只需点击一下鼠标,即可利用自定义的实验室报告模板轻松将分析报告输出到标准PC应用程序中,例如Microsoft® Office。 Escalab 250Xi平台具有非凡的灵活性,因此分析人员可以利用一系列其他表面表征工具配置该系统。仪器配备了离子散射谱(ISS)和反射电子能量损失谱(REELS),同时可选配紫外光电子能谱(UPS)和俄歇电子能谱(AES)。仪器的标准配置还包括了样品制备室。...
清华大学分析中心将就俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)的基本原理、数据解析、样品制备等方面,系统介绍电子能谱技术在微电子器件、催化剂、材料保护、表面改性以及功能薄膜材料等方面表面分析和价态分析的分析方法。...
样品的正确处理和制备对于分析尤其是表面分析是极为重要的,俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱仪(XPS)、二次离子质谱(SIMS)等表面分析技术通常对几纳米厚度的表面敏感,不正确的样品处理会导致表面组成改变和数据不可信,严重影响测试结果。姚老师结合多年的表面分析经验,利用一个个生动的示例讲述了在使用任何表面敏感的分析技术时,把样品制备和安装的影响降低到最小的方法。...
聚焦式扫瞄X-射线源 (Focus X-ray Source) – Versaprobe标准配备以 ULVAC-PHI 专利设计的扫瞄式 X-射线, 让光电子能谱也可以作出有效率的微区分析。 ...
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