BS EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

被代替

2006-09

半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM) 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

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标准号: BS EN 60749-27:2006
发布: 2006年
发布单位: 英国标准学会
替代标准: BS EN 60749-27:2006+A1:2012
当前最新: BS EN 60749-27:2006+A1:2012

IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序，用于根据半导体器件因暴露于定义的机器模型 (MM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来对半导体器件进行测试和分类。它可以用作人体模型ESD测试方法的替代测试方法。目的是提供可靠、可重复的 ESD 测试结果，以便进行准确的分类。该测试方法适用于所有半导体器件，并被归类为破坏性测试。半导体器件的...

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