ASTM E1078-97由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1997-09-10。
ASTM E1078-97在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
1.1 本指南涵盖表面分析之前、期间和之后的样品制备和安装。
1.2 本指南适用于以下表面分析学科:
1.2.1 俄歇电子能谱(AES), 1.2.2 X 射线光电子能谱(XPS 或 ESCA),和 1.2.3 二次离子质谱,SIMS。
1.2.4 虽然主要针对 AES、XPS 和 SIMS 编写,但方法也适用于许多表面敏感分析方法,例如离子散射光谱法、低能电子衍射和电子能量损失光谱法,其中样品处理会影响表面敏感测量。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
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