GB/T 29190-2012由国家质检总局 CN-GB 发布于 2012-12-31,并于 2013-06-01 实施。
GB/T 29190-2012 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器,A60 光学计量,在国际标准分类中归属于: 17.180.99 有关光学和光学测量的其他标准。
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 29190-2012 。
* 在 GB/T 29190-2012 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本标准规定了SPM漂移速率的术语和定义、缩略语、测量步骤、性能参数规格,及基于SPM扫描图像的漂移速率测量基波方法。 本标准适用于0.01nm/s到10nm/s的漂移速率测量。本标准中的漂移测量不适用于图像校正。
日前,由中国科学技术大学工程科学学院黄文浩教授主持制订的国际标准“扫描探针显微镜漂移测量方法(ISO11039:2012)”已由国际标准化组织正式发布。 自20世纪80年代扫描探针显微镜(Scanning-probe microscopy,SPM)发明以来,由于其具有原子量级的分辨能力,极大地促进了纳米科学技术的发展,并已逐步形成了一种高新技术产业。...
LiteScope™是一种独特的扫描探针显微镜(SPM)。 它设计用于轻松集成到各种扫描电子显微镜(SEM)中。 组合互补的SPM和SEM技术使其能够利用两者的优势。使用LiteScope™及其可更换探针系列,可以轻松进行复杂的样品分析,包括表面形貌,机械性能,电性能,化学成分,磁性能等的表征。相关探针和电子显微镜™(CPEM)结合了SPM和SEM技术。 ...
CPEM技术的优点CPEM提供多维相关成像 - 来自扫描电子显微镜的图像被扩展为3D。使用CPEM,可以快速准确地区分SEM图像中的地形和材料对比度。CPEM以适当的方式将两个或多个SEM信号与测量的地形相关联,例如SE,BSE,EBIC等。CPEM可以在相同的条件下同时测量AFM和SEM试样条件,相同的测量速度等组合的AFM和SEM扫描系统可实现精确的图像相关,消除漂移和其他不准确性。...
利用基于数学形态学算法,通过数值模拟,研究影响原子力显微镜粗糙度测量的探针和样品的几何因素。分析中同时考虑针尖曲率半径、被测样品表面的原始相关长度、标准偏差和高度分布形态等综合因素。并且从实验上表明了扫描速率对表观图像质量和测量粗糙度的影响。这部分工作在AFM扫描图像定量评价上有重要意义。...
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