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스퍼터+

모두 95항목의 스퍼터+와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 스퍼터+와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 비철금속 제품, 진공 기술, 입자 크기 분석, 스크리닝, 페인트 및 바니시, 세라믹, 반도체 소재, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 유체 시스템 및 일반 부품, 비철금속, 의료 장비, 표면 처리 및 도금, 전자관, 소방, 살충제 및 기타 농약, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 전자 디스플레이 장치, 용어(원칙 및 조정), 비파괴 검사, 보석류, 광학 및 광학 측정, 길이 및 각도 측정, 방사선방호.


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 스퍼터+

  • GB/T 32999-2016 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 기계적 프로파일로미터 그리드 복제 방법을 사용한 스퍼터링 속도 측정
  • GB/T 34649-2017 마그네트론 스퍼터링용 루테늄 타겟

AT-ON, 스퍼터+

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 스퍼터+

  • YS/T 1024-2015 스퍼터링용 탄탈륨 타겟
  • YS/T 819-2012 전자박막용 고순도 구리 스퍼터링 타겟
  • YS/T 893-2013 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟
  • YS/T 718-2009 평면 마그네트론 스퍼터링 타겟 광학박막용 니오브 타겟
  • YS/T 719-2009 평면 마그네트론 스퍼터링 타겟 광학박막용 실리콘 타겟
  • YS/T 1025-2015 전자박막용 고순도 텅스텐 및 텅스텐 합금 스퍼터링 타겟
  • YS/T 837-2012 스퍼터링 타겟-백 플레이트 결합 품질 초음파 검사 방법

Professional Standard - Machinery, 스퍼터+

Professional Standard - Electron, 스퍼터+

  • SJ 1781-1981 스퍼터 이온 펌프 - 테스트 방법
  • SJ/T 10478-1994 마그네트론 스퍼터링 장비의 일반 기술 조건
  • SJ 1779-1981 일반 다이오드 스퍼터링 이온 펌프 매개변수 시리즈
  • SJ 1780-1981 일반 다이오드 스퍼터링 이온 펌프. 기술 조건
  • SJ/T 31066-1994 3180형 스퍼터링 테이블 무결성 요구 사항 및 검사 및 평가 방법
  • SJ/T 31067-1994 S-gun 마그네트론 스퍼터링 스테이션에 대한 무결성 요구 사항과 검사 및 평가 방법
  • SJ/T 31273-1994 EVP-13480 마그네트론 스퍼터링 기계 무결성 요구 사항 및 검사 및 평가 방법

International Organization for Standardization (ISO), 스퍼터+

  • ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 스퍼터링 방법
  • ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 설명 스퍼터 깊이 측정
  • ISO/TR 22335:2007 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정: 기계식 광학 스타일러스 프로파일로미터를 사용한 메쉬 복제 방법.
  • ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 - 깊이 분석 - 스퍼터링 깊이 측정
  • ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 스퍼터+

  • ASTM D4707-09 롤러 적용 중 스플래시 및 스패터를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D4707-09(2013) 롤러 적용 중 스플래시 및 스패터를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D4707-97 롤러 적용 중 스플래시 및 스패터를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D4707-09(2017) 롤러 적용 중 스플래시 및 스패터를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1634-94(1999) 스퍼터링 화염 깊이 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1634-02 스퍼터링 화염 깊이 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1634-02(2007) 스퍼터링 화염 깊이 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1634-11(2019) 스퍼터 크레이터 깊이 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1634-11 스퍼터 크레이터 깊이 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM F136-98e1 박막장비용 크롬 스퍼터링 전극 표준규격
  • ASTM F136-08 박막장비용 크롬 스퍼터링 전극 표준규격
  • ASTM F136-13(2021)e1 박막장비용 크롬 스퍼터링 전극 표준규격
  • ASTM F1367-98(2011) 박막장비용 크롬 스퍼터링 전극 표준규격
  • ASTM F1238-95(2003) 마이크로전자 장치용 내화 규화물 스퍼터링 전극
  • ASTM F1709-97 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟의 표준 규격
  • ASTM F1709-97(2016) 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟의 표준 규격
  • ASTM F1512-94(1999) 스퍼터링 타겟-백 플레이트 결합 품질 초음파 검사 방법
  • ASTM F1512-94(2003) 스퍼터링 타겟-백 플레이트 결합 품질 초음파 검사 방법
  • ASTM F1709-97(2002) 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟 표준사양
  • ASTM F1709-97(2008) 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟 표준사양
  • ASTM E1162-87(2001) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)에서 스퍼터 깊이 단면 데이터 보고
  • ASTM E1162-87(1996) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)에서 스퍼터 깊이 단면 데이터 보고
  • ASTM F3166-16 TSV(through-silicon via) 금속화를 위한 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟의 표준 사양
  • ASTM F3192-16 TSV(Through Silicon Via) 금속화용 고순도 구리 스퍼터링 타겟에 대한 표준 사양
  • ASTM F1238-95(1999) 마이크로 전자 장비용 내화 규화물 스퍼터링 전극의 표준 사양
  • ASTM E1438-11(2019) SIMS를 사용한 스퍼터링 깊이 프로파일의 인터페이스 폭 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM F1238-95(2011) 마이크로 전자 장비용 내화 규화물 스퍼터링 전극의 표준 사양
  • ASTM E1438-91(2001) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)를 사용하여 스퍼터링 깊이 형성 계면의 폭 측정
  • ASTM E1438-91(1996) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)를 사용하여 스퍼터링 깊이 형성 계면의 폭 측정

