化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
取得的主要学术成绩:1)在半导体低维结构的光学各向异性研究方面,将反射差分谱应用于半导体界面性质研究,揭示了界面原子偏析、界面结构和应变对量子阱光学偏振性质的重要影响;基于反射差分谱技术, 提出了一种测量量子阱激子各向异性交换分裂的方法,并演示了应变对激子精细分裂的调控作用;基于RDS技术,建立了半导体衬底材料表面亚损伤和内应力分布的新型表征技术,可用于我国 晶片材料相关高技术企业的产品检测。...
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