ASTM E2244-11由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2011-11-01。
ASTM E2244-11在国际标准分类中归属于: 37.040.20 相纸、胶卷和暗盒。
面内长度测量用于参数计算,例如残余应变和杨氏模量。特定测试结构需要进行面内偏转测量。包括残余应变在内的参数是根据这些面内偏转测量来计算的。
1.1 本测试方法涵盖了测量图案化薄膜的面内长度(包括偏转)的程序。它仅适用于薄膜,例如微机电系统 (MEMS) 材料中的薄膜,可以使用光学干涉仪对其进行成像。
1.2 还有其他方法可以确定面内长度。使用设计尺寸通常比使用光学干涉仪进行的测量提供更精确的面内长度值。 (干涉测量通常比使用光学显微镜进行的测量更精确。)该测试方法适用于当干涉测量优于使用设计尺寸时(例如,测量面内偏转时以及在未经证实的情况下测量长度时)。制造过程)。
1.3 该测试方法使用非接触式光学干涉仪,能够获取地形 3-D 数据集。它是在实验室中进行的。
1.4 测量的最大面内长度由干涉仪在最低放大倍率下的最大视场决定。测量的最小偏转由最高放大倍率下的干涉仪像素间间距决定。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
n21:样品的折射率n2与内反射元件的折射率n1的比值; λ1=λ/n1,为红外光在内反射元件中的波长。 操作规范 (1)光滑柔软的样品,如橡胶,薄膜,柔软基底上的涂料等等,使用微小的压力就可以良好接触,因此只需要样品的一小部分面积将就可以得到谱图。(2)对于粘性固体,半固体,糊状物,将它们放在内反射元件(IRE)晶体上,就可以得到良好的物理及光学接触。 ...
激光损伤阈值测试05在LAYERTEC可以使用符合ISO标准和我们自己的程序进行LIDT测试(详见第37页和第38页)。可用的波长包括266纳米、355纳米、532纳米和1064纳米,脉冲持续时间为4-10纳秒。其他LIDT测试条件的测量是与汉诺威激光中心(LZH)合作进行的。此外,我们还可以在内部测量光学薄膜和块材料的吸收率。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号