表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
上海计量院徐建教授在会议上宣贯了《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定GB/T 28632-2012》,介绍了多种仪器横向分辨率的测定方法,进一步为大家普及了表面分析的一些标准技术。随着XPS表面分析技术的发展,在各行各业的应用领域也越来越广泛。...
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