Werkzeugmikroskopische Messung

Für die Werkzeugmikroskopische Messung gibt es insgesamt 201 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Werkzeugmikroskopische Messung die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Metrologie und Messsynthese, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Drähte und Kabel, Kernenergietechnik, Fluidkraftsystem, Physik Chemie, Luftqualität, analytische Chemie, Textilfaser, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Längen- und Winkelmessungen, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, Mikrobiologie, Mechanischer Test, Prüfung von Metallmaterialien, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Zerstörungsfreie Prüfung, Kohle, Holzverarbeitungstechnologie, Elektronische Anzeigegeräte.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Werkzeugmikroskopische Messung

KS B 5602-1995 Mikroskope für Werkzeugmacher
KS B 5602-1995(2021) Mikroskope für Werkzeugmacher
KS B 5602-1995(2016) Mikroskope für Werkzeugmacher
KS I ISO 4407:2012 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS E 4005-2007(2012) Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS E 4005-1981 Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
KS D 0204-2007 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D 8519-2009(2015) Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D 0204-1982 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie

Professional Standard - Machinery, Werkzeugmikroskopische Messung

JB/T 10573-2006 Werkzeugmacher-Mikroskop
JB/T 10573-2013 Werkzeugmikroskop
JB/T 9349-1999 Messmesser für das Mikroskop des Werkzeugmachers
JB/T 9339-1999 Messmikroskop

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Werkzeugmikroskopische Messung

CNS 11276-1985 Werkzeugmacher-Mikroskope

全国标准信息公共服务平台, Werkzeugmikroskopische Messung

GB/T 3719-1988 Werkzeugmikroskop

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Werkzeugmikroskopische Messung

JIS B 7153:1995 Messmikroskope
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS M 8816:1992 Feste mineralische Brennstoffe – Methoden der mikroskopischen Messung von Mazeralen und Reflexionsgrad
JIS A 1481-4:2016 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 4: Quantitative Bestimmung von Asbest mit gravimetrischen und mikroskopischen Methoden

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Werkzeugmikroskopische Messung

JJG 56-2000 Eichordnung für Universalmessmikroskope und Herstellermikroskope
JJG(航天) 50-1988 Kalibriervorschriften für Werkzeugmikroskope
JJG 571-2004 Lesemikroskop und Messmikroskop
JJG 571-1988 Verifizierungsvorschrift für Messmikroskope

RU-GOST R, Werkzeugmikroskopische Messung

GOST 8.003-1983 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikroskope für den Werkzeugbau. Methoden und Mittel zur Überprüfung
GOST 8.003-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikroskope für den Werkzeugbau. Überprüfungsverfahren
GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST 8.211-1984 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Okularschraubenmikrometer. Methoden und Mittel zur Überprüfung
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.630-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST ISO 4407-2006 Industrielle Sauberkeit. Bestimmung der Flüssigkeitsverunreinigung durch Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung

IN-BIS, Werkzeugmikroskopische Messung

IS 4329-1967 Spezifikation für messende (mobile) Mikroskope

International Organization for Standardization (ISO), Werkzeugmikroskopische Messung

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 19056-3:2022 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 3: Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
ISO 4912:1981 Textilien; Baumwollfasern; Reifebewertung; Mikroskopische Methode
ISO 19056-1:2015 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 1: Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
ISO 19056-2:2019 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 2: Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO/CD 22262-2:2011 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
ISO/DIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
ISO/FDIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung eines Raman-Mikroskops
ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops

TH-TISI, Werkzeugmikroskopische Messung

TIS 1083-1992 Standard zur Messung der Schichtdicke mittels mikroskopischer Methode

Association of German Mechanical Engineers, Werkzeugmikroskopische Messung

DVS 2804-1975 Erhitztes Werkzeugschweißen (Thermokompressionsschweißen) in der Mikroskopie (Vermessung)
VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Optische Vermessung und Mikrotopographien – Kalibrierung von Interferenzmikroskopen und Tiefenmessnormalen zur Rauheitsmessung
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Optische Messung der Mikrotopographie – Kalibrierung von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen zur Rauheitsmessung
VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

American Society for Testing and Materials (ASTM), Werkzeugmikroskopische Messung

