IEC 60749-38-2008
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第38部分:具有存储器的半导体器件的软错误测试方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

 

 

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标准号
IEC 60749-38-2008
发布
2008年
发布单位
国际电工委员会
 
 

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