石英 皿

本专题涉及石英 皿的标准有940条。

国际标准分类中,石英 皿涉及到频率控制和选择用压电器件与介质器件、钟表学、力、重力和压力的测量、化工产品、增强塑料、珠宝、滤波器、陶瓷、绝缘材料、塑料、非金属矿、电灯及有关装置、电子元器件综合、集成电路、微电子学、光学和光学测量、绝缘流体、煤、太阳能工程、涂料配料、燃料、金属的腐蚀、黑色金属、光纤通信、词汇、玻璃、建筑材料、复合增强材料、耐火材料、建筑构件、空气质量、牙科、电子设备用机械构件、燃气轮机和蒸汽轮机、蒸汽机、水质、纸和纸板、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、航空航天制造用材料、石油产品综合、电信设备用部件和附件、辐射防护、辐射测量、电工器件、采矿和挖掘、电学、磁学、电和磁的测量、航空航天发动机和推进系统、热力学和温度测量、金属材料试验、机械试验、分析化学、电工和电子试验、印制技术、核能工程、特殊工作条件下用电气设备、金属矿、质量、半导体材料、玻璃和陶瓷生产工艺、消防、地质学、气象学、水文学。

在中国标准分类中,石英 皿涉及到石英晶体、压电元件、钟表、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、工业气体与化学气体、纤维增强复合材料、其他非金属矿、电子技术专用材料、日用陶瓷制品、电工绝缘材料及其制品、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、人工晶体、电光源产品、半导体集成电路、地球物理勘探设备、、仪器、仪表用材料和元件、滤波器、延迟线、太阳能、石英玻璃、涂料辅助材料、、时间计量仪器、石材制品、工艺美术品、光通信设备、建筑构造与装饰工程、金属物理性能试验方法、硅质耐火材料、玻璃纤维、特种玻璃、、日用玻璃、陶瓷、搪瓷、塑料制品综合、工业防尘防毒技术、生产环境安全卫生设施、口腔科器械、设备与材料、装修材料、标准化、质量管理、连接器、固体燃料矿综合、石油产品综合、特种陶瓷、燃料油、建材原料矿、建筑玻璃、水处理剂、造纸综合、冷加工工艺、其他纺织制品、航空与航天用非金属材料、卫生综合、导航设备、其他、金属化学性能试验方法、航天器控制导引系统、电气设备安装工程、原油、电工材料和通用零件综合、控制继电器、基础标准和通用方法、电气照明综合、时间、频率计量、轻金属矿、陶瓷、玻璃综合、涂料、颜料、工厂防火防爆安全技术、石油焦、电子元器件、计算机应用、电气设备与器具综合、耐火材料综合、地质矿产勘察与开发综合、基础标准与通用方法、通用电子测量仪器设备及系统、通用核仪器、航空与航天用金属铸锻材料、工业技术玻璃、实验室用玻璃、陶瓷、塑料器皿、电子光学与其他物理光学仪器、长度计量、制药加工机械与设备、光学计量、热学计量、印刷技术、特种耐火材料、同位素与放射源综合、标准化、质量管理、计量综合、电容器、核仪器与核探测器综合、实验室基础设备、技术管理、电子试验用仪器设备、地球科学仪器、电子元件综合、安装、接线连接件。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于石英 皿的标准

未注明发布机构,关于石英 皿的标准

  • GB/T 38515-2020 石英纤维织物增强树脂基复合材料高温力学性能试验方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于石英 皿的标准

  • GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量
  • GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
  • GB/T 34837-2017 计时仪器零部件分类、名称和编号 石英手表机心
  • GB/T 22780-2017 液晶式石英手表
  • GB/T 34098-2017 石英质玉 分类与定名
  • GB/T 12273.1-2017 有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范
  • GB/T 33724-2017 钟表 评定石英手表精度的步骤

