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양극성 자기 반도체

모두 263항목의 양극성 자기 반도체와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 양극성 자기 반도체와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 전송 및 배전망, 전자 장비용 기계 부품, 광전자공학, 레이저 장비, 통합 서비스 디지털 네트워크(ISDN), 집적 회로, 마이크로 전자공학, 전기공학종합, 기계, 설비 및 장비의 특성 및 설계, 전자기 호환성(EMC), 판막, 자성 재료, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 무선 통신, 환경 테스트, 전기 및 전자 테스트, 광섬유 통신, 계측 및 측정 합성.


British Standards Institution (BSI), 양극성 자기 반도체

  • BS IEC 60747-7:2011 반도체 장치 디스크리트 장치 양극성 트랜지스터
  • BS IEC 60747-7:2010 반도체 장치 디스크리트 장치 바이폴라 트랜지스터
  • BS IEC 60747-7:2010+A1:2019 반도체 장치 디스크리트 장치 양극성 트랜지스터
  • BS IEC 60747-7:2001 개별 반도체 장치 및 집적 회로 바이폴라 트랜지스터
  • BS IEC 60747-9:2007 반도체 장치, 개별 장치, 절연 게이트 양극 트랜지스터(IGBT)
  • BS IEC 60747-9:2019 반도체 장치 디스크리트 장치 절연 게이트 양극 트랜지스터(IGBT)
  • 20/30406234 DC BS IEC 63275-2 Ed.1.0 반도체 장치 실리콘 카바이드 개별 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터에 대한 신뢰성 테스트 방법 2부. 바디 다이오드 작동으로 인한 양극성 저하에 대한 테스트 방법
  • BS EN IEC 60747-17:2020 반도체 부품 기본 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러
  • BS DD IEC/PAS 60747-17:2011 반도체 부품 개별 부품 기본 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러.
  • BS IEC 62047-28:2017 반도체소자 미세전자기계소자 진동구동 MEMS 일렉트릿 에너지 하베스팅 장치 성능시험 방법
  • 15/30323630 DC BS EN 62047-28 반도체 장치용 마이크로 전자 기계 장치 파트 28 진동 구동 MEMS 일렉트릿 에너지 하베스팅 장치 성능 테스트 방법
  • BS QC 790105:1993 전자 부품 품질 평가를 위한 조정 시스템 사양 반도체 장치 집적 회로 블랭크 상세 사양 집적 회로 퓨즈 프로그래밍 가능 양극 읽기 전용 메모리

International Electrotechnical Commission (IEC), 양극성 자기 반도체

  • IEC 60747-7:2000 반도체 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • IEC 60747-7:2010/AMD1:2019 반도체 장치 개별 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • IEC 60747-7:2010 반도체 장치, 개별 장치, 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • IEC 60747-7:2019 반도체 장치 개별 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • IEC 60747-7:2010+AMD1:2019 CSV 반도체 장치 개별 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • IEC 60747-9:2001 반도체 장치 디스크리트 장치 9부: 절연 바이폴라 트랜지스터(IGBTS)
  • IEC 60747-9:2019 반도체 장치 9부: 개별 장치 절연 게이트 양극성 트랜지스터
  • IEC 60747-7/AMD2:1994 반도체 개별 장치 및 집적 회로 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 보충 자료 2
  • IEC 60747-9:1998 반도체 장치 개별 장치 부품 9: 절연 게이트 양극 트랜지스터(IGBTS)
  • IEC 60747-9:2007 반도체 장치 디스크리트 장치 9부: 절연 게이트 양극 트랜지스터(IGBT)
  • IEC 60747-7-3:1991 반도체 장치 디스크리트 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 3: 스위칭용 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • IEC 60747-7-5:2005 반도체 장치 디스크리트 장치 7-5부: 전력 변환용 바이폴라 트랜지스터
  • IEC 63275-2:2022 반도체 장치 탄화규소 이산 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터의 신뢰성 테스트 방법 2부: 바디 다이오드 작동으로 인한 양극성 저하 테스트 방법
  • IEC 60747-9/AMD1:2001 반도체 장치 개별 장치 파트 9: 절연 게이트 양극 트랜지스터(IGBTS) 개정 1
  • IEC 60747-7/AMD1:1991 반도체 개별 장치 및 집적 회로 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 수정 1
  • IEC 60747-7-4:1991 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 4: 고주파 증폭기 인클로저 정격 바이폴라 트랜지스터 공백 상세 사양
  • IEC 60747-7-2:1989 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 2: 저주파 증폭 인클로저 정격 양극성 트랜지스터 공백 상세 사양
  • IEC 60747-7-1:1989 반도체 장치 디스크리트 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 1: 저주파 및 고주파 증폭 환경 정격 바이폴라 트랜지스터 공백 상세 사양
  • IEC 60747-17:2020 반도체 장치 17부: 기본 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러
  • IEC 60747-17:2020/COR1:2021 반도체 장치 17부: 기본 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러, 정오표 1
  • IEC PAS 60747-17:2011 반도체 장치 디스크리트 장치 17부: 기본 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러.
  • IEC 62047-28:2017 반도체 장치, 마이크로 전자기계 장치, 파트 28: 진동 구동 MEMS 일렉트릿 에너지 하베스팅 장치의 성능 테스트 방법
  • IEC 60748-2-1:1991 반도체 장치 집적 회로 파트 2: 디지털 집적 회로 섹션 1: 양극성 모놀리식 디지털 집적 게이트 회로(프리 로직 어레이 제외)
  • IEC 60747-17:2021 정오표 1 반도체 장비 파트 17: 기본 절연 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러
  • IEC 60747-6-2:1991 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 섹션 2: 최대 100A의 주변 또는 인클로저 정격 전류를 위한 양방향 3극 사이리스터 트랜지스터 공백 상세 사양

