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금 이온 스퍼터링

모두 79항목의 금 이온 스퍼터링와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 금 이온 스퍼터링와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 진공 기술, 유체 시스템 및 일반 부품, 분석 화학, 비철금속 제품, 비철금속, 반도체 소재, 보석류, 전자관, 전자 디스플레이 장치, 용어(원칙 및 조정), 항공우주 제조용 재료, 펌프, 인체 건강 장비, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 길이 및 각도 측정.


Professional Standard - Electron, 금 이온 스퍼터링

  • SJ 1781-1981 스퍼터 이온 펌프 - 테스트 방법
  • SJ 1779-1981 일반 다이오드 스퍼터링 이온 펌프 매개변수 시리즈
  • SJ 1780-1981 일반 다이오드 스퍼터링 이온 펌프. 기술 조건
  • SJ/T 10755-1996 전자 기기에 사용되는 금, 은 및 그 합금 땜납의 검사 방법 스플래터 특성의 검사 방법

Professional Standard - Machinery, 금 이온 스퍼터링

German Institute for Standardization, 금 이온 스퍼터링

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 금 이온 스퍼터링

  • GB/T 25755-2010 진공 기술 스퍼터 이온 펌프 성능 매개변수 측정
  • GB/T 29658-2013 전자박막용 고순도 알루미늄 및 알루미늄 합금 스퍼터링 타겟
  • GB/T 31227-2014 원자력현미경을 이용한 스퍼터링된 막의 표면거칠기 측정방법

RU-GOST R, 금 이온 스퍼터링

  • GOST 5.1807-1973 GIN-0.5-1M 이온 스퍼터링 펌프 제품 품질 요구 사항 인증
  • GOST 27973.2-1988 금 벨트 유도 플라즈마 원자 방출 분석 방법
  • GOST 5.413-1970 BP-150 구동 입상 냉각 다이오드형 이온 스퍼터 펌프 NMDO-01-01(NORD-100) 인증된 제품 품질 요구 사항
  • GOST R 52371-2005 주석-납 배빗 합금 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법
  • GOST R ISO 22033-2014 니켈 합금 니오븀 측정 유도 결합 플라즈마/원자 방출 분광법
  • GOST R ISO 22725-2014 니켈 합금 탄탈륨 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 금 이온 스퍼터링

  • ASTM E1162-87(2001) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)에서 스퍼터 깊이 단면 데이터 보고
  • ASTM E1162-87(1996) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)에서 스퍼터 깊이 단면 데이터 보고
  • ASTM E1438-91(2001) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)를 사용하여 스퍼터링 깊이 형성 계면의 폭 측정
  • ASTM E1438-91(1996) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)를 사용하여 스퍼터링 깊이 형성 계면의 폭 측정
  • ASTM E1162-11(2019) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)에서 스퍼터 깊이 프로파일 데이터를 보고하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1162-06 2차 이온 질량 분석기(SIMS)에서 스퍼터 깊이 단면 데이터를 보고하기 위한 표준 관행
  • ASTM F1238-95(2003) 마이크로전자 장치용 내화 규화물 스퍼터링 전극
  • ASTM F1709-97 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟의 표준 규격
  • ASTM F1709-97(2016) 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟의 표준 규격
  • ASTM F1709-97(2002) 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟 표준사양
  • ASTM F1709-97(2008) 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟 표준사양
  • ASTM E684-95(2000) 고체 표면의 스퍼터링 깊이 프로파일링을 위한 대구경 이온빔의 전류 밀도를 대략적으로 결정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E684-04 고체 표면의 스퍼터링 깊이 프로파일링을 위한 대구경 이온빔의 전류 밀도를 대략적으로 결정하기 위한 표준 사례
  • ASTM F3166-16 TSV(through-silicon via) 금속화를 위한 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟의 표준 사양
  • ASTM F3192-16 TSV(Through Silicon Via) 금속화용 고순도 구리 스퍼터링 타겟에 대한 표준 사양
  • ASTM F1238-95(1999) 마이크로 전자 장비용 내화 규화물 스퍼터링 전극의 표준 사양
  • ASTM F1238-95(2011) 마이크로 전자 장비용 내화 규화물 스퍼터링 전극의 표준 사양
  • ASTM F2113-01 전자박막용 고순도 금속 스퍼터링 타겟의 순도 등급 및 불순물 함량 분석 및 보고를 위한 표준 가이드
  • ASTM F2113-01(2007) 전자박막용 고순도 금속 스퍼터링 타겟의 순도 등급 및 불순물 함량 분석 및 보고를 위한 표준 가이드

