GB/T 5252-2006
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
Germanium monocrystal.Inspection of dislocation etch pit density
GBT5252-2006, GB5252-2006
2021-05
GB/T 5252-2006 发布历史
GB/T 5252-2006由国家质检总局 CN-GB 发布于 2006-07-18，并于 2006-11-01 实施，于 2021-04-01 废止。
GB/T 5252-2006 在中国标准分类中归属于: H17 半金属及半导体材料分析方法，在国际标准分类中归属于: 77.040.01 金属材料试验综合。
GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 5252-2020 。
GB/T 5252-2006的历代版本如下：
- 2020年 GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
- 2006年 GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
- 1985年 GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
本标准适用于位错密度0cm～100000cm的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为（111）、（100）和（113）面。
- 标准号
- GB/T 5252-2006
- 别名
- GBT5252-2006
GB5252-2006 - 发布
- 2006年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 5252-2020
- 当前最新
- GB/T 5252-2020
- 被代替标准
- GB/T 5252-1985