国家质检总局,关于石英 皿的标准

美国材料与试验协会,关于石英 皿的标准

  • ASTM C1069-09(2022) 用氮吸附法测定氧化铝或石英比表面积的标准试验方法
  • ASTM D6374-22 绿色石油焦石英坩埚中挥发性物质的标准试验方法
  • ASTM C958-92(2022) 用X射线重力沉降监测法测定氧化铝或石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM D7739-11(2020) 通过石英晶体微量天平测定热氧化稳定性的标准实践
  • ASTM B808-10(2020) 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM C1070-01(2020) 通过激光散射测定氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM D6374-12(2017)e1 绿色石油焦石英坩埚工艺中挥发物的标准试验方法
  • ASTM D7739-11(2016) 通过石英晶体微量天平测定热氧化稳定性的标准实践
  • ASTM C616/C616M-15 石英尺寸石材的标准规格
  • ASTM B808-10(2015) 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM C1069-09(2014) 通过氮吸附的氧化铝或石英的比表面积的标准测试方法
  • ASTM C1070-01(2014) 通过激光散射测定氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM C958-92(2014) 通过X射线监测重力沉降的氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM E1132-2013 有关职业暴露在可吸入石英环境中的健康要求的标准实施规程
  • ASTM E1132-2013e1 有关职业暴露在可吸入石英环境中的健康要求的标准实施规程
  • ASTM D6374-12 绿色石油焦石英坩埚工艺中挥发物的标准试验方法
  • ASTM D6374-2012(2017)e1 绿色石油焦炭石英坩锅熔化过程中挥发物质的标准试验方法
  • ASTM D6374-2012 绿色石油焦碳石英坩锅熔化过程中挥发物的标准试验方法
  • ASTM D7739-11 通过石英晶体微量天平测定热氧化稳定性的标准实践
  • ASTM D7739-2011(2016) 采用石英晶体微天平测量热氧化稳定性的标准实施规程
  • ASTM D7739-2011 通过石英晶体微量天平测量热氧化稳定性的标准操作规程
  • ASTM B808-10 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM C616/C616M-10 石英尺寸石材的标准规格
  • ASTM B808-2010(2015) 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法
  • ASTM D6374-99(2009) 绿色石油焦石英坩埚工艺中挥发物的标准试验方法
  • ASTM C690-09 用电感应区技术测定氧化铝或石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM C1069-09 通过氮吸附的氧化铝或石英的比表面积的标准测试方法
  • ASTM C1069-2009 用氮吸附法测定氧化铝和石英表面特性的标准试验方法
  • ASTM C1069-2009(2014) 采用氮吸附法的氧化铝或石英特殊表面区域的标准试验方法
  • ASTM C690-2009 用电感应区域法测定矾土或石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM D696-08e1 塑料线性热膨胀系数的标准试验方法;30度;摄氏30度;C使用玻璃石英膨胀计
  • ASTM C616-08 石英尺寸石材的标准规格
  • ASTM C616-2008 石英基规格石料的标准规范
  • ASTM C1070-01(2007) 通过激光散射测定氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM C958-92(2007) 通过X射线监测重力沉降的氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM E1132-2006 暴露可吸入石英微粒相关职业健康要求的标准实施规范
  • ASTM B808-05 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM B808-2005 用石英晶体微量天平监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM D6374-99(2004) 绿色石油焦石英坩埚工艺中挥发物的标准试验方法
  • ASTM C1069-86(2004)e1 通过氮吸附的氧化铝或石英的比表面积的标准测试方法
  • ASTM C616-03 石英尺寸石材的标准规格
  • ASTM B808-97(2003) 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM C690-03 用电感应区技术测定氧化铝或石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM C616-2003 石英基规格石料标准规范
  • ASTM C690-2003 用电感应区域法测定矾土或石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM C1070-01 通过激光散射测定氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM C1070-2001(2014) 用激光扩散法测定氧化铝和石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM C1070-2001(2007) 用激光扩散法测定氧化铝和石英粒度分布的试验方法
  • ASTM C1070-2001 用激光扩散法测定氧化铝和石英粒度分布的试验方法
  • ASTM C958-92(1997)e1 通过X射线监测重力沉降的氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM C958-92(2000) 通过X射线监测重力沉降的氧化铝或石英的粒度分布的标准测试方法
  • ASTM C616-99 石英尺寸石材的标准规格
  • ASTM D6374-99 绿色石油焦石英坩埚工艺中挥发物的标准试验方法
  • ASTM D6374-1999 测定绿色石油焦石英熔化过程中挥发物质的标准试验方法
  • ASTM E1132-1999a 有关石英粉尘工作环境的健康要求
  • ASTM C616-1999 石英基石尺寸标准规范
  • ASTM D6374-1999(2004) 测定绿色石油焦石英熔化过程中挥发物质的标准试验方法
  • ASTM D6374-1999(2009) 深色石油焦碳石英坩锅挥发物的标准试验方法
  • ASTM B808-97 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM C690-86(1997)e1 用电感应区技术测定氧化铝或石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM C1069-86(1997)e1 通过氮吸附的氧化铝或石英的比表面积的标准测试方法
  • ASTM B808-1997 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法
  • ASTM E228-1995 用透明石英膨胀仪测定固体材料线性热膨胀的试验方法
  • ASTM C958-1992(2007) 用重力沉积的X射线监测器测定矾土或石英的粒度分布的试验方法
  • ASTM C958-1992(2014) 用重力沉积的X射线监测器测定矾土或石英粒度分布的标准试验方法
  • ASTM C678-75(1991)e1 用离心沉降法测定氧化铝或石英粒度分布的试验方法
  • ASTM C1069-1986(2004)e1 用氮吸附法测定氧化铝和石英表面特性的试验方法
  • ASTM C1069-1986(1997)e1 使用氮吸附法测定铝矾土或石英的比表面积的标准试验方法
  • ASTM D1551-68 石油中硫的试验方法(石英管法)

,关于石英 皿的标准

英国标准学会,关于石英 皿的标准

  • BS EN IEC 60444-6-2021 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • BS EN 60444-8-2017 石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
  • BS EN 60444-8-2017 石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
  • BS EN 60758-2016 人造石英晶体.使用规范和指南
  • BS EN 60758-2016 人造石英晶体.使用规范和指南
  • BS ISO 16258-2-2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 间接分析法
  • BS ISO 16258-2-2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 间接分析法
  • BS ISO 16258-1-2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 直接过滤法
  • BS ISO 16258-1-2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 直接过滤法
  • BS EN 60444-6-2013 石英晶体元件参数的测量.激励电平相关性(DLD)的测量
  • BS EN 60679-3-2013 经质量评定的石英晶体振荡器. 标准外形和引线连接
  • BS EN 60679-6-2011 经质量评估的石英晶体受控振荡器.石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南
  • BS EN 60122-3-2010 经质量评定的石英晶体件.标准外形和引线连接
  • BS EN 60444-11-2010 石英晶体元件参数的测量.使用自动网络分析技术和纠错法测定负载共振频率L和有效负载电容CLeff的标准方法
  • BS EN 60758-2009 人造石英晶体.使用规范和指南
  • BS DD IEC/TS 61994-4-1-2008 频率控制和选择用压电器件与介质器件.术语表.压电材料.人造石英晶体
  • BS EN 60679-1-2007 经质量评定的石英晶体振荡器.总规范
  • BS EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.压电晶体元件寄生振荡测量
  • BS EN ISO 10650-1-2005 牙科学.动力聚合活化剂.石英钨卤素灯
  • BS EN 60758-2005 人造石英晶体.规范和使用指南
  • BS EN 12904-2005 人类生活用水处理用制品.石英砂和石英砾石
  • BS EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.石英晶体元件的活性和频率下降的测量
  • BS EN 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
  • BS EN 60455-3-2-2003 电气绝缘用树脂基反应性复合物.单项材料规范.填石英的环氧树脂复合物.第2活页:填石英的环氧树脂复合物
  • BS EN 60122-1-2002 经质量评定的石英晶体元件.总规范
  • BS EN ISO 3262-21-2000 涂料填充剂.规范和试验方法.石英砂(未磨碎天然石英)
  • BS EN ISO 3262-15-2000 涂料填充剂.规范和试验方法.透明石英
  • BS EN 60679-5-1-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.空白详细规范.合格鉴定
  • BS EN 60679-5-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.分规范.合格鉴定
  • BS EN ISO 3262-13-1998 涂料填充剂.规范和试验方法.天然石英(地)
  • BS EN 60679-4-1-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.空白详细规范.能力认可
  • BS EN 60679-4-1998 经质量评定的石英晶体受控振荡器.分规范.能力认可
  • BS EN 168201-1996 电子元器件的质量评估协调体系.空白详细规范.石英晶体元件(资格认可)
  • BS EN 60444-5-1995 石英晶体元件参数测量.第5部分:用自动网络分析仪和误差修正技术测定等效电气参数
  • BS EN 169101-1995 电子元件质量评定协调体糸规范.空白详细规范.石英晶体控制振荡器
  • BS EN 168100-1995 电子元器件质量评定协调体系.石英晶体器件的分规范(性能验收)
  • BS EN 60682-1994 石英卤钨灯灯夹温度测量方法
  • BS EN 60444-2-1993 石英晶体元件参数的测定.第2部分:用相位偏离法测量石英晶体单元的动态电容
  • BS EN 60444-3-1993 石英晶体器件参数的测定.第3部分:用与并联电容量C0补偿相连的π网络相位技术测量200 MHz以下的石英器件的两极参数的基本方法
  • BS EN 60444-1-1997 石英晶体单元参数的测量.第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体单元谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • BS EN 60444-4-1993 石英晶体元件参数测量.第4部分:30 MHz以下石英晶体元件负荷谐振频率fL.负荷谐振电阻R1测量方法,以及石英晶体元件其他导出值计算方法
  • BS EN 169100-1993 电子元器件质量评定协调体系.分规范:石英晶体受控振荡器(性能鉴定)
  • BS EN 168200-1996 电子元器件质量评定协调系统.分规范:石英晶体部件(合格鉴定批准)
  • BS CECC 68100-1991 电子元器件质量评定协调体系.石英晶体装置(性能合格鉴定)分规范.
  • BS EN 168101-1990 电子元器件质量保证协调体系.空白详细规范.石英晶体部件(性能认可)
  • BS 6711-1-1986 主要由玻璃、瓷料或透明石英制作的实验室器皿相关词汇.第1部分:器皿项目名称
  • BS 9625-1983 经质量评定的石英晶体振荡器空白详细规范.全面评定级
  • BS 9617-1982 经质量评估的石英晶体振子详细规范的制定规则.全面评估级
  • BS 9612 N019-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N010-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DP外壳、6.0至25MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N018-1979 振荡器用电阻焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N016-1979 振荡器用电阻焊接密封石英晶体元件用详细规范.DN、DZ、DQ和DP外壳、0.8~20 MHz和3.0~30 MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评估等级
  • BS 9612 N020-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N021-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、50至125MHz频率范围.窄温范围(温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N017-1979 振荡器用电阻焊接密封石英晶体元件用详细规范.DN、DZ、DQ和DP外壳、0.8~20 MHz和3.0~30 MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评估等级
  • BS 9612 N004-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、47 U/2、DQ和DP外壳、0.8至20MHz和3.0到30MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N006-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、47U/2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N005-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、0.8~20MHz和3.0~30MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N007-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作用第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N008-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、50至125MHz频率规范.宽温范围(非温控)操作用第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N009-1977 经质量评定的振荡器用冷焊封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳,50至125MHz频率规范.窄温范围(非温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9620-1975 石英晶体振荡器质量评估规范:通用数据和试验方法

