ASTM F76-08(2016)
测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors


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标准号
ASTM F76-08(2016)
发布
2008年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F76-08(2016)e1
当前最新
ASTM F76-08(2016)e1
 
 
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