PL-PKN, 양극성 자기 반도체

  • PN T01208-03-1992 반도체 장치. 바이폴라 트랜지스터. 측정 방법
  • PN T01208-01-1992 반도체 장비. 바이폴라 트랜지스터. 용어 및 알파벳 기호
  • PN T01208-02-1992 반도체 장치. 바이폴라 트랜지스터. 기본 등급 및 기능
  • PN T01210-01-1992 반도체 장치. 별도의 장치. 바이폴라 트랜지스터. 저주파 증폭기 상자 정격 바이폴라 트랜지스터 블랭크 세부 사양
  • PN T01207-01-1992 반도체 장치. 개별 장치, 양극성 트랜지스터 저주파 및 고주파수 증폭기 박스 환경 등급 양극성 트랜지스터 공백 세부 사양

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 양극성 자기 반도체

  • KS C IEC 60747-7:2006 반도체 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • KS C IEC 60747-7:2017 반도체 장치 7부: 양극성 트랜지스터
  • KS C IEC 60747-7:2022 반도체 장치, 개별 장치, 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • KS C IEC 60747-7-3-2006(2021) 반도체 장치 디스크리트 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 3: 공백 스위치용 양극성 트랜지스터에 대한 상세 사양
  • KS C IEC 60747-7-3-2006(2016) 반도체 장치 디스크리트 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 3: 스위칭용 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • KS C IEC 60747-7-4:2006 반도체 장치 디스크리트 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 4: 고주파 증폭 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양.
  • KS C IEC 60747-7-2:2006 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 2: 저주파 증폭을 위한 환경적으로 평가된 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양.
  • KS C IEC 60747-7-3:2006 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 3: 스위칭 장비용 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양.
  • KS C IEC 60747-7-4-2006(2021) 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 4: 고주파 증폭용 케이스 정격 양극성 트랜지스터에 대한 빈칸 상세 사양
  • KS C IEC 60747-7-4-2006(2016) 반도체 장치 개별 부품 7: 양극성 트랜지스터 섹션 4: 고주파 증폭용 케이스 정격 양극성 트랜지스터에 대한 공백 상세 사양
  • KS C IEC 60747-7-2-2006(2016) 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 2: 저주파 증폭을 위한 케이스 정격 양극성 트랜지스터에 대한 빈칸 상세 사양
  • KS C IEC 60747-7-2-2006(2021) 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 2: 저주파 증폭을 위한 케이스 정격 양극성 트랜지스터에 대한 빈칸 상세 사양
  • KS C IEC 60747-7-1-2006(2016) 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 1: 저주파수 및 고주파수 증폭을 위한 환경 등급 양극성 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • KS C IEC 60747-7-1-2006(2021) 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 1: 저주파수 및 고주파수 증폭을 위한 환경 등급 양극성 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • KS C IEC 60747-6-2:2006 반도체 장치 개별 장치 파트 6: 사이리스터 섹션 2: 양방향 3극 사이리스터(3극 트라이액), 최대 전류 100A 빈 세부 사양
  • KS C IEC 60747-7-1:2006 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 1: 저주파 및 고주파 증폭을 위한 환경 친화적인 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양.
  • KS C IEC 60747-6-2-2006(2021) 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 섹션 2: 주변 또는 인클로저 정격 양방향 트라이액 트라이액 블랭크 100A 이하의 세부 사양
  • KS C IEC 60747-6-2-2006(2016) 반도체 장치 개별 장치 파트 6: 사이리스터 섹션 2: 100A 이하 환경 또는 케이스 정격 양방향 삼극 사이리스터 블랭크 상세 사양
  • KS C IEC 60748-2-1:2001 반도체 장치 집적 회로 2부: 디지털 집적 회로 섹션 1: 양극성 모놀리식 디지털 집적 게이트 회로(독립 논리 어레이 제외)
  • KS C IEC 60748-2-7-2002(2022) 반도체 장치 집적 회로 파트 2: 디지털 집적 회로 섹션 7: 집적 회로 융합 프로그래밍 가능 양극 읽기 전용 메모리 블랭크 상세 사양