法国标准化协会,关于石英 皿的标准

  • NF C93-621-6-2021 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • NF C93-640-201-2014 空白详细规格: 石英晶体元件 (鉴定批准)
  • NF C93-640-101-2014 空白详细规格: 石英晶体元件 (能力批准)
  • NF C93-610-2014 在10 kHz至200 kHz和标准值范围内音叉石英晶体元件的测量和试验方法
  • NF C93-621-9-2014 石英晶体元件参数的测量. 第9部分: 压电晶体元件寄生谐振的测量
  • NF C93-621-6-2014 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • NF C93-640-200-2013 分规范: 石英晶体谐振器 (资格鉴定)
  • NF C93-640-100-2013 分规范: 石英晶体元件(能力批准)
  • NF C93-620-3-2013 经质量评估的石英晶体控制振荡器.第3部分:标准外形和引线连接器
  • NF C93-632-2013 人造石英晶体. 规范和使用指南
  • NF C93-620-1-2013 经质量评定的石英晶体振荡器 - 第1部分: 一般规范
  • NF C93-620-6-2011 质量评估石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和锯齿波振荡器相位抖动的测量方法.
  • NF C93-618-3-2011 经质量评估的石英晶体器件.第3部分:标准外形和引线连接件
  • NF C93-621-11-2011 石英振荡器参数的测量.第11部分:负载共振频率fL和有效负载电容CLeff使用自动网络分析技术和误差修正的测定用标准方法.
  • NF L06-822-2007 航空航天系列.喷丸.石英
  • NF S91-311-1-2006 牙科学.动力聚合活化剂.第1部分:石英钨卤素灯
  • NF T94-409-2005 人类生活用水处理用制品.石英砂和石英砾石
  • NF C93-632-2005 人造石英晶体.规范和使用指南
  • NF C93-621-8-2005 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用试验设备
  • NF C93-621-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的放射性和频率下降测量
  • NF C26-163-2-2003 电气绝缘用树脂基活性化合物.第3部分:专用材料规范.活页2:石英填充环氧树脂化合物
  • NF C93-618-1-2003 经过质量评定的石英晶体装置.第1部分:总规范
  • NF C93-620-3-2002 经质量评估的石英晶体控制振荡器.第3部分:标准外形和引线连接器
  • NF C93-624-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体元件参数.第4部分:石英晶体单元负荷谐振频率 fL 、负荷谐振电阻 RL 的测量方法及其他石英晶体元件导出值的计算方法(频率最高可达 30 MHz)
  • NF C93-625-2001 石英晶体元件的参数测量.第5部分:使用自动网络分析仪和误差修正技术测定等效电气参数的方法
  • NF C93-626-2001 石英晶体元件的参数测量.第6部分:驱动水平依赖测量
  • NF C93-623-2001 用π型网络的零相位技术测量石英晶体器件参数.第3部分:用并联电容 CO 补偿的π网络零相位技术测量最高可达 200 MHz 的石英晶体器件谐振器两端参数的基本方法
  • NF C93-622-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第2部分:石英晶体器件动态电容测量的相位补偿法
  • NF T31-111-2000 涂料用填料.规范和试验方法.第14部分:方石英
  • NF T31-118-2000 涂料用填料.规范和试验方法.第21部分:石英砂(地下天然石英)
  • NF C93-621-2000 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体器件谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • NF C93-620-5-1-2000 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.合格鉴定批准
  • NF C93-620-5-1999 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第5部分:分规范.合格鉴定批准
  • NF C93-620-4-1999 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第4部分:分规范.能力批准
  • NF C93-630-1999 经质量评估的石英晶体控制振子.第4-1部分:容量认可的空白详细规范
  • NF T31-120-1998 涂料用填充剂.规格和试验方法.第13部分:天然石英(海底)
  • NF C26-163-2-1997 电气绝缘用无溶剂可聚合树脂化合物规范.第3部分:单项材料规范.第2活页:石英填充的环氧树脂化合物
  • NF C72-104-1994 石英卤钨灯收缩温度测定的标准方法
  • NF C93-611-1975 电子设备元件.压电器件.振荡器用石英晶体器件
  • NF T60-108-1970 石油产品.不易挥发石油产品中磁含量的测定(石英管法)

