Temperaturgesteuerter Oszillator

Für die Temperaturgesteuerter Oszillator gibt es insgesamt 233 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Temperaturgesteuerter Oszillator die folgenden Kategorien: Umwelttests, Chemische Ausrüstung, Ausrüstung für die Gummi- und Kunststoffindustrie, Thermodynamik und Temperaturmessung, Ventil, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Zahnheilkunde, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Gummi, Messung von Volumen, Masse, Dichte und Viskosität, Uhrmacherkunst, Messung von Zeit, Geschwindigkeit, Beschleunigung und Winkelgeschwindigkeit, Umfangreiche elektronische Komponenten, medizinische Ausrüstung, Klebstoffe und Klebeprodukte, Mechanische Komponenten für elektronische Geräte, Paraffin, bituminöse Materialien und andere Erdölprodukte, Wortschatz, Farben und Lacke, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Kernenergietechnik, Plastik, Kraftwerk umfassend, Ausrüstung zur Mineralverarbeitung, Optische Ausrüstung, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Temperaturgesteuerter Oszillator

GB/T 32710.13-2016 Sicherheitsanforderungen für Umweltprüf- und Konditionierungsgeräte. Teil 13: Schüttler, Schüttelwasserbäder und Schüttelinkubatoren
GB/T 9869-1997 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
GB/T 9869-2014 Gummi. Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
GB/T 12085.15-2010 Optik und optische Instrumente.Umweltprüfmethoden.Teil 15:Kombinierte digital gesteuerte breitbandige Zufallsvibration und trockene Hitze oder Kälte

Professional Standard - Education, Temperaturgesteuerter Oszillator

JY 0018-1990 Demonstrator der elektromagnetischen Schwingung

工业和信息化部, Temperaturgesteuerter Oszillator

HG/T 3121-2017 Scheibenoszillierender Vulkanisator

Group Standards of the People's Republic of China, Temperaturgesteuerter Oszillator

T/SHDSGY 120-2022 Temperaturüberwachungs- und Regelgerät für rotierenden Thermostatoszillator
T/HEBQIA 135-2022 OC1409 Quarzoszillator mit konstanter Temperatur
T/CASME 403-2023 Vco für hybride integrierte Schaltkreise
T/GDCKCJH 067-2022 Leistungsanforderungen und Prüfmethoden für einen Oszillationsinkubator mit konstanter Temperatur
T/ZJDJ 004-2022 Temperaturregler mit digitaler Anzeige

工业和信息化部/国家能源局, Temperaturgesteuerter Oszillator

JB/T 12922-2016 Kulturschüttler mit konstanter Temperatur

United States Navy, Temperaturgesteuerter Oszillator

NAVY MIL-O-85432 B NOTICE 1-1996 OSZILLATOR, SPANNUNGSGESTEUERT
NAVY MIL-O-85432 B-1988 OSZILLATOR, SPANNUNGSGESTEUERT
NAVY MIL-B-82564 (3)-1972 BISTABLE MULTIVIBRATORBAUGRUPPE LD 546989 (FÜR FÜHRUNGSSTEUERUNGSTESTSET MK 443 MOD 0 UND MOD 1)
NAVY MIL-B-82564-1968 BISTABLE MULTIVIBRATORBAUGRUPPE LD 546989 (FÜR FÜHRUNGSSTEUERUNGSTESTSET MK 443 MOD 0 UND MOD 1)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Temperaturgesteuerter Oszillator

JIS T 5504:2021 Dentale rotierende und oszillierende Instrumente – Schäfte
JIS C 6710:1995 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
JIS C 6710:1999 Allgemeine Spezifikation quarzgesteuerter Oszillatoren
JIS C 6710:2007 Allgemeine Spezifikation quarzgesteuerter Oszillatoren
JIS K 6296-2:2023 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit Vulkanisationsmessgeräten – Teil 2: Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Temperaturgesteuerter Oszillator

KS C 6504-1987 Öfen für Quarzkristalleinheiten
KS B ISO 15212-1:2006 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
KS B ISO 15212-1-2006(2016) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
KS B ISO 15212-1-2006(2021) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
KS C 6509-2013 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
KS M ISO 3417-2012(2022) Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
KS B ISO 15212-2-2006(2021) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
KS B ISO 15212-2-2006(2016) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
KS B ISO 15212-2:2006 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Temperaturgesteuerter Oszillator

