DIN 50452-1:1995
半导体工艺用材料的检验.液体中粒子分析的试验方法.第1部分:粒子的显微镜测定

Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles


DIN 50452-1:1995 中,可能用到以下仪器

 

DM4 M徕卡材料/金相显微镜 应用于电子/半导体

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材料/金相显微镜Leica DM3 XL徕卡 应用于电子/半导体

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Leica DM3 XL徕卡材料/金相显微镜 应用于电子/半导体

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材料/金相显微镜徕卡Leica DM 4000M  应用于电子/半导体

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材料/金相显微镜DVM6徕卡 应用于电子/半导体

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材料/金相显微镜徕卡Leica DM2700M  应用于电子/半导体

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DIN 50452-1:1995

标准号
DIN 50452-1:1995
发布
1995年
发布单位
德国标准化学会
替代标准
DIN 50452-1:1995-11
当前最新
DIN 50452-1:1995-11
 
 
被代替标准
DIN 50452-1:1988
该方法包括通过显微计数测定膜过滤器上分离的液体中颗粒物污染的浓度。范围仅限于5μ及以上的施胶颗粒。

DIN 50452-1:1995相似标准


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