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半導体試験装置

半導体試験装置は全部で 8 項標準に関連している。

半導体試験装置 国際標準分類において、これらの分類：半導体ディスクリートデバイス、 電気、磁気、電気および磁気測定、 原子力工学、 分析化学。

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 半導体試験装置

• JEDEC JESD22-B108A-2003 表面実装半導体機器のコプラナリティ試験

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 半導体試験装置

• JJG(电子) 310002-2006 半導体ディスクリートデバイス用DCパラメータテスタの校正手順
• JJG(电子) 310003-2006 半導体ディスクリートデバイス用容量パラメータテスターの校正手順

International Electrotechnical Commission (IEC), 半導体試験装置

• IEC 60333:1993 原子力機器半導体荷電粒子検出器のテスト手順

SE-SIS, 半導体試験装置

• SIS SS IEC 333:1986 核実験装置。 半導体荷電粒子検出器の試験手順

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導体試験装置

• GB/T 13974-1992 半導体チューブ特性図形測定器試験方法
• GB/T 20726-2006 半導体検出器X線分光器の一般原理
• GB/T 11685-2003 半導体X線検出器システムおよび半導体X線エネルギー分析装置の測定方法

その他：   半導体試験装置, 試験装置, 機器のテスト, ++++半導体テスト手順, 半導体のテスト手順, 半導体試験装置, 半導体検査, 半導体検査, 半導体機器, 半導体機器, 半導体装置, パワー半導体試験, 半導体試験装置, 半導体装置, 半導体装置, 半導体テスト技術, 半導体の分析と試験, 半導体テストの原理, 半導体テスト分析, 機器のテスト.