KS C IEC 60749-4-2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热 稳态 高加速应力测试（HAST）已作废

Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 4: Damp heat, steady state,highly accelerated stress test(HAST)

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标准号

KS C IEC 60749-4-2020

发布日期

2020年07月23日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

KR-KS

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