ASTM F728-81(1997)e1 Standardpraxis zur Vorbereitung eines optischen Mikroskops für Dimensionsmessungen
ASTM F72-95(2001) Standardspezifikation für Golddraht zum Bonden von Halbleiterleitungen
ASTM E3060-16 Standardhandbuch für die Messung unsichtbarer Partikel in der biopharmazeutischen Produktion mittels dynamischer (Fluss-)Bildmikroskopie
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
ASTM E1813-96e1 Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2002) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2007) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM D5235-13 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM D5235-14 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D5235-18 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D7201-06(2011) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM D5235-97 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop

(U.S.) Ford Automotive Standards, Werkzeugmikroskopische Messung

FORD FLTM EU-BA 053-1-2000 MIKROSKOPISCHE METHODE ZUR MESSUNG DER ENTKARBUNG AN FEDERSTÄHLEN

Professional Standard - Nuclear Industry, Werkzeugmikroskopische Messung

EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantenschärfe von Diamantwerkzeugen

HU-MSZT, Werkzeugmikroskopische Messung

MNOSZ 15594-1953 Metrologie-Messwerkzeugprisma
MNOSZ 15592-1953 Vermessungswerkzeuge. einzelnes Prisma
MNOSZ 15593-1953 Vermessungswerkzeuge. Biprisma
MNOSZ 15591-1955 Vermessungswerkzeuge. Dreieckiges Prisma vom Majzik-Typ
MNOSZ 22314-1956 Dimensionsmessgeräte für die mechanische Industrie. Mikrometer

Professional Standard - Petrochemical Industry, Werkzeugmikroskopische Messung

SH/T 0336-1994 Bestimmungsmethode des Fettverunreinigungsgehalts (mikroskopische Methode)

British Standards Institution (BSI), Werkzeugmikroskopische Messung

BS ISO 19056-3:2022 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
BS ISO 19056-2:2019 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
BS ISO 19056-1:2015 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 2. Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
21/30395346 DC BS ISO 19056-3. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 3. Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS IEC 63145-21-20:2022 Brillendisplay – Spezifische Messmethoden für VR-Bildqualität. Bildschirmtüreffekt
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode
BS ISO 22262-2:2014 Luftqualität. Schüttgut. Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
23/30420097 DC BS ISO 23124 Oberflächenchemische Analyse. Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
BS ISO 8672:2014 Luftqualität. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode

Group Standards of the People's Republic of China, Werkzeugmikroskopische Messung

T/CSTM 00003-2019 Dickenmessungen zweidimensionaler Materialien Rasterkraftmikroskopie (AFM)
T/GDASE 0008-2020 Bestimmung des Elastizitätsmoduls von Graphenfilmen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

CZ-CSN, Werkzeugmikroskopische Messung

CSN 65 6337-1974 Bestimmung des Gehalts an mechanischen Verunreinigungen mithilfe eines Mikroskops
CSN ISO 1463:1993 Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Werkzeugmikroskopische Messung

GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
GB/T 6462-2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung
GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
GB/T 32282-2015 Messung der Versetzungsdichte in Galliumnitrid-Einkristallen mittels Kathodolumineszenzmikroskopie

VN-TCVN, Werkzeugmikroskopische Messung

TCVN 6035-1995 Textilien.Baumwollfasern.Bewertung der Reife.Mikroskopische Methode

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Werkzeugmikroskopische Messung

IPC TM-650 2.2.14.1-1995 Partikelgrößenverteilung des Lotpulvers – Messmikroskop-Methode

PT-IPQ, Werkzeugmikroskopische Messung

NP 3160-1986 Textil. Messung des Faserdurchmessers. Mikroskopische Projektionsmethode
NP 3563-1988 Textilien Baumwollfasern. Bewertung der Reife. Mikroskopische Methode

KR-KS, Werkzeugmikroskopische Messung

KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Werkzeugmikroskopische Messung

NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Textilien - Quantitative mikroskopische Analyse - Allgemeine Prüfprinzipien
NF EN ISO 20705:2020 Textilien – Quantitative Analyse mittels Mikroskopie – Allgemeine Prüfprinzipien
NF A91-110:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode.
NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.

