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陶瓷 薄膜 方法

本专题涉及陶瓷 薄膜 方法的标准有21条。

国际标准分类中，陶瓷 薄膜 方法涉及到陶瓷、半导体材料。

在中国标准分类中，陶瓷 薄膜 方法涉及到特种陶瓷。

工业和信息化部，关于陶瓷 薄膜 方法的标准

• JC/T 2409-2017 精细陶瓷薄膜结合力测试方法

韩国科技标准局，关于陶瓷 薄膜 方法的标准

• KS L 1619-2013(2018) 四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法

KR-KS，关于陶瓷 薄膜 方法的标准

• KS L 1619-2013(2023) 用四点探针阵列测试导电陶瓷薄膜电阻率的方法
• KS L 1620-2013(2023) 范德波法测量导电陶瓷薄膜电阻率的试验方法
• KS L ISO 23737-2023 精细陶瓷（高级陶瓷、高级工业陶瓷）干燥和潮湿条件下精细陶瓷薄膜磨损和摩擦特性的评定方法

日本工业标准调查会，关于陶瓷 薄膜 方法的标准

• JIS R 1683:2007 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
• JIS R 1683:2014 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
• JIS R 1636:1998 精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
• JIS R 1635:1998 精细陶瓷薄膜的可视光透射率的试验方法
• JIS R 1637:1998 用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法

国际标准化组织，关于陶瓷 薄膜 方法的标准

• ISO/DIS 19606:2023 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）原子力显微镜精细陶瓷薄膜表面粗糙度测试方法
• ISO 19606:2017 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 采用原子力显微技术的精细陶瓷薄膜表面硬度试验方法
• ISO 23738:2021 精细陶瓷（高级陶瓷、高级工业陶瓷）.潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量方法
• ISO 17861:2014 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱透射率的测量方法
• ISO 23737:2021 精细陶瓷（高级陶瓷 高级工业陶瓷）干燥和潮湿条件下精细陶瓷薄膜磨损和摩擦特性的评定方法

英国标准学会，关于陶瓷 薄膜 方法的标准

• BS ISO 19606:2017 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 采用原子力显微技术的精细陶瓷薄膜表面硬度试验方法
• 23/30461942 DC BS ISO 19606 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 用原子力显微镜测定精细陶瓷薄膜表面粗糙度的方法
• BS ISO 17861:2014 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱透射率的测量方法
• 20/30389596 DC BS ISO 23738 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量方法
• 20/30389593 DC BS ISO 23737 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 精细陶瓷薄膜干湿条件下的磨损试验方法
• BS ISO 23737:2021 精细陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷） 干燥和潮湿条件下精细陶瓷薄膜磨损和摩擦特性的评估方法

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