测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

本专题涉及测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法的标准有9条。

国际标准分类中，测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法涉及到半导体材料。

在中国标准分类中，测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法涉及到半导体二极管、半导体分立器件综合。

美国材料与试验协会，关于测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法的标准

• ASTM F76-08(2016) 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-08(2016)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-08 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-2008 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
• ASTM F76-2008(2016) 测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-86(1996)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-1986(1996)e1 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
• ASTM F76-1986(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

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