TH-TISI, 양극성 자기 반도체

  • TIS 1864-2009 반도체 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • TIS 1867-1999 반도체 장치 - 개별 장치 파트 7: 양극성 트랜지스터 섹션 4: 스위칭 애플리케이션용 양극성 트랜지스터에 대한 공백 상세 사양
  • TIS 1866-1999 반도체 장치 - 이산 소자 부품 7: 양극성 트랜지스터 섹션 2: 저주파 증폭용 케이스 정격 양극성 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • TIS 1868-1999 반도체 장치 - 이산 소자 부품 7: 양극성 트랜지스터 섹션 4: 고주파 증폭용 케이스 정격 양극성 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • TIS 1865-1999 반도체 장치 디스크리트 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 1: 저주파수 및 고주파수 증폭을 위한 환경 등급 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • TIS 1971-2000 반도체 장치 개별 부품 3: 신호(스위치 포함) 및 제너 다이오드 섹션 온도 보상 정밀 기준 다이오드를 제외한 제너 다이오드 및 전압 기준 다이오드에 대한 이중 공백 세부 사양
  • TIS 1974-2000 반도체 장치 개별 장치 파트 6: 사이리스터 섹션 2: 양방향 삼극 사이리스터(트라이액)에 대한 빈 세부 사양, 환경 또는 인클로저 등급, 최대 100A

YU-JUS, 양극성 자기 반도체

  • JUS A.A4.302-1990 반도체 다이오드 특성표
  • JUS N.R1.353-1979 반도체 장치의 알파벳 기호입니다. 양극성 전계 효과 및 전계 효과 트랜지스터
  • JUS N.R1.323-1979 반도체 장치의 용어 및 정의. 양극성 전계 효과 및 전계 효과 트랜지스터
  • JUS N.R1.372-1979 반도체 다이오드. 중요한 등급 및 기능. 정류다이오드
  • JUS N.R1.375-1980 반도체 다이오드. 중요한 등급 및 기능. 버랙터 다이오드
  • JUS N.R1.374-1980 반도체 다이오드. 중요한 등급 및 기능. 버랙터 다이오드. 터널 보조관

CZ-CSN, 양극성 자기 반도체

  • CSN IEC 747-7:1994 반도체 개별 장비 및 집적 회로. 7부: 양극성 트랜지스터

KR-KS, 양극성 자기 반도체

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 양극성 자기 반도체

  • GB/T 4587-2023 반도체 장치 개별 장치 7부: 양극성 트랜지스터
  • GB/T 29332-2012 반도체 장치 개별 장치 부품 9: 절연 게이트 양극 트랜지스터(IGBT)
  • GB/T 4587-1994 반도체 개별 장치 및 집적 회로 7부: 바이폴라 트랜지스터
  • GB/T 30116-2013 반도체 생산 시설의 전자파 적합성 요구 사항
  • GB/T 7576-1998 반도체 장치 개별 장치 부품 7, 양극성 트랜지스터 부품 4 고주파 증폭기 케이스 정격 양극성 트랜지스터 공백 상세 사양
  • GB/T 6217-1998 반도체 장치 개별 장치 7부, 양극성 트랜지스터 1부 공백 고주파수 및 저주파 증폭 환경에 맞게 정격된 양극성 트랜지스터에 대한 상세 사양
  • GB/T 14119-1993 반도체 집적 회로용 양극성 융합 프로그래밍 가능 읽기 전용 메모리에 대한 빈 세부 사양
  • GB/T 13150-2005 100A보다 큰 반도체 장치 개별 장치 전류, 환경 및 케이스 정격 양방향 트라이액 사이리스터 블랭크 세부 사양
  • GB/T 6590-1998 반도체 장치 개별 장치 6부, 사이리스터 트랜지스터 2부 공백 환경 또는 케이스 등급이 100A 미만인 양방향 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 상세 사양

