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表面 半高
本专题涉及表面 半高的标准有23条。
国际标准分类中，表面 半高涉及到长度和角度测量、半导体分立器件、纺织机械、道路工程、声学和声学测量、钟表学、光学和光学测量、采矿和挖掘、导体材料、电学、磁学、电和磁的测量、电工器件、建筑物中的设施。
在中国标准分类中，表面 半高涉及到基础标准与通用方法、物理学与力学、通用电子测量仪器设备及系统、纺织机械零部件、电子技术专用材料、公路工程、筑路材料、钟表、电工材料和通用零件综合。
美国材料与试验协会，关于表面 半高的标准
- ASTM C835-06 最高达1400℃的表面的整个半球辐射的标准试验方法
- ASTM C835-01(2006) 最高达1400℃的表面的整个半球辐射的标准试验方法
- ASTM C835-06(2013)e1 最高达1400℃的表面的整个半球辐射的标准试验方法
- ASTM C835-01 最高达1400℃的表面的整个半球辐射热的标准试验方法
- ASTM G177-03(2020) 参考太阳紫外光谱分布标准表:37°；倾斜表面半球形
CZ-CSN，关于表面 半高的标准
- CSN 72 2623 Cast.2-1977 半厚表面砖．CIPd材料规格
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于表面 半高的标准
- JEDEC JESD22-B108A-2003 表面装贴半导体仪器的共面性测试
- JEDEC JESD22-B108B-2010 表面贴装半导体器件的共面性测试
- JEDEC JEP167-2013 半导体封装中界面粘附的表征
- JEDEC JEP167A-2020 半导体封装中界面粘附的表征
HU-MSZT，关于表面 半高的标准
- MSZ 720/1.lap-1961 铝制半成品的硬度和表面特性
- MSZ 720/2.lap-1961 半成品铝制品的硬度级和表面特异性
行业标准-纺织，关于表面 半高的标准
- FZ/T 90069-1995 零件表面交接处图形所代表的圆角半径尺寸要求
SE-SIS，关于表面 半高的标准
- SIS STS-3-1932 工具轮廓，折叠（半槽）表面木槽，（R和RV型）
行业标准-电子，关于表面 半高的标准
- SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法
英国标准学会，关于表面 半高的标准
- BS 8870:2022+A1:2023 道路材料 高摩擦表面 规格
法国标准化协会，关于表面 半高的标准
- NF S31-252-1:2004 使用表面外观表征路面结构.第1部分:平均剖面高度的测定
- NF S86-641:1999 钟表业.表背面带螺纹的安装在表盘环里的表盘圆孔用两半式表壳壳体
德国标准化学会，关于表面 半高的标准
- DIN EN ISO 13473-1:2004 利用表面外观表征路面结构.第1部分:平均剖面高度的测定
- DIN 21911:2008 矿山平面图.地表面上的目标和等高线
- DIN VDE 0603-2-1:2017 仪表面板. 第2-1部分: 最高63 A的直接测量用仪表面板
韩国科技标准局，关于表面 半高的标准
- KS C 6111-4-2007 超高频带中大面积高温超导薄膜的表面电阻均匀性
- KS C 1309-2013 面板用热电式高频电流表1
