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单晶的测试方法
本专题涉及单晶的测试方法的标准有7条。
国际标准分类中，单晶的测试方法涉及到半导体材料、金属材料试验。
在中国标准分类中，单晶的测试方法涉及到化合物半导体材料、金属物理性能试验方法。
行业标准-电子，关于单晶的测试方法的标准
- SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法
- SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
- SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶的测试方法的标准
- GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
- GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法
韩国科技标准局，关于单晶的测试方法的标准
- KS D 0260-1989(1994) 具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法
国家质检总局，关于单晶的测试方法的标准
- GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