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 양극성 자기 반도체

  • GJB/Z 41.6-1993 군용 반도체 개별 장치 시리즈 스펙트럼 바이폴라 트랜지스터

Defense Logistics Agency, 양극성 자기 반도체

  • DLA MIL-S-19500/438 VALID NOTICE 4-2011 반도체 장치, 3극 사이리스터(양방향), 실리콘, 유형 2N5806 ~ 2N5809
  • DLA MIL-PRF-19500/762-2009 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 듀얼 쇼트키, 공통 음극, 1N7062CCT1 유형, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/764 F-2009 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키, 이중, 공통 음극, 1N7071CCT8 유형, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/765 A-2013 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 듀얼 쇼트키, 공통 음극, 1N7072CCT3 유형 및 1N7078U3 JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/754 D-2009 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키, 이중, 공통 음극, 유형 1N7064CCU3 및 1N7064CCU3C, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-S-19500/390 VALID NOTICE 4-2011 반도체 장치, 트랜지스터, NPN, 실리콘, 이중 이미터 유형 3N74, TX3N74, 3N75, TX3N75, 3N76, TX3N76, 3N127, TX3N127
  • DLA MIL-PRF-19500/507 F-2011 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 양극 과도 전압 억제기, 유형 1N6036A ~ 1N6072A JAN, JANTX 및 JANTXV
  • DLA MIL-PRF-19500/681 C-2013 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키 다이오드, 듀얼 센터 탭, 유형 1N6843CCU3, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 1-2008 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 양극 과도 전압 억제기, 유형 1N6950 ~ 1N6986, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 2-2013 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 양극 과도 전압 억제기, 유형 1N6950 ~ 1N6986, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/735-2006 듀얼 다이오드 유형 1N7041CCU1 및 단일 다이오드 유형 1N7045T3, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS 센터 탭 쇼트키 실리콘 다이오드 반도체 장치
  • DLA MIL-PRF-19500/730 A-2011 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키 다이오드, 이중 채널, 중앙 탭, 유형 1N7037CCU1, 1N7043CAT1, 1N7043CCT1, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/730 B-2013 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키 다이오드, 이중 채널, 중앙 탭, 유형 1N7037CCU1, 1N7043CAT1, 1N7043CCT1, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/737 A (1)-2010 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키, 듀얼, 센터 탭, 유형 1N7039CCT1, 1N7039CCU1 및 1N7047CCT3, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/737 A (2)-2013 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키, 듀얼, 센터 탭, 유형 1N7039CCT1, 1N7039CCU1 및 1N7047CCT3, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA SMD-5962-89877 REV C-2004 실리콘 모놀리식, RS232형 듀얼 트랜시버, 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-91554 REV A-1992 실리콘 모놀리식 8진 등록 트랜시버, 양극성 상보성 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로
  • DLA MIL-PRF-19500/730 VALID NOTICE 1-2011 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 쇼트키, 이중 채널, 중앙 탭, 유형 1N7037CCU1, 1N7043CAT1, 1N7043CCT1, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA MIL-PRF-19500/643 C (1)-2012 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 전력 정류기, 이중, 공통 음극 또는 양극 중앙 탭, 초고속, 유형 1N6766 및 1N6767, 1N6766R 및 1N6767R, JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA SMD-5962-88503 REV J-2003 실리콘 모놀리식 바이메탈 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터 드라이버 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-87640 REV B-2002 실리콘 모놀리식 바이폴라 금속 산화물 반도체 기술 인터럽트 인터페이스 래치 장치, 선형 마이크로 회로
  • DLA MIL-PRF-19500/642 D VALID NOTICE 1-2012 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 전력 정류기, 이중, 공통 음극 또는 양극 중앙 탭, 초고속, 유형 1N6762 ~ 1N6765 및 1N6762R ~ 1N6765R JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA SMD-5962-89551 REV A-2001 실리콘 모놀리식 듀얼 JK 포지티브 에지 트리거 고속 보완 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96815 REV A-2000 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 4중 2입력 전용 AND 게이트 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96618 REV B-1997 방사선 경질 보완 금속 산화물 반도체 이중 보완 추가 인버터 실리콘 모놀리식 회로 디지털 초소형 회로
  • DLA MIL-PRF-19500/644 A VALID NOTICE 2-2011 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 전력 정류기, 이중, 공통 음극 또는 양극 중앙 탭, 초고속, 유형 1N6768 ~ 1N6771 및 1N6768R ~ 1N6771R JAN, JANTX, JANTXV 및 JANS
  • DLA SMD-5962-94604 REV A-2002 실리콘 모놀리식, 듀얼 저전력 작동 스피커, 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-93180 REV A-2002 실리콘 모놀리식, 4중 단극 쌍투형 아날로그 스위치, 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-95842 REV A-2007 양극 상보성 금속 산화물 반도체 18비트 버스 수신기 쌍안정 멀티바이브레이터, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-87641-1988 실리콘 모놀리식 래칭 장치, 입력 밀봉, 양극 금속 산화물 반도체 기술 8비트, 선형 미세 회로
  • DLA SMD-5962-89657 REV B-2001 실리콘 모놀리식, 12비트 DC/AC 컨버터, 이중 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-93184 REV A-1993 실리콘 모놀리식, 듀얼 쿼드 전류 피드백 스피커, 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-89507 REV B-2000 실리콘 모놀리식 4양 스위치 고속 상보형 금속 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90741 REV B-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 3상태 입력 8진 버퍼 및 행 드라이브 라인 또는 금속 산화물 반도체 드라이버, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-90744 REV B-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터-트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 3상태 입력 10비트 버스 또는 금속 산화물 반도체 주 메모리 드라이버, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96747-1997 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 8비트 양방향 데이터 버스 스캔 경로 선택기 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95835-1995 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 팔각형 투명 클래스 D 3상태 출력 쌍안정 멀티바이브레이터, 트랜지스터 호환 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-89672 REV A-2001 실리콘 모놀리식, 듀얼 12비트 이중 버퍼 다중 산화물 반도체 디지털-아날로그 변환기, 선형 마이크로회로
  • DLA MIL-PRF-19500/516 E-2009 반도체 장치, 다이오드 실리콘, 양극 과도 전압 억제기, 유형 1N6102~1N6137, 1N6102A~1N6137A, 1N6138~1N6173, 1N6138A~1N6173A, 1 N6102US~1N6137us, 1N6102AUS~1N6137AUS, 1 N6138us ~ 1N61
