关注公众号

关注公众号

手机扫码查看

手机查看

FAMT 2022会议邀请: 失效分析和材料测试会议

Park原子力显微镜
2022.7.19


186eccbcc31de809b37a73c0d1a343df.png


95f90db1251b5d822e0a33a1f2c4bb4c.jpeg



FAMT 2022

Failure Analysis & Material Testing

失效分析和材料测试会议

98788d3d5f675fc7b29d8313b945383e.png


7月22日Fraunhofer IISB和Park原子力显微镜将联合在德国举办第二届失效分析和材料测试会议(FAMT 2022),本次会议将会在线上和线下同时举行。本次会议聚集了电子行业的专业人士,讨论纳米级的创新测试方法和未来物理故障分析的工具。

具体活动时间

日期:2022/7/22

北京时间14:00-21:00

线上ZOOM会议(免费注册后将发送ZOOM会议链接到您的邮箱)

线下地址:Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, Erlangen, Germany德国埃尔朗根




01.

邀请嘉宾CONFERENCE


5f00d9c79031f6d7f93d3d5b6500bba4.jpeg

Dr. Dongchul Ihm

韩国三星电子


报告题目:用于先进半导体制造的 SPM 应用

0f90b393a4108a0ae190228ab19c511c.jpeg

Dr. Jürgen Leib

德国Fraunhofer IISB


报告题目:功率半导体的寿命测试——电气和热机械评估


ad450161201256d852e75318f5a57fd6.jpeg


Nicholas Antoniou


美国PrimeNano公司


报告题目:用于电子材料 FA 和表征的扫描微波阻抗显微镜 (sMIM)


b0ab6a8dc515b171fb203f2a5bb109eb.jpeg

Alexander Klasen

Park Systems (Park原子力显微镜)


报告题目:显微镜的“瑞士军刀”- 原子力显微镜作为一种多功能工具,可在纳米范围内对电子和机械特性进行成像



1d2ffd03db2fcbb24e53296bc37b9685.jpeg

Dr. Albert Minj

比利时imec


报告题目:启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件



a3ee9a02f2afa27dcc6b8e2193cb393d.jpeg

Prof. Silke Christiansen

德国弗劳恩霍夫陶瓷技术和系统研究所 (Fraunhofer IKTS)


报告题目:用于推进半导体器件的背景显微镜和光谱学——通过 nanoGPS 技术与大量其他分析技术相关联的导电 AFM



23f17eb52f0207a17b07489308e7081f.jpeg

Derek Nowak, Ph.D.

美国Molecular Vista


报告题目:使用 Nano-IR PiFM 对亚 20 nm 缺陷进行化学鉴定



2ee6c511ccc595ff67175a2593a446ee.png

Nicholas Randall

瑞士Alemnis AG


报告题目:用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最新创新




02.

日程安排CONFERENCE

北京时间下午

14:00 - 14:15 欢迎致辞

Tobias Erlbacher (德国弗劳恩霍夫集成系统与器件技术研究所 IISB 半导体器件部门负责人)


分享嘉宾:

三星半导体 Dr. Dongchul Ihm


14:20 - 14:45 

用于先进半导体制造的 SPM 应用


分享嘉宾:

比利时imec Dr. Albert Minj


14:50 - 15:15 启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件


分享嘉宾:Prof. Silke Christiansen


15:20 - 15:45 用于推进半导体器件的背景显微镜和光谱学——通过 nanoGPS 技术与大量其他分析技术相关联的导电 AFM



15:50 - 16:00    Discussion Panel

分享嘉宾:

Park原子力显微镜 

Alexander Klasen


16:20 - 16:45 

显微镜的“瑞士军刀”- 原子力显微镜作为一种多功能工具,可在纳米范围内对电子和机械特性进行成像

分享嘉宾:

Dr. Jürgen Leib


16:50 - 17:15 功率半导体的寿命测试——电气和热机械评估

分享嘉宾:

Nicholas Randall


17:20 - 17:45 用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最新创新


17:50 - 18:10       Discussion Panel




北京时间晚上

分享嘉宾:美国Molecular Vista Derek Nowak, Ph.D


18:20 - 18:45 使用 Nano-IR PiFM 对亚 20 nm 缺陷进行化学鉴定


分享嘉宾:美国PrimeNano Inc.

Nicholas Antoniou


18:50 - 19:15 用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最新创新




03.

报名方式CONFERENCE



长按识别二维码立即报名参加


4b4977d76d718a4ac80d8cffdb5aec25.jpeg




186eccbcc31de809b37a73c0d1a343df.png




400-878-6829

www.parksystems.cn


Park北京分公司

北京市海淀区彩和坊路8号天创科技大厦518室 


Park上海实验室

上海市申长路518号虹桥绿谷C座305号


Park广州实验室

广州市天河区五山路200号天河北文创苑B座211





推荐
关闭