国际电工委员会,关于石英 皿的标准

  • IEC 60444-6:2021 石英晶体元件参数的测量.第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量
  • IEC 60444-6-2021 RLV 石英晶体元件参数的测量第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量
  • IEC 60444-6-2021 石英晶体元件参数的测量.第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量
  • IEC 60444-6:2021 RLV 石英晶体元件参数的测量第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量
  • IEC 60122-4:2019 经质量评定的石英晶体单元第4部分:带热敏电阻的晶体单元
  • IEC 60122-4-2019 经质量评定的石英晶体单元第4部分:带热敏电阻的晶体单元
  • IEC TS 61994-4-1-2018 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC TS 61994-4-1-2018 RLV 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC TS 61994-4-1:2018 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC TS 61994-4-1:2018 RLV 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC 60122-1-2002+AMD1-2017 CSV 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 修改件1.经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 CSV 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • IEC 60122-1-2002/AMD1-2017 修改件1.经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • IEC 60444-8:2016 石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
  • IEC 60444-8-2016 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • IEC 60444-8-2016 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • IEC 60758:2016 合成石英晶体 - 规格和使用指南
  • IEC 60758-2016 合成石英晶体.使用规范和指南
  • IEC 60444-6:2013 石英晶体单位参数测量 - 第6部分:驱动电平依赖性测量(Dld)
  • IEC 60444-6-2013 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • IEC 60679-3:2012 评估质量的石英晶体控制振荡器 - 第3部分:标准概述和引线连接
  • IEC 60679-3-2012 石英晶体受控振荡器的评定标准.第3部分:标准外形和引线连接
  • IEC 60679-6:2011 评定质量的石英晶体控制振荡器 - 第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法 - 应用指南
  • IEC 60679-6-2011 经质量评定的石英晶体振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和表面声波振荡器用相位抖动测量方法.应用指南
  • IEC 60122-3:2010 评估质量的石英晶体单位 - 第3部分:标准轮廓和引线连接
  • IEC 60444-11:2010 石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法
  • IEC 60122-3 Edition 4.0-2010 石英晶体元件质量评定.第3部分:标准外形线和引线接头
  • IEC 60122-3-2010 石英振荡器的质量评定.第3部分:标准外框和铅连接件
  • IEC 60444-11-2010 石英振荡器参数的测量.第11部分:负载共振频率f和有效负载电容C使用自动网络分析技术和误差修正的测定用标准方法
  • IEC 60689:2008 在10 Khz到200 Khz和标准值范围内调整叉石英晶体单元的测量和测试方法
  • IEC 60758:2008 合成石英晶体.规范和使用指南
  • IEC 60758-2008 合成石英晶体.使用规范和指南
  • IEC 60689-2008 用于10kHz~200kHz及标准值的音叉石英晶体元件的测量和试验方法
  • IEC/PAS 60679-6-2008 经质量评估的石英晶体受控振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器用相位抖动测量法.应用指南
  • IEC TS 61994-4-1:2007 频率控制和选择用压电和介电器件术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC TS 61994-4-1-2007 频率控制和选择用压电和介电器件术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC/TS 61994-4-1-2007 频率控制和选择用压电和介电装置.术语.第4-1部分:压电材料.合成石英晶体
  • IEC 60679-1:2007 经质量评定的石英晶体振荡器.第1部分:总规范
  • IEC 60679-1-2007 经质量评定的石英晶体振荡器.第1部分:总规范
  • IEC 60444-9:2007 石英晶体元件参数的测量第9部分:压电晶体元件杂散共振的测量
  • IEC 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.第9节:压电晶体元件寄生振荡测量
  • IEC 60758-2004 人造石英晶体.规范和使用指南
  • IEC 60444-7:2004 石英晶体单位参数的测量 - 第7部分:石英晶体单元的活动和频率下降的测量
  • IEC 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的放射性和频率下降测量
  • IEC 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • IEC 60444-8:2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装石英晶体元件的试验夹具
  • IEC 60679-1 AMD 2-2003 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第1部分:总规范.修改件2
  • IEC 60455-3-2:2003 用于电气绝缘的基于树脂的反应性化合物 - 第3部分:单个材料的规格 - 第2页:石英填充环氧树脂化合物
  • IEC 60455-3-2-2003 电气绝缘用树脂基复合物.第3部分:单项材料规范.活页2:填石英的环氧树脂复合物
  • IEC 60122-1:2002 评估质量的石英晶体单位 - 第1部分:通用规范
  • IEC 60122-1-2002 经过质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • IEC 60679-1 AMD 1-2002 质量评定的石英晶体振荡器.第1部分:总规范.修改件1
  • IEC 60758 AMD 2-2001 人造石英晶体 规范和使用指南 修改2
  • IEC 60679-3-2001 经质量评定的石英晶体控制振荡器 第3部分:标准外形和引线连接
  • IEC 60122-3-2001 经质量评定的石英晶体元件 第3部分:标准外形和引线连接
  • IEC/TS 61994-4-1-2001 频率控制和选择用压电和介电器件 术语 第4-1部分:压电材料 合成石英晶体
  • IEC 60444-1 AMD 1-1999 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法 修改1
  • IEC 60679-5-1998 经质量评定的石英晶体振荡器 第5部分:分规范 鉴定批准
  • IEC 60679-5-1-1998 经质量评定的石英晶体振荡器 第5-1部分:空白详细规范 鉴定批准
  • IEC 60679-4-1-1998 经质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准
  • IEC 60679-1-1997 经质量评定的石英晶体振荡器 第1部分:总规范
  • IEC 60679-4-1997 经质量评定的石英晶体振荡器 第4部分:分规范 能力批准
  • IEC 60758 AMD 1-1997 人造石英晶体 规范和使用指南 修改1
  • IEC 60682:1980/AMD2:1997 修改件2-测量石英卤钨灯夹点温度的标准方法
  • IEC 60682-1980/AMD2-1997 修改件2-测量石英卤钨灯夹点温度的标准方法
  • IEC 60682 AMD 2-1997 石英卤钨灯夹封部位温度的标准测量方法 修改2
  • IEC 60444-5:1995 石英晶体单位参数的测量 - 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • IEC 60444-5-1995 石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • IEC 60444-6-1995 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
  • IEC 60455-3-2 AMD 1-1994 电气绝缘用无溶剂可聚合树脂复合物规范 第3部分:单项材料规范 活页2:填石英的环氧树脂复合物 修改1
  • IEC 60122-2-1-1991/AMD1-1993 修改件1.频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件的使用指南.第1节:微处理器时钟电源用石英晶体元件
  • IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 修改件1.频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件的使用指南.第1节:微处理器时钟电源用石英晶体元件
  • IEC 60122-2-1 AMD 1-1993 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南 第1节:微处理器钟用石英晶体元件 修改1
  • IEC 60758-1993 人造石英晶体 规范和使用指南
  • IEC 61178-3-1:1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统(IECQ)中的规范 - 第3部分:部分规范 - 资质认证 - 第1节:空白详细规范
  • IEC 61178-2:1993 石英晶体单元 - 电子元件Iec质量评估系统(iecq)中的规范 - 第2部分:部分规范 - 能力认证
  • IEC 61178-3:1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统(IECQ)中的规范 - 第3部分:部分规范 - 资质认证
  • IEC 61178-2-1:1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统(IECQ)中的规范 - 第2部分:部分规范 - 能力认证 - 第1节:空白详细规范
  • IEC 61178-2-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第2部分:分规范 能力批准
  • IEC 61178-3-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第3部分:分规范 鉴定批准
  • IEC 61178-1-1993 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第1部分:总规范
  • IEC 61178-2-1-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第2部分:分规范 能力批准 第1节:空白详细规范
  • IEC 61178-3-1-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第3部分:分规范 鉴定批准 第1节:空白详细规范
  • IEC 61080:1991 石英晶体等效电参数测量指南
  • IEC 61080-1991 石英晶体元件等效电参数测量指南
  • IEC 60122-2-1:1991 用于频率控制和选择的石英晶体单元 - 第2部分:用于频率控制和选择的石英晶体单元使用指南 - 第一部分:用于微处理器时钟供应的石英晶体单元
  • IEC 60122-2-1-1991 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南 第1节:微处理器时钟用石英晶体元件
  • IEC 60679-3-1989 石英晶体受控振荡器.第3部分:标准轮廓和引线连接
  • IEC 60122-3D-1989 频率控制和选择用石英谐振器.第3部分:标准外形和插脚连接.第4次补充
  • IEC 60368-2-1:1988 压电滤波器 第2部分:使用压电滤波器的指南 第一部分 - 石英晶体滤波器
  • IEC TR 60444-4:1988 在pi网络中用零相位技术测量石英晶体单元参数 第4部分:负载谐振频率fL、负载谐振电阻RL的测量方法和石英晶体单元(最高30 MHz)其他衍生值的计算方法
  • IEC TR 60444-4-1988 在pi网络中用零相位技术测量石英晶体单元参数 第4部分:负载谐振频率fL、负载谐振电阻RL的测量方法和石英晶体单元(最高30 MHz)其他衍生值的计算方法
  • IEC 60444-4-1988 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl、负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)
  • IEC 60368-2-1-1988 压电滤波器 第2部分:压电滤波器使用指南 第1节:石英晶体滤波器
  • IEC 60682:1980/AMD1:1987 修改件1-测量石英卤钨灯夹点温度的标准方法
  • IEC 60682-1980/AMD1-1987 修改件1-测量石英卤钨灯夹点温度的标准方法
  • IEC 60682 AMD 1-1987 石英卤钨灯夹封部位温度的标准测量方法 修改1
  • IEC 60455-3-2-1987 电气绝缘用无溶剂可聚合树脂复合物规范 第3部分:单项材料规范 活页2:填石英的环氧树脂复合物
  • IEC 60444-1:1986 在Pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 - 第1部分:通过零相位技术在Pi网络中测量石英晶体单元的谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • IEC 60444-1-1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • IEC/TR 60444-3-1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第3部分:利用有并联电容Co补偿的π型网络相位技术测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法
  • IEC 60679-1 AMD 1-1985 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法
  • IEC 60122-2:1983 石英晶体频率控制和选择 - 第2部分:使用指南的石英晶体频率控制和选择
  • IEC 60122-2-1983 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南
  • IEC 60679-2:1981 石英晶体振荡器 第2部分:使用石英晶体振荡器的指南
  • IEC 60679-2-1981 石英晶体振荡器 第2部分:石英晶体振荡器使用指南
  • IEC 60682:1980 测量石英钨卤素灯的夹紧温度的标准方法
  • IEC 60444-2:1980 在pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 第2部分:用于测量石英晶体单元的运动电容的相位偏移方法
  • IEC 60679-1-1980 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法
  • IEC 60444-2-1980 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
  • IEC 60682-1980 石英卤钨灯夹封部位温度的标准测量方法
  • IEC 60689-1980 手表用32kHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值
  • IEC 60314 AMD 1-1979 石英晶体谐振器的温度控制装置.第1次修改
  • IEC 60122-3-1977 频率控制和选择用石英谐振器.第3部分:标准外形和插脚连接
  • IEC 60122-1-1976 频率控制和选择用石英谐振器.第1部分:标准值和试验条件
  • IEC 60314-1970 石英晶体谐振器的温度控制装置