Group Standards of the People's Republic of China, 스퍼터+

  • T/ZZB 0639-2018 산화아연 알루미늄 마그네트론 스퍼터링 타겟
  • T/CAS 304-2018 마그네트론 스퍼터링 실리콘 타겟 및 바운드 타겟
  • T/ZZB 0093-2016 집적회로용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟
  • T/CSEA 15-2021 진공 마그네트론 스퍼터링 은도금 공정 및 품질검사
  • T/QGCML 159-2021 용융 금속 비말 시험기에 대한 안전모 저항성 교정 방법
  • T/ICMTIA TG0011-2022 집적 회로용 고순도 알루미늄 및 알루미늄 합금 스퍼터링 타겟
  • T/GVS 002-2021 고정밀 마그네트론 스퍼터링 코팅 장비에 대한 일반 기술 요구 사항
  • T/ZZB 1790-2020 구리 인듐 갈륨 셀레나이드 태양전지 박막 스퍼터링 증착 장비
  • T/SZS 4034-2021 귀금속 보석 표면의 마그네트론 스퍼터링 로듐 도금 공정에 대한 기술 사양

工业和信息化部, 스퍼터+

  • YS/T 1555-2022 백금 코발트 크롬 붕소 합금 스퍼터링 타겟
  • YS/T 1124-2016 자기 스퍼터링 타겟의 투자율 테스트 방법
  • YS/T 1357-2020 자기 기록용 크롬-탄탈륨-티타늄 합금 스퍼터링 타겟
  • YS/T 1358-2020 자기 기록용 철-코발트-탄탈륨 합금 스퍼터링 타겟

CZ-CSN, 스퍼터+

German Institute for Standardization, 스퍼터+

ZA-SANS, 스퍼터+

  • SANS 5891:2003 살충제. 스프레이의 인화성(플레임 스퍼터링 방식)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 스퍼터+

  • GB/T 25755-2010 진공 기술 스퍼터 이온 펌프 성능 매개변수 측정
  • GB/T 29658-2013 전자박막용 고순도 알루미늄 및 알루미늄 합금 스퍼터링 타겟
  • GB/T 29557-2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 깊이 측정
  • GB/T 31227-2014 원자력현미경을 이용한 스퍼터링된 막의 표면거칠기 측정방법
  • GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 스퍼터+

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 스퍼터+

  • GJB 3032-1997 스퍼터링된 이황화 몰리브덴 기반 자기 윤활 고체 필름 사양

Association Francaise de Normalisation, 스퍼터+

  • FD X21-063*FD ISO/TR 22335:2008 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정: 기계식 스타일러스 프로파일로미터를 사용한 그리드 복제 방법
  • NF EN ISO 10342:2010 안과용 기기 - 굴절계
  • FD ISO/TR 22335:2008 표면 화학 분석 깊이 분석 스퍼터링 속도 측정: 기계식 스타일러스가 있는 프로파일로미터를 사용한 그리드 임프린트에 의한 방법

British Standards Institution (BSI), 스퍼터+

  • PD ISO/TR 22335:2007 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정 기계식 스타일러스 프로파일로미터를 이용한 그리드 복제 방법
  • BS PD ISO/TR 15969:2021 스퍼터 깊이의 표면 화학 분석 깊이 프로파일 측정
  • PD ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
  • BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
  • BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
  • BS EN ISO 10341:2012 안과용 기구, 굴절계 핸드피스

RU-GOST R, 스퍼터+

  • GOST 5.1807-1973 GIN-0.5-1M 이온 스퍼터링 펌프 제품 품질 요구 사항 인증

KR-KS, 스퍼터+





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