BS EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

被代替

2006-09

半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM) 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

说明：

此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
鼠标放置在图上可以看到标题编号；
此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
表示标准的节点，可以拖动；
绿色表示标准：BS EN 60749-27:2006 ，绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

标准号: BS EN 60749-27:2006
发布: 2006年
发布单位: 英国标准学会
替代标准: BS EN 60749-27:2006+A1:2012
当前最新: BS EN 60749-27:2006+A1:2012

IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序，用于根据半导体器件因暴露于定义的机器模型 (MM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来对半导体器件进行测试和分类。它可以用作人体模型ESD测试方法的替代测试方法。目的是提供可靠、可重复的 ESD 测试结果，以便进行准确的分类。该测试方法适用于所有半导体器件，并被归类为破坏性测试。半导体器件的...

BS EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

被代替

说明：

推荐

史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

BMS静电放电ESD测试基本知识（一）

BS EN 60749-27:2006 中可能用到的仪器设备

BS EN 60749-27:2006半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

被代替

说明：

推荐

史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

BMS静电放电ESD测试基本知识（一）

BS EN 60749-27:2006 中可能用到的仪器设备

BS EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)