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 금 이온 스퍼터링

  • YS/T 1025-2015 전자박막용 고순도 텅스텐 및 텅스텐 합금 스퍼터링 타겟
  • YS/T 819-2012 전자박막용 고순도 구리 스퍼터링 타겟
  • YS/T 893-2013 전자박막용 고순도 티타늄 스퍼터링 타겟
  • YS/T 935-2013 전자박막용 고순도 금속 스퍼터링 타겟의 순도 등급 및 불순물 함량 분석 및 보고를 위한 표준 가이드

工业和信息化部, 금 이온 스퍼터링

  • YS/T 1555-2022 백금 코발트 크롬 붕소 합금 스퍼터링 타겟
  • YS/T 1357-2020 자기 기록용 크롬-탄탈륨-티타늄 합금 스퍼터링 타겟
  • YS/T 1358-2020 자기 기록용 철-코발트-탄탈륨 합금 스퍼터링 타겟

British Standards Institution (BSI), 금 이온 스퍼터링

  • BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
  • BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
  • BS ISO 22415:2019 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 분석 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일링의 수율 결정 방법
  • BS EN 15605:2010 구리 및 구리 합금 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법

International Organization for Standardization (ISO), 금 이온 스퍼터링

  • ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
  • ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
  • ISO 22415:2019 표면 화학 분석, 2차 이온 질량 분석법, 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일을 통한 수율량 결정 방법.
  • ISO 22725:2007 니켈 합금 탄탈륨 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법
  • ISO 22033:2005 니켈 합금 니오븀 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법
  • ISO 11435:2005 니켈 합금, 몰리브덴 측정, 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법
  • ISO 22033:2011 니켈 합금 니오븀 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법

Group Standards of the People's Republic of China, 금 이온 스퍼터링

  • T/ICMTIA TG0011-2022 집적 회로용 고순도 알루미늄 및 알루미늄 합금 스퍼터링 타겟
  • T/QGCML 018-2020 음이온 방사체
  • T/SZS 4034-2021 귀금속 보석 표면의 마그네트론 스퍼터링 로듐 도금 공정에 대한 기술 사양

Society of Automotive Engineers (SAE), 금 이온 스퍼터링

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 금 이온 스퍼터링

  • KS D 1939-2003 아연 합금의 화학적 분석 유도 결합 플라즈마 플라즈마 방출 분광법
  • KS D 1674-2009 고순도 금의 유도 결합 플라즈마 방출 분광법
  • KS D ISO 22033:2006 니켈 합금 니오븀 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법

Standard Association of Australia (SAA), 금 이온 스퍼터링

  • AS 3515.4:2007 금 및 금 함유 합금. 금 함량 측정(99.95% 이상). 유도 결합 플라즈마. 원자 방출 분광법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 금 이온 스퍼터링

  • GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법

Association Francaise de Normalisation, 금 이온 스퍼터링

  • NF A08-920:2008 니켈 합금 티타늄 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법
  • NF ISO 23166:2019 니켈 합금 - 탄탈륨 측정 - 고주파 플라즈마 방출 분광법
  • NF A08-702*NF EN 15605:2010 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법을 통한 구리 및 구리 합금 측정
  • NF EN 10361:2016 유도 플라즈마 소스 방출 분광법을 통한 합금강 내 니켈 측정

European Committee for Standardization (CEN), 금 이온 스퍼터링

  • EN 15605:2010 구리 및 구리 합금 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법

Danish Standards Foundation, 금 이온 스퍼터링

  • DS/EN 15605:2010 구리 및 구리 합금의 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법

Lithuanian Standards Office , 금 이온 스퍼터링

  • LST EN 15605-2010 구리 및 구리 합금의 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법

AENOR, 금 이온 스퍼터링

  • UNE-EN 15605:2011 구리 및 구리 합금의 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법




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