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二极管 测试
本专题涉及二极管 测试的标准有33条。
国际标准分类中，二极管 测试涉及到半导体分立器件、印制电路和印制电路板、光电子学、激光设备、电灯及有关装置。
在中国标准分类中，二极管 测试涉及到电力半导体器件、部件、半导体二极管、半导体光敏器件、激光器件、微波、毫米波二、三极管、半导体发光器件、计量综合、。
行业标准-机械，关于二极管 测试的标准
- JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法
国家质检总局，关于二极管 测试的标准
- GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法
美国电气电子工程师学会，关于二极管 测试的标准
- IEEE No 256-1963 IEEE 半导体二极管测试程序
- IEEE PC62.59/D4, June 2019 IEEE 批准的硅 PN 结钳位二极管测试方法和首选值标准草案
行业标准-电子，关于二极管 测试的标准
- SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
- SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法
- SJ 2749-1987 半导体激光二极管测试方法
- SJ 2137-1982 硅稳流二极管测试方法.总则
- SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
- SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法.总则
- SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法
- SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法.正向压降测试方法
- SJ 2658.3-1986 半导体红外发光二极管测试方法.反向电压测试方法
- SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法.辐射通量的测试方法
- SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法.调制宽带的测试方法
- SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法.输出光功率的测试方法
- SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法.法向辐射率的测试方法
- SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法
- SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法.脉冲响应特性的测试方法
- SJ 2658.13-1986 半导体红外发光二极管测试方法.输出光功率温度系数的测试方法
- SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
- SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法.辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
韩国科技标准局，关于二极管 测试的标准
- KS C 6045-1991(2001) 半导体整流二极管测试方法
- KS C 6045-1986 半导体整流二极管测试方法
- KS C 6704-1991(2001) 播放 用于记录的激光二极管测试方法
- KS C 6991-2013 光纤传输光电二极管的测试方法
- KS C 6704-2003 用于记录和回放的激光二极管的测试方法
工业和信息化部，关于二极管 测试的标准
- SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法
- SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南
行业标准-兵工民品，关于二极管 测试的标准
- WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
国家计量检定规程，关于二极管 测试的标准
- JJG(电子) 04013-1988 BJ2912（QE7）型稳压二极管测试仪试行检定规程
德国标准化学会，关于二极管 测试的标准
- DIN IEC 62088:2002-09 核仪器 闪烁探测器光电二极管 测试程序
中国团体标准，关于二极管 测试的标准
- T/CSA 015-2012 有机发光二极管照明 测试方法