  • DLA SMD-5962-91555 REV B-2006 3상태 입력, 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식 8진 트랜시버
  • DLA SMD-5962-93175 REV B-1999 순방향 3상태 출력, 16비트 버스 트랜시버, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식 칩
  • DLA MIL-PRF-19500/678 VALID NOTICE 2-2011 반도체 장치, 다이오드, 실리콘, 이중 쇼트키 센터 탭 전력 정류기, 표면 실장, 유형 1N6840U3 및 1N6841U3, JAN, JANTX, JANTXV, JANS
  • DLA SMD-5962-96761-1996 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 1~8행 클록 드라이버, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-03247 REV B-2005 듀얼 채널 광커플러 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터 전원 공급 장치용 선형 하이브리드 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90939 REV C-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 반전된 3상태 출력 및 행 구동 라인을 갖춘 8진 버퍼 또는 금속 산화물 반도체 드라이버, 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-94522 REV A-2001 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력 및 출력, 프로그래밍 가능 저왜곡 클록 드라이버, 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96685 REV C-2003 방사선 경질 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 3.3V 16BIT 버퍼 또는 드라이버, 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-92314 REV C-1997 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 이중 활성화 및 3상태 출력을 갖춘 8비트 래치형 트랜시버, 향상된 양극 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95813 REV F-2008 이중 극 이중 연결 아날로그 스위치가 있는 방사선 경화 상보성 금속 산화물 반도체 구조로 구성된 선형 단일 실리콘 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-95831 REV D-2007 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 3.3V 팔각형 트리거 클래스 D 삼상태 출력 쌍안정 멀티바이브레이터, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95832 REV C-2003 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 3.3V 팔각형 트리거 클래스 D 삼상태 출력 쌍안정 멀티바이브레이터, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-87763 REV A-2004 실리콘 모놀리식 디지털-아날로그 변환기 듀얼 12비트 상보형 금속 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96812 REV A-2003 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 10비트 스캔 포트 멀티 드롭 표준 1149.1 수신기, 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95841 REV A-2007 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 16비트 버스 수신기 및 3상태 출력 레지스터, 트랜지스터 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96753 REV A-1999 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 타이밍 및 대기 상태 발생기 회로, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96768 REV A-2003 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 쿼드 버스 3상태 출력 버퍼, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96808 REV B-2003 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 16비트 3포트 버스 3상태 출력 변환기, 트랜지스터 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-97527 REV A-2003 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 10비트 버스 3상태 출력 변경 및 변환, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96861 REV A-1997 상보형 금속 산화물 반도체, 이중 포지티브 트리거 클래스 D 쌍안정 멀티바이브레이터, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-94508 REV A-2000 3상태 출력, TTL 호환 입력 9비트 버스 인터페이스 쌍안정 멀티바이브레이터, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-94528 REV B-2003 3상태 출력, TTL 호환 입력 16비트 버스 인터페이스 쌍안정 멀티바이브레이터, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-90747 REV B-1995 실리콘 모놀리식 8진수 D형 에지 트리거 플립플롭, 트랜지스터-트랜지스터 로직 호환, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-94671 REV A-2007 디지털 고급 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 18비트 무선 송수신기 자율 자동 항법 시스템, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-94672 REV A-2007 디지털 고급 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 18비트 버스 인터페이스 및 쌍안정 멀티바이브레이터 변환 출력 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-91726-1994 실리콘 모놀리식 3상태 출력, 8진 버퍼가 포함된 스캔 테스트 세트, 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-90514 REV A-2006 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 3상태 출력을 갖춘 8비트 버스 트랜시버, 고속 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96697-1996 방사선 경화 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 18비트 3상태 출력 버스 스위칭 스위치, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96746 REV A-2003 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 8비트 ~ 9비트 3상태 출력 버스 트랜시버, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96748 REV D-1999 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 3.3V 팔각형 버스 수신기 및 레지스터, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96849 REV A-2000 양극 상보성 금속 산화물 반도체 3.3V 16비트 3상태 출력 등록 변환기, 트랜지스터 호환 가능 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95836-1995 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 팔각형 트리거 클래스 D 삼중 턴테이블 출력 래치 장치, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-91533 REV A-1994 실리콘 모놀리식 고성능 이중 스위치 커패시터 필터, 상보성 금속 산화물 반도체, 선형 미세 회로
  • DLA SMD-5962-88520 REV E-2007 실리콘 모놀리식 듀얼 D형 포지티브 에지 플립플롭 상보형 금속 산화물 반도체로 디지털 마이크로회로 구현
  • DLA SMD-5962-92148 REV D-1999 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 3상태 출력을 갖춘 8진 수신기, 고급 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-95576 REV A-1996 고급 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 36비트 3상태 출력, 통합 버스 라디오 수신기, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-95577 REV A-1996 고급 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 36비트 3상태 출력, 통합 버스 라디오 수신기, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90516 REV B-2006 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 3상태 출력을 갖춘 8비트 D형 에지 트리거 쌍안정 멀티바이브레이터, 고속 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-93147 REV A-2007 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 3상태 출력을 갖춘 8비트 에지 트리거 D형 쌍안정 멀티바이브레이터, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-93148 REV A-1995 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 클록 활성화 기능이 있는 8비트 에지 트리거 D형 쌍안정 멀티바이브레이터, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-93149 REV C-2007 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 3상태 출력을 갖춘 8비트 에지 트리거 D형 쌍안정 멀티바이브레이터, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-93201 REV B-1997 3상태 출력, TTL 호환 입력 16비트 에지 트리거 D형 쌍안정 멀티바이브레이터, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-91553 REV A-2006 3상태 출력, 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식 옥탈 버스 수신기 및 자동 레코더
