ASTM E673-03
与表面分析相关的标准术语
Standard Terminology Relating to Surface Analysis
2012-01
ASTM E673-03 发布历史
ASTM E673-03由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2003，于 2012-01-01 废止。
ASTM E673-03 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 01.040.17 计量学和测量、物理现象 (词汇),17.040.20 表面特征。
ASTM E673-03的历代版本如下：
- 2003年 ASTM E673-03 与表面分析相关的标准术语
- 2002年 ASTM E673-02b 与表面分析相关的标准术语
- 2002年 ASTM E673-02a 与表面分析相关的标准术语
- 2002年 ASTM E673-02 与表面分析相关的标准术语
- 2001年 ASTM E673-01 与表面分析相关的标准术语
- 1998年 ASTM E673-98E1 与表面分析相关的标准术语
1.1 该术语与表面分析涉及的各个学科相关。
1.2 列出的定义适用于 (a) 俄歇电子能谱 (AES)、(b) X 射线光电子能谱 (XPS)、(c) 离子散射能谱 ( ISS）、（d）二次离子质谱（SIMS）和（e）高能离子分析（EIA）。
谁引用了ASTM E673-03 更多引用
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