中国团体标准,关于石英 皿的标准

日本工业标准调查会,关于石英 皿的标准

工业和信息化部,关于石英 皿的标准

国际标准化组织,关于石英 皿的标准

  • ISO 3262-19-2021 填充剂. 规范和试验方法. 第19部分: 沉淀二氧化硅(石英)
  • ISO 3262-20-2021 填充剂. 规范和试验方法. 第20部分: 喷雾二氧化硅(石英)
  • ISO 17804-2020 成型 - 奥斯特石英球墨铸铁 - 分类
  • ISO 16293-1-2008 建筑玻璃.碱性钙钠石英玻璃制品.第1部分:定义和通用物理及机械特性
  • ISO 10650-1-2004 牙科学.动力聚合活化剂.第1部分:石英钨卤素灯
  • ISO 3262-14:2000 涂料用填充剂——试验规范和方法第14部分:方石英
  • ISO 3262-15-2000 涂料用填充剂 规范和试验方法 第15部分:透明石英
  • ISO 3262-21:2000 涂料用填充剂——规范和试验方法第21部分:硅砂(未研磨的天然石英)
  • ISO 3262-19-2000 涂料用填充剂 规范和试验方法 第19部分:沉淀二氧化硅(石英)
  • ISO 3262-20-2000 涂料用填充剂 规范和试验方法 第20部分:喷雾二氧化硅(石英)
  • ISO 3262-21-2000 涂料用填充剂 规范和试验方法 第21部分:石英砂(矿物天然石英)
  • ISO 3262-13:1997 涂料用填充剂——试验规范和方法第13部分:天然石英(研磨)
  • ISO 3262-13-1997 涂料用填充剂 规范和试验方法 第13部分:天然石英(矿物)
  • ISO 4791-1-1985 实验室仪器 玻璃、瓷器或透明石英制品仪器的基本词汇 第1部分:仪器名称 三种语言版
  • ISO 1772-1975 实验室用瓷坩埚和石英坩埚

