LAYERTEC的标准检验流程包括基板的干涉测量和涂层光学元件在波长范围为120纳米到20微米的分光光度计测量。在波长范围λ=120纳米至20微米的标准分光光度计测量,使用紫外-可见-近红外分光光度计,真空紫外和傅里叶变换红外分光光度计。通过腔环衰减时间测量法,可以确定R、T=99.5%至99.9999%的高反射率和透射率。这种方法是一种高精度的绝对测量方法。...
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。#21时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。关于昊量光电:昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!...
图5显示了NDIR仪器的基本概念。图5. NDIR的基本框图,显示了其主要组成部分NDIR仪器中使用的滤波器通常是干涉型,称为“标准具”,本质上是Fabry-Perot干涉仪。它通常由分隔两个薄膜反射器的薄膜垫片制成。在标准具中会产生波干扰,同相的波会相长地干涉并通过滤波器传输。其余的波具有相消干扰,因此被“阻止”。宽带红外源通常是由加热的灯丝(例如钨或Kanthal)产生的黑体辐射。...
当光经过起偏镜照射样品被反射后,再经过检偏镜进行观察,由于各磁畴的磁化方向不同,在各个磁畴上反射的光的偏振面的旋转角度也不同,于是各磁畴的明暗程度也不相同。优势:可对任意尺寸的样品进行检测,不会对样品的磁化状态产生影响、时间分辨率高、测量过程中可施加外磁场。局限:适用于磁性薄膜、分辨率约300 nm。...
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