ZH
EN
ES

одиночный чип

одиночный чип, Всего: 51 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к одиночный чип, являются: Полупроводниковые материалы, Цветные металлы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Словари, Испытание металлов, Установки в зданиях, Солнечная энергетика.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, одиночный чип

GB/T 15713-1995 Срезы монокристаллического германия
GB/T 5238-2009 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 5238-2009(英文版) Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 30866-2014 Метод испытаний для измерения диаметра пластин монокристаллического карбида кремния
GB/T 32278-2015 Метод испытания плоскостности одиночной пластины карбида кремния
GB/T 30867-2014 Метод испытаний для измерения толщины и изменения общей толщины пластин монокристаллического карбида кремния
GB/T 30868-2014 Метод испытаний для измерения плотности микротрубок пластин монокристаллического карбида кремния. Химическое травление.
GB/T 12964-2003 Полированные пластины монокристаллического кремния.
GB/T 29506-2013 Пластины полированного монокристаллического кремния диаметром 300 мм.
GB/T 30656-2014 Полированные пластины монокристаллического карбида кремния.
GB/T 30656-2023 Монокристаллическая полированная пластина карбида кремния
GB/T 12965-1996 Монокристаллический кремний в виде нарезанных и притертых срезов.
GB/T 12965-2005 Монокристаллический кремний, нарезанный ломтиками и притертый ломтик

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, одиночный чип

GB/T 5238-2019 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 26071-2018 Монокристаллические кремниевые пластины для солнечных элементов.
GB/T 12964-2018 Полированные пластины монокристаллического кремния.
GB/T 26069-2022 Отожженные пластины монокристаллического кремния
GB/T 12965-2018 Монокристаллический кремний в виде нарезанных и притертых пластин.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, одиночный чип

GJB 2917-1997 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
GJB 3076A-2021 Спецификация одного чипа на основе фосфида галлия
GJB 3076-1997 Спецификация одного чипа на основе фосфида галлия
GJB 2917A-2018 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
GJB 2917A-2004 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
GJB 2918-1997 Спецификация для монолитов из плавленого кремния с высоким сопротивлением детекторного класса
GJB 1944A-2017 Спецификация монокристаллов кремния для космических солнечных элементов
GJB 2452-1995 Спецификация на монокристаллические пластины теллурида кадмия для инфракрасных детекторов
GJB 757-1989 Большой одиночный чип из синтетической слюды для радиолокационных микроволновых устройств

Professional Standard - Electron, одиночный чип

SJ 20640-1997 Спецификация на срезы монокристаллов антимонида индия для использования в инфракрасных детекторах
SJ 20750-1999 Спецификация на радиационно-стойкие монокристаллические кремниевые пластины для военных КМОП-интегральных схем
SJ 2572-1985 Кремниевые монокристаллические стержни и листы для солнечных батарей.
SJ 3241-1989 Монокристаллический стержень и пластина арсенида галлия
SJ 3243-1989 Монокристаллические бруски и пластины фосфида индия

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), одиночный чип

JIS H 0612:1975 Методы испытаний удельного сопротивления пластин монокристаллического кремния четырехточечным зондом

Association Francaise de Normalisation, одиночный чип

NF C93-616:2006 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, одиночный чип

DB13/T 1314-2010 Квадратный стержень из монокристаллического кремния солнечного качества, пластина из монокристаллического кремния
DB13/T 1828-2013 Монокристаллическая кремниевая пластина солнечного качества

Group Standards of the People's Republic of China, одиночный чип

T/IAWBS 013-2019 Метод измерения удельного сопротивления полуизолирующей подложки из карбида кремния
T/IAWBS 017-2022 Метод испытаний на полную ширину на половине высоты кривой рентгеновского качания двойного кристалла монокристаллической алмазной подложки
T/IAWBS 015-2021 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Метод рентгеновского испытания кривой качания двойного кристалла на полувысоте для одиночной пластины карбида кремния
T/IAWBS 011-2019 Методы испытаний измерения удельного сопротивления проводящих пластин карбида кремния бесконтактным вихретоковым датчиком
T/ZZB 0497-2018 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах
T/SZBX 118-2023 Монокристаллические кремниевые пластины для солнечных элементов.
T/CEC 290-2019 Технические требования к монокристаллической пластине с задним контактом
T/ZZB 2675-2022 Монокристаллический кремний в виде притертых пластин для ТВС.

International Electrotechnical Commission (IEC), одиночный чип

IEC PAS 62276:2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройства на поверхностных акустических волнах. Технические характеристики и метод измерения

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, одиночный чип

GB/T 34481-2017 Метод испытаний для измерения плотности ямок травления (EPD) в срезах монокристаллического германия с низкой плотностью дислокаций

Professional Standard - Non-ferrous Metal, одиночный чип

YS/T 1167-2016 Травленые пластины монокристаллического кремния

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, одиночный чип

DB61/T 512-2011 Правила проверки пластин монокристаллического кремния для солнечных элементов

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, одиночный чип

YB 1603-1983 Отрезные и шлифовальные диски из монокристалла кремния.

UNKNOWN, одиночный чип

YB 1603-83 Отрезные и шлифовальные диски из монокристалла кремния.