FI-SFS, Werkzeugmikroskopische Messung

SFS 3458-1989 Plastik. Mikroskopische Bestimmung des schwarzen Rußgehalts in Polyethylen

SE-SIS, Werkzeugmikroskopische Messung

SIS SS-ISO 1463:1983 Metall- und Oxidschichten – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS 11 11 15-1985 Stahl – Methode zur Beurteilung des Schlackeneinschlussgehalts – Mikroskopische Methoden – Manuelle Partikelzählung und Berechnung der Größenverteilung
SIS SMS 2953-1971 Messung von Metall- und Oxidschichtdicken durch mikroskopische Untersuchung von Querschnitten

RO-ASRO, Werkzeugmikroskopische Messung

STAS 10552-1976 BESTIMMUNG DES DELTA-FERRIT-GEHALTS IM ABGESCHLOSSENEN METALL DURCH SCHWEISSEN AUSTENITISCHER STÄHLE Mikroskopische Methode
STAS 9070-1981 WOLLE Bestimmung des Faserdurchmessers und des Markfasergehalts mittels Tlie-Projektionsmikroskop

ZA-SANS, Werkzeugmikroskopische Messung

SANS 144:1982 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
SANS 5949:2005 Werkzeugstähle und Wälzlagerstähle – Mikrografische Methode zur Beurteilung der Karbidverteilung anhand von Referenz-Mikrofotografien

German Institute for Standardization, Werkzeugmikroskopische Messung

DIN 58959-4:1997 Qualitätsmanagement in der medizinischen Mikrobiologie – Teil 4: Anforderungen an lichtmikroskopische Untersuchungen
DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021

European Committee for Standardization (CEN), Werkzeugmikroskopische Messung

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

Danish Standards Foundation, Werkzeugmikroskopische Messung

DS/EN ISO 1463:1994 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)

PL-PKN, Werkzeugmikroskopische Messung

PN C05551-1987 Wasser und Abwasser Bestimmung der Phytoplanktonmenge mittels Inversmikroskop

ES-UNE, Werkzeugmikroskopische Messung

UNE-EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Werkzeugmikroskopische Messung

GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Werkzeugmikroskopische Messung

GJB 5891.5-2006 Prüfverfahren zum Beladen von Material zur Zündung von Sprengkörpern, Teil 5: Messung der Korngröße, Mikroskopie

PH-BPS, Werkzeugmikroskopische Messung

PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

未注明发布机构, Werkzeugmikroskopische Messung

DIN EN ISO 1463 E:2020-06 Microscopic method for measuring coating thickness of metallic and oxide coatings (draft)

Professional Standard - Commodity Inspection, Werkzeugmikroskopische Messung

SN/T 3231-2012 Bestimmung von Asbest in Talkum. Polarisiertes Lichtmikroskop und Röntgenbeugungsmethode

AENOR, Werkzeugmikroskopische Messung

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
UNE-EN ISO 1463:2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)

Lithuanian Standards Office , Werkzeugmikroskopische Messung

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
LST EN ISO 1463:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
LST EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)

AT-ON, Werkzeugmikroskopische Messung

OENORM EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

CH-SNV, Werkzeugmikroskopische Messung

SN EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)

IT-UNI, Werkzeugmikroskopische Messung

UNI 6859-1971 Messgeräte. Messlehre für Celsius-Mikrometer

NO-SN, Werkzeugmikroskopische Messung

NS 1181-1979 Metall- und Oxidbeschichtungen – Messung der Dicke durch mikroskopische Untersuchung von Querschnitten

CU-NC, Werkzeugmikroskopische Messung

NC 90-01-50-1987 Metrologische Sicherheit. Methoden und Mittel zur Überprüfung von Instrumentierungsmikroskopen

Professional Standard - Aviation, Werkzeugmikroskopische Messung

HB 5931.8-1989 Kontaminationstest des Flugzeughydrauliksystems – Bestimmung des Feststoffverschmutzungsgrads der Arbeitsflüssigkeit durch Mikroskop-Kontrastmethode

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Werkzeugmikroskopische Messung

GJB 380.8-1998 Verunreinigungstest des Flugzeughydrauliksystems mithilfe der Mikroskop-Vergleichsmethode zur Bestimmung des Feststoffverunreinigungsgrads der Arbeitsflüssigkeit

International Electrotechnical Commission (IEC), Werkzeugmikroskopische Messung

IEC 63145-21-20:2022 Brillendisplay – Teil 21-20: Spezifische Messmethoden für VR-Bildqualität – Fliegengittereffekt

工业和信息化部, Werkzeugmikroskopische Messung

SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie