ANSI/IEEE 300:1988
半导体带电粒子检测器的试验程序

Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

ANSI/IEEE 300:1988 发布历史

ANSI/IEEE 300:1988由美国国家标准学会 US-ANSI 发布于 1988。

ANSI/IEEE 300:1988 在中国标准分类中归属于: L85 电子测量与仪器综合，在国际标准分类中归属于: 17.220.20 电和磁量值的测量。

ANSI/IEEE 300:1988 半导体带电粒子检测器的试验程序的最新版本是哪一版？

最新版本是 ANSI/IEEE 300:1988 。

ANSI/IEEE 300:1988的历代版本如下：

• 1988年 ANSI/IEEE 300:1988 半导体带电粒子检测器的试验程序

本标准适用于用于带电粒子高分辨率光谱检测的半导体辐射探测器。

标准号

ANSI/IEEE 300:1988

发布

1988年

发布单位

美国国家标准学会

当前最新

ANSI/IEEE 300:1988

 

 

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