廊坊市市场监督管理局,关于石英 皿的标准

德国标准化学会,关于石英 皿的标准

  • DIN EN 60122-1-2018 经质量评定的石英晶体元件. 第1部分: 总规范 (IEC 60122-1-2002+A1-2017); 德文版本 EN 60122-1-2002+A1-2018
  • DIN EN 60758-2017 人造石英晶体.规范和使用指南(IEC 60758-2016);德文版本EN 60758-2016
  • DIN 58145-2017 测定熔融石英光纤过度曝光效果的测量方法; 德文和英文文本
  • DIN EN 60444-6-2014 石英晶体元件参数的测量. 第6部分:激励电平相关性 (DLD) 的测量 (IEC 60444-6-2013); 德文版本EN 60444-6-2013
  • DIN EN 60679-3-2014 经质量评估的石英晶体受控振荡器.第3部分:标准外形和引线连接件(IEC 60679-3-2012).德文版本EN 60679-3-2013
  • DIN EN 60679-6-2011 质量评定的石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南(IEC 60679-6-2011).德文版 EN 60679-6-2011
  • DIN EN 60122-3-2011 经质量评估的石英晶体元件.第3部分:标准外形和引线连结件(IEC 60122-3-2010).德文版本EN 60122-3-2010
  • DIN EN 60444-11-2011 石英振荡器参数的测量.第11部分:负载共振频率fL和有效负载电容CLeff使用自动网络分析技术和误差修正的测定用标准方法(IEC 60444-11-2010).德文版本EN 60444-11-2010
  • DIN EN 60689-2009 频率为10 kHz~200 kHz 音叉石英晶体元件的测量和试验方法及标准值(IEC 60689:2008),德文版本 EN 60689:2009
  • DIN EN 60758-2009 人造石英晶体 规范和使用指南
  • DIN EN 60679-1-2008 经质量评定的石英晶体振荡器.第1部分:总规范
  • DIN EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数的测量.第9部分:压电晶体元件谐振的测量
  • DIN 55626-19-2007 纸和纸板用填充剂和颜料.规范和试验方法.第19部分:沉淀二氧化硅(石英)
  • DIN 55626-20-2007 纸和纸板用填充剂和颜料.规范和试验方法.第20部分:气相二氧化硅(石英)
  • DIN EN ISO 10650-1-2006 牙科学.动力聚合活化剂.第1部分:石英钨卤素灯
  • DIN EN 12904-2005 人类生活用水处理用制品.石英砂和石英砾石
  • DIN EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的活性和频率下降的测量
  • DIN EN 60444-8-2004 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用测试工具
  • DIN EN 60455-3-2-2004 电气绝缘用树脂基反应性复合物.第3部分:单项材料规范.活页2:填石英的环氧树脂复合物
  • DIN EN 60122-1-2003 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • DIN EN ISO 3262-20-2000 涂料用填充剂.规范和试验方法.第20部分:烟化石英
  • DIN EN ISO 3262-19-2000 涂料用填充剂.规范和试验方法.第19部分:沉淀石英
  • DIN EN ISO 3262-21-2000 涂料用填充剂.规范和试验方法.第21部分:石英砂(地下天然石英)
  • DIN EN 60444-1-2000 用π型网络的零相位技术测量石英晶体单元的参数.第1部分:用π型网络的零相位技术测量石英晶体单元的谐振频率和谐振阻抗
  • DIN EN ISO 3262-15-2000 涂料用填充剂.规范和试验方法.第15部分:透明石英
  • DIN EN 60679-5-1999 经过质量评定的石英晶体控制振荡器.第5部分:分规范.合格鉴定
  • DIN EN 60679-5-1-1999 经过质量评定的石英晶体控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.合格鉴定
  • DIN EN 60679-4-1-1998 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第4-1部分:空白详细规范.能力认可
  • DIN EN 60679-4-1998 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第4部分:分规范.能力认可
  • DIN EN ISO 3262-13-1998 涂料的填充料.规范和试验方法.第13部分:天然石英(已磨碎)
  • DIN EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英晶体元件参数.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法以及其他导出参数值的计算
  • DIN EN 60444-2-1997 用π型网络的零相位技术测量石英晶体元件参数.第2部分:相位偏离法测量石英晶体元件动态电容
  • DIN EN 60444-3-1997 用π型网络零相位技术测量石英谐振器参数.第3部分:用与并联电容量Co补偿相连的π网络相位技术测量不超过200MHz的石英谐振器的两极参数的方法
  • DIN EN 60444-5-1997 石英晶体元件参数测量.第5部分:自动网络分析仪和误差修正技术评定电气参数的测量方法
  • DIN IEC 60679-2-1997 石英晶体受控振荡器.第2部分:石英晶体受控振荡器使用导则
  • DIN EN 169200-1996 分规范:石英受控振荡器(合格鉴定)
  • DIN EN 169201-1996 空白详细规范:石英受控振荡器(合格鉴定)
  • DIN IEC 61178-2-1-1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第2部分:分规范:能力认可.第1节:空白详细规范
  • DIN IEC 61178-3-1-1995 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第3部分:分规范:合格验收.第1节:空白详细规范
  • DIN IEC 61178-2-1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第2部分:分规范:能力批准
  • DIN IEC 61178-3-1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第3部分:分规范:合格鉴定批准
  • DIN EN 60682-1994 测量石英卤钨灯夹封部温度的标准方法
  • DIN EN 168200-1993 分规范.石英晶体装置(合格认定)
  • DIN IEC 60122-2-1993 稳率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用导则
  • DIN IEC 60368-2-1-1993 压电滤波器.第2部分:压电滤波器使用指南.第1节:石英晶体滤波器
  • DIN EN 168100-1993 分规范:石英晶体装置(性能批准)
  • DIN IEC 61080-1993 石英振荡器等效电参数测量指南
  • DIN EN 168201-1992 空白详细规范.石英振荡器(合格批准)
  • DIN EN 168101-1992 空白详细规范.石英振荡器(性能批准)
  • DIN IEC 60122-2-1-1992 频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用导则.第1节:微处理机脉冲源用石英晶体元件
  • DIN 8326-1-1988 石英手表.第1部分:要求、检验、标记
  • DIN 12330-1981 熔融石英和熔融氧化硅材料制实验室器具.熔融石英玻璃烧杯
  • DIN 12353-1981 熔融石英和熔融硅石制实验室仪器.熔融石英烧瓶、圆底烧瓶、平底烧瓶和锥形烧瓶
  • DIN 45105-4-1981 压电石英器件.测量方法.滤波器晶体附加谐振的频率和谐振阻抗测量
  • DIN 12543-1979 熔融石英和硅石制实验仪器.熔融石英制三通旋塞.
  • DIN 12542-1979 熔融石英和硅石制的实验室仪器.熔融石英制成的直孔旋塞.