  • DLA SMD-5962-91746-1994 실리콘 모놀리식 역삼상 출력, 8진 버퍼가 포함된 스캔 테스트 세트, 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-90625 REV A-2006 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 3상태 출력을 갖춘 8비트 버퍼 및 라인 드라이버, 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-93227 REV D-2000 3상태 출력, TTL 호환 입력 8비트 버퍼/드라이버, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-96686 REV C-2003 방사선 경화 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 3.3V 16비트 3상태 출력 버스 트랜시버, 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-89671 REV B-2002 실리콘 모놀리식, 듀얼 12비트 버퍼 다중 산화물 반도체 DC/AC 컨버터, 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95590 REV A-1996 고급 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 16비트 버스 3상태 출력 무선 송수신기, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96769 REV A-1998 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 10비트 버스 인터페이스 클래스 D 3상태 출력 래칭 장치, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96810 REV B-1998 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 3.3V 16비트 투명 3상태 출력 클래스 D 래칭 장치, 트랜지스터 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95712 REV A-2007 양극 상보형 금속 산화물 반도체 3상태 출력 9비트 버스 인터페이스 클래스 D 래칭 장치, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-91725-1994 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 출력, 8진 D-스톱이 있는 스캐닝 테스트 세트, 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95578 REV A-1996 고급 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 36비트 3상태 출력, 등록된 통합 버스 라디오 수신기, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90743 REV A-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터-트랜지스터 논리 회로는 3상태 입력 8진수 버퍼 및 행 드라이브 라인과 호환 가능한 입력, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-90750 REV A-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 반전된 3상태 입력이 있는 8진 버스 수신기, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90752 REV A-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 반전된 3상태 입력이 있는 8진 버스 수신기, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90940 REV A-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 반전된 3상태 출력을 갖춘 8진 버스 수신기, 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-94501 REV A-1998 실리콘 모놀리식, 포지티브 3상태 출력, TTL 호환 입력 16비트 버퍼/드라이버, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로 장착
  • DLA SMD-5962-94509 REV A-2001 실리콘 모놀리식, 순방향 3상태 출력, TTL 호환 입력 10비트 버퍼/드라이버, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로 회로 장착
  • DLA SMD-5962-94618 REV A-2007 순방향 3상태 출력, TTL 호환 입력 8비트 버스 트랜시버, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-92147 REV B-1998 비반전 3상태 출력, 고급 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식 8진수 버퍼 또는 드라이버
  • DLA SMD-5962-93086 REV A-1996 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 3상태 출력을 갖춘 8비트 버스 트랜시버 및 레지스터, 개선된 양극 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-93174 REV D-2003 실리콘 모놀리식, 포지티브 3상태 출력, TTL 호환 입력 16비트 버퍼/드라이버, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로 장착
  • DLA SMD-5962-93188 REV B-1995 반전된 3상태 출력, TTL 호환 입력 8비트 버퍼/드라이버, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로 회로가 장착된 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-93199 REV B-1999 반전된 3상태 출력, TTL 호환 입력 16비트 버퍼/드라이버, 수정된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로가 장착된 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-93218 REV B-2000 3상태 출력, TTL 호환 입력 8비트 투명 D형 래치, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-93219 REV B-2000 3상태 출력, TTL 호환 입력 8비트 투명 D형 래치, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-93241 REV B-2000 역삼상태 출력, TTL 호환 입력 16비트 래치 트랜시버, 개선된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-96862 REV A-2008 고속 상보성 금속 산화물 반도체 구조, 3상태 출력을 갖춘 쿼드 버스 버퍼 게이트로 구성된 고급 바이폴라 디지털 단일 실리콘 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96868 REV A-2008 고속 상보성 금속 산화물 반도체 구조, 3상태 출력을 갖춘 쿼드 버스 버퍼 게이트로 구성된 고급 바이폴라 디지털 단일 실리콘 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-95844 REV F-2003 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 3.3V 비반전 팔각형 버퍼 또는 삼상태 출력 드라이버, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96811 REV A-1999 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 3.3V 18비트 버스 3상태 출력 수신기 스캔 모니터링 장치, 트랜지스터 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-94698-1996 디지털 고급 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 18비트 무선 송수신기 및 레지스터 자율 항법 시스템, 변환 출력 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90742 REV A-2006 반전된 3상태 입력 8진수 버퍼 및 행 드라이브 라인, 양극성 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로를 갖춘 실리콘 모놀리식 트랜지스터-트랜지스터 논리 회로 호환 입력
  • DLA SMD-5962-90746 REV B-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터 - 트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 3상태 입력 8진 D형 보기 쉬운 정지 핀, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-90748 REV A-2006 반전된 3상태 입력 8진수 버퍼 및 행 드라이브 라인, 양극성 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로를 갖춘 실리콘 모놀리식 트랜지스터-트랜지스터 논리 회로 호환 입력
  • DLA SMD-5962-90870 REV A-2006 실리콘 모놀리식 트랜지스터-트랜지스터 논리 회로 호환 입력, 3상태 출력 8진 표기법을 갖춘 무선 트랜시버, 양극 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-91724 REV A-2008 트랜지스터-트랜지스터 로직과 호환되는 옥탈 버스 트랜시버와 3개의 출력 레지스터를 갖춘 양극 상보성 금속 산화물 반도체 구조로 구성된 디지털 단일 실리콘 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-88765 REV B-2002 실리콘 모놀리식 듀얼 12비트 아날로그 변환기 마이크로프로세서 호환 보완적 금속 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-93242 REV B-2001 역삼상태 출력, TTL 호환 입력 16비트 트랜시버 및 래치, 향상된 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로를 갖춘 실리콘 모놀리식
  • DLA SMD-5962-94718 REV B-1997 고급 양극 상보성 금속 산화물 반도체, 옥탈 버퍼 또는 드라이버 증폭기, 3상태 출력 및 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 양극성 자기 반도체

