ANSI/IEEE 300:1988
半导体带电粒子检测器的试验程序
Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
ANSI/IEEE 300:1988 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- ANSI/IEEE 300:1988
- 发布
- 1988年
- 发布单位
- 美国国家标准学会
- 当前最新
- ANSI/IEEE 300:1988
- 本标准适用于用于带电粒子高分辨率光谱检测的半导体辐射探测器。