它比较适合于定性测量,不能精确测定微小结构在纵向的尺寸。此外,它的电子束还会使某些对电子束敏感的样品产生辐射损伤。 ⑤扫描探针显微镜: 扫描探针显微镜是借助于探测样品与探针之间存在的各种相互作用所表现出的各种不同特性来实现测量的。依据这些特性,目前已开发出各种各样的扫描探针显微镜SPM。...
它比较适合于定性测量,不能精确测定微小结构在纵向的尺寸。此外,它的电子束还会使某些对电子束敏感的样品产生辐射损伤。 ⑤扫描探针显微镜: 扫描探针显微镜是借助于探测样品与探针之间存在的各种相互作用所表现出的各种不同特性来实现测量的。依据这些特性,目前已开发出各种各样的扫描探针显微镜SPM。...
AFM的探测力非常微弱,在10-6~10-9N之间,不会使表面产生变形和损害。在最初的发展阶段,SPM被重点用于描绘被测量的表面,通过对这种描绘所观测到的各种物理现象进行分析研究,使得人们获得了重要的新的表面科学知识。但用这种描绘不能获得更加准确、具有测量不确定度的计量意义的科学数据,而目前不论科学领域的研究还是工业上的需要,都迫切希望SPM能作为一种定量的计量型显微镜。...
因此,扫描探针显微镜对样品表面的粗糙度有较高的要求;由于系统是通过检测探针对样品进行扫描时的运动轨迹来推知其表面形貌,因此,探针的几何宽度、曲率半径及各向异性都会引起成像的失真(采用探针重建可以部分克服)扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜(scanningtunnelingmicroscope,STM)扫描隧道显微镜的英文缩写是STM。这是20世纪80年代初期出现的一种新型表面分析工具。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号