Professional Standard - Machinery, 양극성 자기 반도체

  • JB/T 6307.4-1992 전력 반도체 모듈 테스트 방법 바이폴라 트랜지스터 암 및 암 쌍
  • JB/T 6307.5-1994 전력 반도체 모듈 테스트 방법 바이폴라 트랜지스터 단상 브리지 및 3상 브리지

RO-ASRO, 양극성 자기 반도체

  • STAS 12124/1-1982 반도체 장비. 바이폴라 트랜지스터. 전기적 정적 매개변수를 측정하는 방법
  • STAS 7128/2-1986 반도체 장비 및 집적 회로 매개변수 기호. 바이폴라 트랜지스터 기호
  • STAS 12258/2-1984 광전자 반도체 장치. 포토다이오드 용어 및 기본 특성
  • STAS 12258/4-1986 광전자 반도체 장비. 발광 다이오드 용어 및 주요 특징
  • STAS 12123/1-1982 반도체소자 정류다이오드의 전기적 및 열적 특성을 측정하는 방법
  • STAS 12123/4-1984 반도체소자용 가변용량 다이오드의 전기적 특성 측정방법
  • STAS 12258/6-1987 광전자 반도체 장치. 적외선 방출 다이오드 용어 및 기본 특성
  • STAS 12123/3-1983 반도체 소자용 전압 기준 다이오드 및 전압 조정 다이오드의 전기적 특성 측정 방법
  • STAS 12123/2-1983 스위칭 다이오드를 포함한 반도체 소자용 저전력 신호 다이오드의 전기적 특성 측정 방법

Danish Standards Foundation, 양극성 자기 반도체

  • DS/IEC 747-7-2:1990 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 2: 저주파 증폭을 위한 환경적으로 평가된 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양.
  • DS/IEC 747-7-3:1993 반도체 장치. 개별 장치. 7부: 바이폴라 트랜지스터. 섹션 3: 변환용 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • DS/IEC 747-7-4:1993 반도체 장치. 개별 장치. 7부: 바이폴라 트랜지스터. 섹션 4: 고주파 증폭기 케이스 정격 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
  • DS/IEC 747-7:1990 국제전기기술위원회(International Electrotechnical Commission) IEC 표준 번호 747-7-1988: 반도체 장치. 개별 장치. 7부: 양극성 트랜지스터
  • DS/IEC 747-7-1:1990 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 섹션 1: 저주파 및 고주파 증폭을 위한 환경 친화적인 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양.
  • DS/IEC 747-7:1992 국제전기기술위원회(International Electrotechnical Commission) IEC 표준 번호 747-7-1988 및 부록 번호. 1-1991 반도체 장치. 개별 장치. 7부: 양극성 트랜지스터

German Institute for Standardization, 양극성 자기 반도체

Professional Standard - Electron, 양극성 자기 반도체

  • SJ 50033/146-2000 반도체 개별 장치 유형 3DA601 C-대역 실리콘 양극 전력 트랜지스터에 대한 세부 사양
  • SJ 50033/162-2003 반도체 개별 장치 2CW1022 유형 실리콘 양방향 전압 조정 다이오드 세부 사양
  • SJ 50033/99-1995 반도체 광전자소자 GF511 주황색/녹색 이중색상 발광다이오드 상세사양
  • SJ/T 10740-1996 반도체 집적 회로 바이폴라 랜덤 액세스 메모리 테스트 방법의 기본 원리
  • SJ 2658.11-1986 반도체 적외선 발광 다이오드의 시험 방법, 임펄스 응답 특성의 시험 방법

