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x荧光镀层测厚仪
本专题涉及x荧光镀层测厚仪的标准有33条。
国际标准分类中，x荧光镀层测厚仪涉及到分析化学、表面处理和镀涂、长度和角度测量、珠宝、钟表学。
在中国标准分类中，x荧光镀层测厚仪涉及到Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、电容器、电化学、热化学、光学式分析仪器、其他日用品、材料防护、工艺美术品、钟表。
国家计量技术规范，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- JJF 1306-2011 X射线荧光镀层测厚仪校准规范
ECIA - Electronic Components Industry Association，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- CB-13-1990 X 射线荧光测量镀层厚度
美国电子元器件、组件及材料协会，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- ECA CB-13-1990 镀层厚度测定的X射线荧光
工业和信息化部/国家能源局，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪
IN-BIS，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- IS 12860-1989 X射线荧光技术法测定金属镀层厚度
行业标准-轻工，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法 X荧光光谱法
- QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
- QB/T 1135-1991 首饰金银覆盖层厚度的测定方法 X射线荧光光谱法
行业标准-电子，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
德国标准化学会，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- DIN EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法
法国标准化协会，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱法
- NF A91-114:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光度仪法
- NF A91-116:1976 金属镀层.厚度的测量.用X射线光谱术
韩国科技标准局，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- KS D ISO 3497-2002(2022) 金属镀层镀层厚度的测量X射线光谱法
- KS D ISO 3497:2002 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
- KS D ISO 4519:2009 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法
- KS D ISO 3497-2002(2017) 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱仪的方法
- KS D ISO 3868:2002 金属镀层和其他无机物涂层.涂层厚度的测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法
ZA-SANS，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- SANS 3497:1990 金属镀层．镀层厚度的测定．X射线光谱测定法
- SANS 3497:2008 金属镀层.涂层厚度测量.X射线光谱法
- SANS 4518:1980 金属镀层．镀层厚度的测量．表面光法度轮廓仪法
国际标准化组织，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- ISO 3497:1990 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
- ISO 3497:2000 金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
- ISO 3868:1976 金属和其他无机覆盖层 镀层厚度的测量 裴索多光束干涉仪法
IPC - Association Connecting Electronics Industries，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- IPC TM-650 2.3.44-2016 通过 X 射线荧光（XRF）光谱法测定化学镀镍（EN）层的厚度和磷含量
TR-TSE，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- TS 3181-1978 金属覆盖层 镀层厚度的测量．X射线光谱法
欧洲标准化委员会，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- EN ISO 4518:2021 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法
- EN ISO 4518:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法(ISO 4518-1990)
- EN ISO 3497:2000 金属覆盖层.镀层的厚度测量.X射线光谱法ISO 3497-2000
- EN ISO 3868:1994 金属和其他无机覆盖层.镀层厚度的测量.裵索多光束干射仪法(ISO 3868-1976)
英国标准学会，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- BS ISO 17514:2005 时间测量仪表.荧光镀层.试验方法和要求
美国材料与试验协会，关于x荧光镀层测厚仪的标准
- ASTM B568-98(2014) 用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法
- ASTM B568-98(2009) 用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法
