ASTM F76-08(2016)
测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

被代替

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标准号: ASTM F76-08(2016)
发布: 2008年
发布单位: 美国材料与试验协会
替代标准: ASTM F76-08(2016)e1
当前最新: ASTM F76-08(2016)e1

1.1 这些测试方法涵盖了测量单晶半导体样品的电阻率和霍尔系数的两个程序。这些测试方法的最大区别在于其测试样本的要求。 1.1.1 测试方法A，van der Pauw (1)8201;2—该测试方法需要单个连接的测试样本（没有任何孤立的孔），厚度均匀，但形状任意。触点必须足够小并且位于样本的外围。对于...

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