怎么扫描金属内部

本专题涉及怎么扫描金属内部的标准有47条。

国际标准分类中，怎么扫描金属内部涉及到表面处理和镀涂、金属材料试验、光学设备、长度和角度测量、医疗设备、润滑剂、工业油及相关产品、振动、冲击和振动测量、集成电路、微电子学、半导体分立器件、无线通信。

在中国标准分类中，怎么扫描金属内部涉及到材料防护、金相检验方法、电子光学与其他物理光学仪器、犯罪鉴定技术、发动机总体、航空与航天用非金属材料、半导体集成电路、半导体分立器件综合、广播、电视发送与接收设备。

国家质检总局，关于怎么扫描金属内部的标准

GB/T 31563-2015 金属覆盖层厚度测量扫描电镜法
GB/T 30834-2014 钢中非金属夹杂物的评定和统计扫描电镜法
GB/T 17722-1999 金属盖层厚度的扫描电镜测量方法

国际标准化组织，关于怎么扫描金属内部的标准

ISO 9220-2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
ISO 9220-1988 金属覆盖层镀层厚度测量扫描电子显微镜法
ISO 9220:1988 金属涂层——涂层厚度的测量——扫描电镜法

公安部，关于怎么扫描金属内部的标准

GA/T 1938-2021 法庭科学金属检验扫描电子显微镜/X射线能谱法

美国材料与试验协会，关于怎么扫描金属内部的标准

ASTM B748-90(2021) 用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法
ASTM F2978-20 用磁共振成像优化金属对金属髋关节置换装置临床诊断评估扫描顺序的标准指南
ASTM D8315-20 用扫描平板电极原子发射光谱法测定用过的工业油中磨损金属和污染元素的标准试验方法
ASTM E3081-16 使用金属和非金属部件的扫描正弦输入的过程补偿共振测试的异常检测的标准操作
ASTM B748-90(2016) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
ASTM E2534-15 用于金属和非金属部件的扫描正弦输入的过程补偿共振测试的标准实践
ASTM E2534-2015 通过正弦扫描输入测试金属与非金属零件过程补偿谐振的标准实施规程
ASTM F2978-13 使用磁共振成像优化金属对金属髋关节置换装置的临床诊断评估的扫描序列指南
ASTM F2978-2013 采用磁共振成像对金属对金属髋关节置换术用装置进行临床诊断评估的优化扫描序列指南
ASTM B748-90(2010) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
ASTM E2534-10 用于金属和非金属部件的扫描正弦输入的过程补偿共振测试的标准实践
ASTM B748-90(2006) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
ASTM B748-90(1997) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
ASTM B748-90(2001) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
ASTM B748-1990(2001) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
ASTM B748-1990(2010) 扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
ASTM B748-1990(2006) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
ASTM B748-1990(1997) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
ASTM B748-1990(2016) 通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法

陕西省市场监督管理局，关于怎么扫描金属内部的标准

DB61/T 1217-2018 变形金属超声波水浸C扫描检测

行业标准-航空，关于怎么扫描金属内部的标准

HB 20094.4-2012 航空工作液中磨损金属含量检测第4部分：扫描电镜和能谱仪检测法

韩国标准，关于怎么扫描金属内部的标准

KS D ISO 9220-2009 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
KS D ISO 9220-2009 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法

，关于怎么扫描金属内部的标准

SIS SS-ISO 9220-1989 金属涂层．涂层厚度测量．扫描电子显微镜方法

美国国防后勤局，关于怎么扫描金属内部的标准

DLA SMD-5962-96812 REV A-2003 双极互补金属氧化物半导体,10-BIT扫描端口多支路标准1149.1接收器,硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-96827 REV A-2003 互补金属氧化物半导体,8-BIT诊断扫描寄存器,晶体管输入和有限输出电压摆动,硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-96811 REV A-1999 双极互补金属氧化物半导体,3.3伏特18-BIT母线三状态输出接收器扫描监测装置,晶体管输入硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-96747-1997 双极的互补金属氧化物半导体,8-BIT双向的数据总线扫描路径选择器晶体管兼容输入硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-96698-1996 抗辐射双极互补金属氧化物半导体,18-BIT三状态输出收发机和寄存器扫描系统装置,晶体管兼容输入硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-95614-1995 先进双极互补金属氧化物半导体 18-BIT母线无线电收发机扫描测试装置,三状态输出量,和晶体管兼容输入硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-91746-1994 硅单块倒转三态输出,带八进制缓冲器的扫描测试装置,双极互补金属氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-91725-1994 硅单块晶体管-晶体管逻辑电路兼容输出,带八进制D型止动栓的扫描测试装置,双极互补金属氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-91726-1994 硅单块三态输出,带八进制缓冲器的扫描测试装置,双极互补金属氧化物半导体,数字微型电路