BS EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

被代替

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 BS EN 60749-27:2006 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

BS EN 60749-27:2006

发布

2006年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

当前最新

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

 

 

IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序，用于根据半导体器件因暴露于定义的机器模型 (MM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来对半导体器件进行测试和分类。 它可以用作人体模型ESD测试方法的替代测试方法。 目的是提供可靠、可重复的 ESD 测试结果，以便进行准确的分类。 该测试方法适用于所有半导体器件，并被归类为破坏性测试。 半导体器件的...

BS EN 60749-27:2006相似标准

推荐

BS EN 60749-27:2006 中可能用到的仪器设备