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电子显微测量
本专题涉及电子显微测量的标准有39条。
国际标准分类中，电子显微测量涉及到长度和角度测量、分析化学、表面处理和镀涂。
在中国标准分类中，电子显微测量涉及到物质成份分析仪器与环境监测仪器、材料防护、合成材料综合、金属化学分析方法综合。
PH-BPS，关于电子显微测量的标准
- PNS ISO 21363:2021 纳米技术.用透射电子显微镜测量粒度和形状分布
法国标准化协会，关于电子显微测量的标准
- NF T16-404:2020 纳米技术. 通过透射电子显微镜测量粒度和形状分布
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布
丹麦标准化协会，关于电子显微测量的标准
- DS/ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
欧洲标准化委员会，关于电子显微测量的标准
- EN ISO 19749:2023 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- prEN ISO 21363:2021 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布（ISO 21363:2020）
英国标准学会，关于电子显微测量的标准
- BS ISO 19749:2021 纳米技术 用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS ISO 21363:2020 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- 18/30351679 DC BS ISO 19749 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- 18/30351714 DC BS ISO 21363 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS EN ISO 9220:1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
国际标准化组织，关于电子显微测量的标准
- ISO 19749:2021 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
KR-KS，关于电子显微测量的标准
- KS C ISO 19749-2023 纳米技术——用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- KS C ISO 21363-2023 纳米技术——用透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- KS D 2716-2023 纳米颗粒直径的测量-透射电子显微镜
美国材料与试验协会，关于电子显微测量的标准
- ASTM B748-90(2006) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
- ASTM B748-90(1997) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
- ASTM B748-90(2010) 扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM B748-90(2021) 用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM B748-90(2016) 通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法
- ASTM B748-90(2001) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
ES-UNE，关于电子显微测量的标准
- UNE-EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- UNE-EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
国家质检总局，关于电子显微测量的标准
- GB/T 43196-2023 纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
AT-ON，关于电子显微测量的标准
- OENORM EN ISO 21363:2021 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布（ISO 21363:2020）
未注明发布机构，关于电子显微测量的标准
- DIN EN ISO 21363:2022 纳米技术 – 使用透射电子显微镜测量颗粒尺寸和颗粒形状分布
德国标准化学会，关于电子显微测量的标准
- DIN EN ISO 19749:2023-07 纳米技术 - 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布（ISO 19749:2021）
- DIN EN ISO 21363:2022-03 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布 (ISO 21363:2020)
BELST，关于电子显微测量的标准
- STB 2210-2011 纳米级碳和非碳材料以及基于它们的复合材料 使用扫描电子显微镜测量确定参数的方法
- STB 2209-2011 纳米级碳和非碳材料以及基于它们的复合材料 使用扫描电子显微镜测量确定元素组成的技术
RU-GOST R，关于电子显微测量的标准
- GOST R 8.697-2010 确保测量一致性的国家体系.晶体中的平面间距.利用透射电子显微镜的测量方法
- GOST R 8.631-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子测量显微镜.验证方法
韩国科技标准局，关于电子显微测量的标准
- KS D 2716-2008(2018) 纳米颗粒直径的测量－透射电子显微镜
- KS D 8544-2006 金属涂层.涂层厚度测量.透射电子显微镜法
- KS D 8544-2016(2021) 金属涂层——涂层厚度测量——透射电子显微镜法