行业标准-建材,关于石英 皿的标准

住房和城乡建设部,关于石英 皿的标准

贵州省质量技术监督局,关于石英 皿的标准

行业标准-轻工,关于石英 皿的标准

行业标准-建筑工业,关于石英 皿的标准

国家军用标准-总装备部,关于石英 皿的标准

行业标准-电子,关于石英 皿的标准

  • SJ/T 11476.3-2014 光纤预制棒用材料 第3部分:石英套管
  • SJ/T 10015-2013 10kHz~200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值
  • SJ/T 11256-2001 有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分:总规范
  • SJ/T 11257-2001 有质量评定的石英晶体振荡器 第5部分:分规范—鉴定批准
  • SJ/T 11258-2001 有质量评定的石英晶体振荡器 第5-1部分:空白详细规范—鉴定批准
  • SJ 51508/8-1999 LP12型石英晶体单片滤波器详细规范
  • SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
  • SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量.第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • SJ/T 11199-1999 压电石英晶体片
  • SJ 51508/6-1996 LST21.4M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ 51508/7-1996 LST25.0425M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ/T 10708-1996 石英晶体元件-电子元器件质量评定体系规范.第3部分:分规范-鉴定批准.第1篇:空白详细规范
  • SJ/T 10707-1996 石英晶体元件-电子元器件质量评定体系规范.第2部分:分规范-能力批准.第1篇:空白详细规范
  • SJ 51508.5-1995 LSP21.4M型石英晶体单片滤波器详细规范
  • SJ 51508.4-1995 LSB1.4M型边带石英晶体滤波器详细规范
  • SJ 52138.1-1995 JA538型石英晶体元件详细规范
  • SJ/T 10632-1995 电子陶瓷原材料粘土、长石、菱镁矿、方解石、白云石、滑石、石英中杂质的原子吸收分光光度测定法
  • SJ/T 10638-1995 石英晶体振荡器测试方法
  • SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语
  • SJ 51508/1-1994 LST60.02M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ 51508/2-1994 LST42.02M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ 51508/3-1994 LSP10.7M(1~3)型石英晶体单片滤波器详细规范
  • SJ 20110-1992 LST60MA型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ/T 10015-1991 JU38和JU26型钟表用32kHz音叉石英晶体元件
  • SJ 2592-1985 LSP10.7MA(~E)型石英晶体单片滤波器
  • SJ 2053-1982 石英谐振器寄生响应测量方法(暂行)
  • SJ 2052-1982 30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法.传输法
  • SJ/Z 9570.1-1995 石英晶体元件质量分等标准
  • SJ/Z 9155.1-1987 石英晶体振荡元件 第一部分:综合性资料、试验条件和试验方法
  • SJ/Z 9162-1987 手表用32KHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值
  • SJ/Z 9158-1987 石英晶体元件用温度控制装置
  • SJ/Z 9152.3-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第三部分:标准外形及插脚连接
  • SJ/T 9570.2-1995 石英晶体单片滤波器质量分等标准
  • SJ/T 9570.1-1995 石英晶体元件质量分等标准
  • SJ/Z 9154.1-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分:测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
  • SJ/Z 9154.3-1987 利用并联电容CO补偿的π型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法
  • SJ/Z 9155.2-1987 石英晶体振荡器 第二部分:石英晶体振荡器使用指南
  • SJ 1893-1981 电子管管座、石英谐振器插座总技术条件
  • SJ/Z 9154.2-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
  • SJ/Z 9152.2-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第二部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南
  • SJ/Z 9152.1-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第一部分:标准值和试验条件
  • SJ/T 9570.3-1995 石英晶体振荡器质量分等标准

韩国标准,关于石英 皿的标准

美国国家标准学会,关于石英 皿的标准

(美国)军事条例和规范,关于石英 皿的标准

欧洲电工标准化委员会,关于石英 皿的标准

  • EN 60444-11-2010 石英振荡器参数的测量.第11部分:使用自动网络分析技术和误差校正法测定负载共振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法
  • EN 60122-3-2010 经质量评估的石英晶体震荡器.第3部分:标准外形和引线连接件
  • EN 60758-2009 合成石英晶体.使用规范和指南
  • EN 60679-1-2007 经质量评定的石英晶体振荡器.第1部分:总规范
  • EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.第9部分:压电晶体元件寄生振荡测量
  • EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件活性和频率下降的测量 IEC 60444-7-2004
  • EN 60455-3-2-2003 电气绝缘用树脂基反应性化合物.第3部分:单项材料规范.表2:填石英的环氧树脂复合物 IEC 60455-3-2-2003;替代 HD 307.3.2 S2-1997
  • EN 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件的测试设备 IEC 60444-8-2003
  • EN 60122-1-2002 经质量评定的石英晶体振荡器.第1部分:总规范 IEC 60122-1-2002;替代 EN 168000-1993+A2-1998
  • EN 60679-5-1-1998 经质量评定的石英晶体振荡器.第5-1部分:空白详细规范.合格鉴定 IEC 60679-5-1-1998
  • EN 60679-5-1998 经质量评定的石英晶体振荡器.第5部分:分规范.合格鉴定 IEC 60679-5-1998
  • EN 60679-4-1-1998 经质量评定的石英晶体振荡器.第4-1部分:空白详细规范.性能鉴定 IEC 60679-4-1-1998;替代 EN 169101-1993
  • EN 60679-4-1998 经质量评定的石英晶体振荡器.第4部分:分规范.性能鉴定;IEC 60679-4-1997;替代EN 169100-1993
  • EN 169000-1998 通用规范:石英晶体振荡器;包含修改件A1-1998;替代CECC 69000 第1版-1991
  • EN 60444-2-1997 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第2部分:测量石英谐振器的动态电容的相位偏离法
  • EN 60444-1-1997 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第1部分:用π型网络零相位技术测量石英谐振器的谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • EN 60444-5-1997 石英谐振器参数测量.第5部分:用自动网络分析仪和误差修正技术评定电气参数的测量方法
  • EN 60444-3-1997 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第3部分:用与并联电容量Co补偿相连的π网络相位技术测量不超过200 MHz
  • EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl,负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)
  • EN 168100-1993 分规范:压电石英(结构类型认定);包含修改件A1和A2-1993[替代:CECC CECC 68 100 第1版]
  • EN 169100-1993 分规范:压电石英(结构类型认定)
  • EN 169101-1993 空白详细规范:石英晶体控制振荡器(性能验收)
  • EN 168200-1993 分规范:压电石英(结构类型认定)(包含修改件A1-1993)
  • EN 60682-1993 测量石英卤钨灯夹封部温度的标准方法;包含修改件A2-1997;IEC 682-1980+A1-1987+A2-1997
  • EN 168101-1992 空白详细规范.石英晶体部件(性能认可)
  • EN 168201-1992 空白详细规范.石英晶体部件(质量认可)
  • HD 307.3.2 S1-1988 电气绝缘用无溶剂可聚合树脂化合物规范.第3部分:单项材料规范.表2:石英充填环氧树脂化合物

