BS EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
BS EN 60749-27:2006 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- BS EN 60749-27:2006
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 替代标准
- BS EN 60749-27:2006+A1:2012
- 当前最新
- BS EN 60749-27:2006+A1:2012
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