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DE금 이온 스퍼터링 장비
모두 87항목의 금 이온 스퍼터링 장비와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 금 이온 스퍼터링 장비와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 진공 기술, 유체 시스템 및 일반 부품, 인체 건강 장비, 분석 화학, 비철금속 제품, 비철금속, 반도체 소재, 보석류, 방사선방호, 방사선 측정, 항공우주 제조용 재료, 펌프, 광학 및 광학 측정, 고무, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 고무 및 플라스틱 원료, 토양질, 토양과학, 종합 전자 부품.
Professional Standard - Electron, 금 이온 스퍼터링 장비
Professional Standard - Machinery, 금 이온 스퍼터링 장비
German Institute for Standardization, 금 이온 스퍼터링 장비
Group Standards of the People's Republic of China, 금 이온 스퍼터링 장비
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 금 이온 스퍼터링 장비
RU-GOST R, 금 이온 스퍼터링 장비
American Society for Testing and Materials (ASTM), 금 이온 스퍼터링 장비
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 금 이온 스퍼터링 장비
British Standards Institution (BSI), 금 이온 스퍼터링 장비
- BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
- PD IEC/TS 62743:2012 방사선 방호 장비 이온화 방사선의 펄스 장을 위한 전자 계수 선량계
- BS ISO 22415:2019 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 분석 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일링의 수율 결정 방법
- BS EN 15605:2010 구리 및 구리 합금 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법
- BS ISO 22962:2008 티타늄 및 티타늄 합금 철 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법
International Organization for Standardization (ISO), 금 이온 스퍼터링 장비
Professional Standard - Agriculture, 금 이온 스퍼터링 장비
SE-SIS, 금 이온 스퍼터링 장비
International Electrotechnical Commission (IEC), 금 이온 스퍼터링 장비
IEC - International Electrotechnical Commission, 금 이온 스퍼터링 장비
Society of Automotive Engineers (SAE), 금 이온 스퍼터링 장비
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 금 이온 스퍼터링 장비
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 금 이온 스퍼터링 장비
Standard Association of Australia (SAA), 금 이온 스퍼터링 장비
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 금 이온 스퍼터링 장비
- GB/T 36764-2018 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광계를 사용하여 고무 화합물 침전 수화 실리카를 사용한 중금속 함량 측정
- GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법
Professional Standard - Aviation, 금 이온 스퍼터링 장비
Association Francaise de Normalisation, 금 이온 스퍼터링 장비
European Committee for Standardization (CEN), 금 이온 스퍼터링 장비
Danish Standards Foundation, 금 이온 스퍼터링 장비
Lithuanian Standards Office , 금 이온 스퍼터링 장비
AENOR, 금 이온 스퍼터링 장비
KR-KS, 금 이온 스퍼터링 장비