行业标准-医药,关于石英 皿的标准

美国国防后勤局,关于石英 皿的标准

国家军用标准-国防科工委,关于石英 皿的标准

美国机动车工程师协会,关于石英 皿的标准

国家计量检定规程,关于石英 皿的标准

欧洲标准化委员会,关于石英 皿的标准

  • EN 12904-2005 人类生活用水处理用制品.石英砂和石英砾石
  • EN ISO 3262-15-2000 涂料填充剂.规范和试验方法.第15部分:透明石英ISO 3262-15-2000
  • EN ISO 3262-21-2000 涂料填充剂.规范和试验方法.第21部分:石英砂(地下天然石英)ISO 3262-2000
  • EN ISO 3262-19-2000 涂料填充剂.规范和试验方法.第19部分:沉淀石英ISO 3262-19-2000
  • EN ISO 3262-20-2000 涂料填充剂.规范和试验方法.第20部分:烟化石英 ISO 3262-20-2000
  • EN ISO 3262-13-1998 涂料填充剂.规范和试验方法.第13部分:天然石英(地)ISO 3262-13-1997
  • HD 307.3.2 S1-1989 用于电绝缘的无溶剂可聚合树脂胶规范.第3部分:各种材料规范.活页2:石英填充环氧树脂胶

行业标准-航天,关于石英 皿的标准

台湾地方标准,关于石英 皿的标准

印度尼西亚标准,关于石英 皿的标准

美国电子电路和电子互连行业协会,关于石英 皿的标准

行业标准-地质,关于石英 皿的标准

  • DZ/T 0184.5-1997 石英单矿物及其中热液流体包裹体的铷锶同位素地质年龄测定
  • DZ 0035-1992 ZSM—3型石英弹簧重力仪

美国电子元器件、组件及材料协会,关于石英 皿的标准

美国电气电子工程师学会,关于石英 皿的标准

  • IEEE N 322-1997 直接和间接示值石英纤维袖珍剂量计的检验和测试验规范
  • IEEE N 42.6-1980 石英纤维静电计型曝光计和配套使用的曝光计的相互关系
  • IEEE/ANSI N 42.6-1980 石英纤维静电计型号曝光表和伴随曝光表充电器的相互关系
  • IEEE N322-1977 直接和间接示值石英纤维袖珍剂量计的检验和测试验规范

欧洲航空工业协会,关于石英 皿的标准

  • AECMA PREN 4438-1997 航空航天系列.金属材料试验方法 用透明石英膨胀仪测试固体材料线性热膨胀

欧洲航空航天和国防工业标准化协会,关于石英 皿的标准

  • ASD-STAN PREN 4438-1997 航空航天系列.金属材料的试验方法.含玻璃状石英的固体材料的线性热膨胀.膨胀计法;第P1版

行业标准-商品检验,关于石英 皿的标准

行业标准-兵工民品,关于石英 皿的标准

丹麦标准化协会,关于石英 皿的标准

  • DS/IEC 122-2-1-1993 频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南.第1节:微处理器时钟发生器用石英晶体元件
  • DS/IEC 122-3-1992 国际电工委员会IEC标准No.122-3-1977以及附录No.1-1984 + 附录No.2-1991频率控制和选择用石英晶体元件.第3部分:标准外形和引线连接
  • DS/IEC 455-3-2-1988 电气绝缘用无溶剂可聚合树脂化合物规范.第3部分:单项材料规范.第2活页:石英充填环氧树脂复合物
  • DS/IEC 122-2-1985 频率控制和选择用石英谐振器.第2部分:频率控制和选择用石英谐振器的使用导则
  • DS/IEC 122-1-1985 频率控制和选择用石英谐振器.第1部分:标准值和试验条件

欧洲电工电子元器件标准,关于石英 皿的标准

行业标准-黑色冶金,关于石英 皿的标准

行业标准-核工业,关于石英 皿的标准

(美国)海军,关于石英 皿的标准

加拿大通用标准委员会,关于石英 皿的标准

(美国)电子工业联合会,关于石英 皿的标准

澳大利亚标准协会,关于石英 皿的标准

  • AS 4350.2-1999 重矿物砂精矿.物理测试.重矿物和释放石英的测定.重质液体分离方法
  • AS 4350.2-1999 重矿物砂精矿.物理测试.重矿物和释放石英的测定.重质液体分离方法

石英 皿皿 石英 玻璃石英 皿 波长紫外 石英 皿石英表 石英石英 粒石英 砂石英 舟石英 窗石英 天平石英 支架石英 制品石英 烧瓶石英 衍射石英 玻璃石英 样品石英 光纤石英 成分石英 结构

 

可能用到的仪器设备

 

旋片高真空泵

旋片高真空泵

北京中科科尔仪器有限公司

 

A3系列原子吸收分光光度计

A3系列原子吸收分光光度计

北京普析通用仪器有限责任公司

 

AIM-8800红外显微镜

AIM-8800红外显微镜

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

AFS-933型 原子荧光光度计

AFS-933型 原子荧光光度计

北京吉天仪器有限公司

 

AF-7500型原子荧光光度计

AF-7500型原子荧光光度计

北京东西分析仪器有限公司

 

 




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号