247-98 用X射线荧光度谱术对聚烯烃内元素含量分析的标准试验方法
  • ASTM E572-02a(2006)e2 用X射线荧光光谱测定法分析不锈钢和合金钢的标准试验方法

法国标准化协会，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-黑色冶金，关于单晶 x射线 分析的标准

日本工业标准调查会，关于单晶 x射线 分析的标准

欧洲标准化委员会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • EN 13925-2:2003 无损检测.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
  • EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
  • EN 13925-1:2003 无损检验.多晶体材料和无定形材料的X射线衍射.第1部分:一般原理
  • CEN/TR 10354:2011 黑色金属材料化学分析 硅铁分析 X射线荧光光谱法测定硅和铝
  • EN 12698-2:2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法
  • PD CEN/TR 10354:2011 黑色金属材料的化学分析 硅铁的分析 X射线荧光光谱法测定硅和铝
  • EN 15305:2008 无损检验.使用X射线衍射分析剩余应力的试验方法.合并勘误表-2009年1月
  • EN 10315:2006 使用临近技术用X射线荧光光谱法(XRF)分析高合金钢的常规法
  • EN ISO 21587-2:2007 硅酸铝耐火材料的化学分析(可选择X射线荧光法).第2部分:湿化学分析［代替:CEN EN 955-2］

丹麦标准化协会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • DS/EN 13925-2:2003 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第2部分：程序
  • DS/EN 13925-3:2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
  • DS/EN 13925-1:2003 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第1部分：一般原则
  • DS/EN 15305/AC:2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
  • DS/EN 15305:2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
  • DS/CEN/TR 10354:2012 黑色金属材料的化学分析 硅铁分析 X射线荧光光谱法测定Si和Al
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法）第2部分：湿化学分析
  • DS/EN ISO 12677:2011 通过 X 射线荧光（XRF）对耐火产品进行化学分析 熔铸珠法
  • DS/ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
  • DS/EN ISO 10058-2:2009 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第2部分：湿化学分析
  • DS/EN ISO 20565-2:2009 含铬耐火制品和含铬原材料的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第2部分：湿化学分析

立陶宛标准局，关于单晶 x射线 分析的标准

  • LST EN 13925-3-2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
  • LST EN 13925-2-2004 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第2部分：程序
  • LST EN 13925-1-2004 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第1部分：一般原则
  • LST EN 15305-2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
  • LST EN ISO 21587-2:2007 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第2部分：湿化学分析（ISO 21587-2:2007）
  • LST EN ISO 12677:2012 通过 X 射线荧光（XRF）对耐火产品进行化学分析 熔铸珠法（ISO 12677:2011）

AENOR，关于单晶 x射线 分析的标准

  • UNE-EN 13925-2:2004 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第2部分：程序
  • UNE-EN 13925-3:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
  • UNE-EN 13925-1:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第1部分：一般原则
  • UNE-EN 1330-11:2008 无损检测 术语 第11部分：多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语
  • UNE-EN 15305:2010 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
  • UNE-EN ISO 21587-2:2008 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第2部分：湿化学分析（ISO 21587-2:2007）
  • UNE-EN ISO 12677:2012 通过 X 射线荧光（XRF）对耐火产品进行化学分析 熔铸珠法（ISO 12677:2011）

行业标准-建材，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-核工业，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-能源，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-电力，关于单晶 x射线 分析的标准

  • DL/T 1151.22-2012 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法.第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析

美国国家标准学会，关于单晶 x射线 分析的标准

国际电工委员会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • IEC 62495:2011 核监测仪表.利用微型X-射线管的便携式X-射线荧光分析设备

卫生部国家职业卫生标准，关于单晶 x射线 分析的标准

  • GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶 x射线 分析的标准

  • GB/T 36017-2018 无损检测仪器 X射线荧光分析管
  • GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
  • GB/T 35734-2017 便携式管激发X射线荧光分析仪 分类、安全要求及其试验
  • GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求

台湾地方标准，关于单晶 x射线 分析的标准

广东省标准，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-有色金属，关于单晶 x射线 分析的标准

  • YS/T 273.14-2008 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 14部分:X射线荧光光谱分析法测定元素含量
  • YS/T 273.11-2006 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法.第11部分：x射线荧光光谱分析法测定硫含量
  • YS/T 869-2013 4A沸石化学成分分析方法 X射线荧光法
  • YS/T 273.15-2012 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第15部分：X射线荧光光谱分析（压片）法测定元素含量
  • YS/T 483-2005 铜及铜合金分析方法 X射线荧光光谱法 (波长色散型)
  • YS/T 703-2014 石灰石化学分析方法 元素含量的测定 X射线荧光光谱法
  • YS/T 575.23-2009 铝土矿石化学分析方法.第23部分:X射线荧光光谱法测定元素含量

美国电气电子工程师学会，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-地质，关于单晶 x射线 分析的标准

行业标准-石油，关于单晶 x射线 分析的标准

  • SY/T 5163-1995 沉积岩粘土矿物相对含量X射线衍射分析方法
  • SY/T 5163-2010 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法
  • SY/T 6210-1996 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法

未注明发布机构，关于单晶 x射线 分析的标准

IN-BIS，关于单晶 x射线 分析的标准

  • IS 12803-1989 X射线荧光光谱仪分析水硬性水泥的方法

行业标准-海关，关于单晶 x射线 分析的标准

  • HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

行业标准-商品检验，关于单晶 x射线 分析的标准

  • SN/T 2079-2008 不锈钢及合金钢分析方法X-射线荧光光谱法

ES-UNE，关于单晶 x射线 分析的标准

  • UNE 53934:2016 塑料 X 射线荧光法分析聚合物材料中的元素
  • UNE-EN ISO 10058-2:2008 菱镁矿和白云石耐火产品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第2部分：湿化学分析

工业和信息化部/国家能源局，关于单晶 x射线 分析的标准

澳大利亚标准协会，关于单晶 x射线 分析的标准

国家能源局，关于单晶 x射线 分析的标准

  • SY/T 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法

(美国)福特汽车标准，关于单晶 x射线 分析的标准

山东省地方标准，关于单晶 x射线 分析的标准

  • DB37/T 266-1999 建材产品中废渣掺加量的测定方法 X射线荧光分析法

福建省地方标准，关于单晶 x射线 分析的标准

  • DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法

行业标准-化工，关于单晶 x射线 分析的标准

  • HG/T 6150-2023 润滑油加氢异构催化剂化学成分分析方法 X射线荧光光谱法

云南省地方标准，关于单晶 x射线 分析的标准

  • DB53/T 639.7-2014 直接还原铁化学分析方法 第7部分：多元素的测定 X射线荧光光谱法

单晶x射线分析，单晶 x射线 分析，x射线 单晶，单晶x-射线分析，x-射线单晶，x射线单晶仪，小分子单晶x射线分析，x射线单晶衍射仪和x射线，x射线单晶衍射仪，x射线 单晶衍射仪，+++++单晶x射线衍射仪，单晶x射线衍射仪，x-射线单晶仪，x射线衍射仪和单晶，X 射线单晶衍射仪，单晶x-射线衍射仪 分析，射线x射线分析，x射线单晶衍射仪和x射线衍射仪，x射线分析 ，x射线 分析。

 

可能用到的仪器设备

 

布鲁克 D8 QUEST单晶X射线衍射仪（SC-XRD）应用于晶体结构解析

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布鲁克 D8 QUEST单晶X射线衍射仪（SC-XRD）应用于化学晶体学

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北京普析通用仪器有限责任公司

 

 



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