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 양극성 자기 반도체

AT-OVE/ON, 양극성 자기 반도체

  • OVE EN IEC 63275-2:2021 반도체 장치 - 탄화규소 이산 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터의 신뢰성 테스트 방법 - 2부: 바디 다이오드 작동으로 인한 양극성 저하 테스트 방법(IEC 47/2680/CDV)(영어 버전)

未注明发布机构, 양극성 자기 반도체

  • BS IEC 60747-7-5:2005 반도체 장치 - 개별 장치 7-5부: 전력 스위칭 응용 분야용 양극 트랜지스터

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 양극성 자기 반도체

  • QC 750104-1991 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 파트 3 스위칭 애플리케이션용 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양(IEC 747-7-3 ED 1)
  • QC 750103-1989 반도체 장치 개별 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터 2부 저주파 증폭용 케이스 등급 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양(IEC 747-7-2 ED 1)
  • QC 750102-1989 반도체 장치 개별 장치 파트 7: 바이폴라 트랜지스터 파트 1 저주파 및 고주파 증폭을 위한 환경적으로 평가된 바이폴라 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양(IEC 747-7-1 ED 1)
  • QC 750107-1991 반도체 장치 개별 장치 7부: 바이폴라 트랜지스터 섹션 4 고주파 증폭용 케이스 등급 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양(IEC 747-7-4 ED 1)
  • QC 750105-1986 반도체 장비, 개별 장치 3부: 신호(스위치 포함) 및 제너 다이오드 섹션 온도 보상 정밀 기준 다이오드를 제외한 전압 조정 다이오드 및 전압 기준 다이오드에 대한 이중 공백 세부 사양(IEC)

IN-BIS, 양극성 자기 반도체

  • IS 3700 Pt.11-1984 반도체소자의 기본정격 및 특성 제11부 발광다이오드
  • IS 3700 Pt.9-1972 반도체 장치의 기본 정격 및 특성 Part IX 가변 용량 다이오드
  • IS 3700 Pt.7-1970 반도체 소자의 기본정격 및 특성 Part Ⅶ 역차단 삼극관 및 사이리스터
  • IS 3700 Pt.8-1970 반도체 장치의 기본 정격 및 특성 8부 전압 조정기 및 전압 기준 다이오드

RU-GOST R, 양극성 자기 반도체

  • GOST 26169-1984 무선 전자 장비의 전자기 호환성 고전력 및 고주파 선형 바이폴라 트랜지스터의 조합 계수에 대한 사양
  • GOST 28900-1991 페라이트 자성재료 부품의 기계적 결함 한계를 위한 기술조건 마련을 위한 지침
  • GOST R 8.842-2013 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 반도체 방출 다이오드의 방사 전력을 측정하는 장비 검증 절차
  • GOST R 8.843-2013 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 반도체 방출 다이오드의 방사 전력을 측정하는 장비 검증 절차
  • GOST R 50638-1994 산업 장비의 전자파 적합성 반도체 마이크로파 진동 장치 및 모듈 EMC 매개변수 표 및 요구 사항 측정 방법

Association Francaise de Normalisation, 양극성 자기 반도체

  • NF C96-017:2020 반도체 장치 17부: 기본 절연 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러
  • NF C96-047*NF EN IEC 60747-17:2020 반도체 장비 부품 17: 기본 절연 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러

PH-BPS, 양극성 자기 반도체

  • PNS IEC 62047-28:2021 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 28부: 진동 구동 MEMS 일렉트릿 에너지 하베스팅 장치의 성능 테스트 방법

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 양극성 자기 반도체

  • CNS 6121-1988 단일 반도체 소자의 환경검사 방법 및 내구성 검사방법 – 정류다이오드의 연속통전시험
  • CNS 5539-1988 단일 반도체 소자의 환경검사 방법 및 내구성 검사방법 - 제너다이오드 연속동작 시험
  • CNS 6119-1988 단일 반도체 소자의 환경검사 방법 및 내구성 검사방법 - 정류다이오드 연속동작 시험
  • CNS 6125-1988 단일 반도체 소자의 환경검사 방법 및 내구성 검사방법 – 정류다이오드의 고온 통전시험
  • CNS 6123-1988 단일 반도체 소자의 환경검사 방법 및 내구성 검사 방법 - 정류다이오드의 간헐 통전 시험
  • CNS 5538-1988 단일 반도체 소자의 환경 검사 방법 및 내구성 검사 방법 – 소신호 다이오드의 연속 동작 테스트

Lithuanian Standards Office , 양극성 자기 반도체

  • LST EN IEC 60747-17/AC:2021 반도체 장비 파트 17: 기본 및 강화 절연을 위한 자기 및 용량성 커플러(IEC 60747-17:2020/COR1:2021)




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