单晶衍射仪和x射线衍射仪

本专题涉及单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准有70条。

国际标准分类中，单晶衍射仪和x射线衍射仪涉及到光学和光学测量、无损检测、辐射防护、分析化学、化工产品、金属生产、金属材料试验、职业安全、工业卫生、教育、非金属矿、无机化学、词汇、管道部件和管道、陶瓷、半导体材料、涂料配料、长度和角度测量。

在中国标准分类中，单晶衍射仪和x射线衍射仪涉及到电子光学与其他物理光学仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学计量、电离辐射计量、金属无损检验方法、放射卫生防护、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、金属化学分析方法综合、金相检验方法、教学专用仪器、物性分析仪器、金属物理性能试验方法、教育、学位、学衔、非金属矿、无机盐、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、、物理学与力学、元素半导体材料。

行业标准-机械，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
JB/T 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
JB/T 9400-2010 X射线衍射仪技术条件

国家计量检定规程，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG 629-1989 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG(地质) 1014-1990 多晶X-射线衍射仪检定规程

英国标准学会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

BS EN 13925-3:2005(2009) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
BS EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
BS EN 13925-2:2003(2008) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.程序
BS EN 13925-2:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.程序
BS EN 13925-1:2003(2008) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.通用原理
BS EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.通用原理
BS EN 1330-11:2007 无损检验.术语.多晶和无定形材料X射线衍射用术语
BS ISO 22278:2020 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
20/30360821 DC BS ISO 22278 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷）采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法

国家质检总局，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
GB/T 8360-1987 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
GB/T 8362-1987 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
GB/T 8359-1987 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法

日本工业标准调查会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法

德国标准化学会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
DIN EN 13925-2:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
DIN EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第1部分:总则
DIN EN 1330-11:2007-09 无损检测术语第11部分：多晶和非晶材料 X 射线衍射中使用的术语
DIN EN 1330-11:2007 无损检验.专业术语.第11部分:在多晶和非晶材料的X射线衍射中使用的术语
DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定

欧洲标准化委员会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
EN 13925-2:2003 无损检测.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
EN 1330-11:2007 无损检验.专业术语.在多晶和非晶材料的X射线衍射中使用的术语
EN 13925-1:2003 无损检验.多晶体材料和无定形材料的X射线衍射.第1部分:一般原理

法国标准化协会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 无损检验多晶和非晶材料的X射线衍射第2部分：程序
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第1部分:基本原则
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 无损检测.术语.第11部分:多结晶和非结晶材料中X射线衍射用术语

丹麦标准化协会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

DS/EN 13925-3:2005 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
DS/EN 13925-2:2003 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第2部分：程序
DS/EN 13925-1:2003 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第1部分：一般原则
DS/EN 1330-11:2007 无损检测术语多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语

立陶宛标准局，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

LST EN 13925-3-2005 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
LST EN 13925-2-2004 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第2部分：程序
LST EN 13925-1-2004 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第1部分：一般原则
LST EN 1330-11-2007 无损检测术语多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语

AENOR，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

UNE-EN 13925-3:2006 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
UNE-EN 13925-2:2004 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第2部分：程序
UNE-EN 13925-1:2006 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第1部分：一般原则
UNE-EN 1330-11:2008 无损检测术语第11部分：多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语

卫生部国家职业卫生标准，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准

工业和信息化部，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

YB/T 5338-2019 钢中奥氏体定量测定 X射线衍射仪法

行业标准-教育，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

美国国家标准学会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

ANSI/ASTM E915:1996 测量剩余应力用的X射线衍射仪验证方法

行业标准-黑色冶金，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

YB/T 5337-2006 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
YB/T 5338-2006 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
YB/T 5336-2006 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法

美国材料与试验协会，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

ASTM E915-96 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-16 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-96(2002) 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-19 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准试验方法
ASTM E915-10 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法
ASTM E915-21 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准实施规程
ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法

国家计量技术规范，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

JJF 1256-2010 X射线单晶体定向仪校准规范

行业标准-海关，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

福建省地方标准，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

DB35/T 1914-2020 β晶型聚丙烯管材和管件中β晶含量的测定（X 射线衍射法）

国际标准化组织，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

ISO 22278:2020 精细陶瓷（高级陶瓷高级工业陶瓷）.用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的试验方法

RU-GOST R，关于单晶衍射仪和x射线衍射仪的标准

GOST R 8.698-2010 确保测量一致性的国家体系.纳米粒子和薄膜的空间参数.利用小角度X-射线散射衍射仪的测量方法