EN
RU
ES
衍射峰半宽
本专题涉及衍射峰半宽的标准有19条。
国际标准分类中，衍射峰半宽涉及到饮料、半导体分立器件、光电子学、激光设备、金属材料试验、无损检测、化工产品、半导体材料、辐射测量。
在中国标准分类中，衍射峰半宽涉及到、半导体发光器件、金属物理性能试验方法、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、冶金辅助原料矿、轻金属及其合金分析方法、元素半导体材料、通用核仪器。
中国团体标准，关于衍射峰半宽的标准
- T/BJWA 004-2022 低赫兹17O-NMR半高峰宽天然饮用水
- T/BJWA 005-2022 水质17O-NMR半高峰宽测定 核磁共振法
- T/IAWBS 017-2022 金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
- T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
- T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法
行业标准-电子，关于衍射峰半宽的标准
- SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
- SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
- SJ 2355.7-1983 半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
- SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
国家质检总局，关于衍射峰半宽的标准
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
- GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
国际标准化组织，关于衍射峰半宽的标准
- ISO 19950:2015 主要用于铝生产的氧化铝. α氧化铝含量的测定. 采用X射线衍射净峰面积的方法
英国标准学会，关于衍射峰半宽的标准
- BS ISO 19950:2015 主要用于铝生产的氧化铝. α氧化铝含量的测定. 采用X射线衍射净峰面积的方法
RU-GOST R，关于衍射峰半宽的标准
- GOST 19834.3-1976 半导体辐射器.辐射能量相对光谱分布和辐射光谱宽度测量方法
德国标准化学会，关于衍射峰半宽的标准
- DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于衍射峰半宽的标准
- IEEE N42.31-2003 宽带隙半导体电离辐射探测器分辨率和效率的测量程序
美国国家标准学会，关于衍射峰半宽的标准
- ANSI N42.31-2003 离子辐射的宽能带隙半导体探测器的分辨和功效的测量规程
法国标准化协会，关于衍射峰半宽的标准
- NF EN ISO 11146-2:2021 激光器和激光相关设备 光束宽度、发散角和衍射极限系数的测试方法 第 2 部分：一般像散光束
