YS/T 23-1992
硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
Stacking Fault Size Method for Determination of Silicon Epitaxial Layer Thickness
YST23-1992, YS23-1992
2016-09
YS/T 23-1992 中，可能用到以下仪器设备
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176. stacking fault:堆垛层错，原子普通堆积规律的背离产生的2次空间错误。177. steam bath:蒸汽浴，一个大气压下，流动蒸汽或其他温度热源的暴光。178. step response time:瞬态特性时间，大多数流量控制器实验中，普通变化时段到气流刚 到达特定地带的那个时刻之间的时间。...
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