CNS 12256-1988 Öfen für Quarzkristalleinheiten

German Institute for Standardization, Temperaturgesteuerter Oszillator

DIN IEC 60679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
DIN IEC 60679-2:1997-09 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
DIN EN ISO 15212-1 Berichtigung 1:2009-07 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998); Deutsche Fassung EN ISO 15212-1:1999, Berichtigung zu DIN EN ISO 15212-1:1999-06; Deutsche Fassung EN ISO 15212-1:1999/AC:2009
DIN EN ISO 15212-1:1999-06 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998); Deutsche Fassung EN ISO 15212-1:1999
DIN EN 169200:1996 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169200:1995
DIN EN ISO 15212-2 Berichtigung 1:2009-07 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002); Deutsche Fassung EN ISO 15212-2:2002, Berichtigung zu DIN EN ISO 15212-2:2002-07; Deutsche Fassung EN ISO 15212-2:2002/AC:2009
DIN EN ISO 15212-2:2002-07 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002); Deutsche Fassung EN ISO 15212-2:2002
DIN EN 169200:1996-05 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169200:1995
DIN EN 169201:1996 Vordruck für Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169201:1995
DIN EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien (IEC 60679-6:2011); Deutsche Fassung EN 60679-6:2011
DIN EN 169201:1996-05 Vordruck für Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169201:1995
DIN EN 60679-5:1999-05 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5: Rahmenspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5:1998
DIN 53019-4:2016 Rheometrie – Messung rheologischer Eigenschaften mit Rotationsrheometern – Teil 4: Oszillatorische Rheologie
DIN 53019-4:2016-10 Rheometrie – Messung rheologischer Eigenschaften mit Rotationsrheometern – Teil 4: Oszillatorische Rheologie
DIN EN 60679-5-1:1999-05 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5-1: Vordruck für Bauartspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5-1:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5-1:1998 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 60679-1 (1998-09), DIN EN 60679-5...
DIN EN 60679-4-1:1998-12 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4-1: Vordruck für Bauartspezifikation; Fähigkeitsgenehmigung (IEC 60679-4-1:1998); Deutsche Fassung EN 60679-4-1:1998 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 60679-1 (2008-02), DIN EN 60679-4 (1...)
DIN EN 60679-4:1998-11 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4: Rahmenspezifikation - Fähigkeitszulassung (IEC 60679-4:1997); Deutsche Fassung EN 60679-4:1998
DIN EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4: Rahmenspezifikation - Fähigkeitszulassung (IEC 60679-4:1997); Deutsche Fassung EN 60679-4:1998
DIN EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5: Rahmenspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5:1998
DIN EN 60679-3:2014-01 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 3: Normskizzen und Leitungsanschlüsse (IEC 60679-3:2012); Deutsche Fassung EN 60679-3:2013 / Hinweis: DIN EN 60679-3 (2002-07) bleibt neben dieser Norm bis zum 18.01.2016 gültig.

未注明发布机构, Temperaturgesteuerter Oszillator

DIN IEC 679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 2; Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
BS EN ISO 15212-1:1999(2009) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
BS EN ISO 15212-2:2002(2009) Oszillations-Dichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
DIN 53019-4 E:2015-12 Rheometrie – Messung rheologischer Eigenschaften mit Rotationsrheometern – Teil 4: Oszillatorische Rheologie

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Temperaturgesteuerter Oszillator

JJF(纺织) 105-2023 Kalibrierungsspezifikationen für Wasserbadoszillatoren mit konstanter Temperatur
JJF(纺织)105-2023 Kalibrierungsspezifikation für einen Wasserbadoszillator mit konstanter Temperatur
JJF(机械) 1013-2018 Kalibrierungsspezifikation für Impuls-Schwingstrom-Interferenztester
JJF(机械)1013-2018 Kalibrierungsspezifikation für Impuls-Schwingstrom-Interferenztester
JJF 1984-2022 Spezifikation zur Kalibrierung von Quarzoszillatoren in elektronischen Messgeräten

Defense Logistics Agency, Temperaturgesteuerter Oszillator

DLA SMD-5962-05203-2005 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR
DLA SMD-5962-05203 REV A-2012 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR
DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
DLA SMD-5962-89778 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEARER, SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96828 REV A-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEARER, SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-81021 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89609 REV B-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, PHASE LOCKED LOOP MIT SPANNUNGSGESTEUERTEM OSZILLATOR, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-DWG-05014 REV A-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, 5 VOLT, ENABLE/TRI-STATE, 312 KHZ BIS 120 MHz, TTL- UND CMOS-KOMPATIBEL, OBERFLÄCHENMONTAGE
DLA SMD-5962-88757 REV C-2013 MIKROKREIS, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, PHASE-LOCKED-LOOP MIT SPANNUNGSGESTEUERTEM OSZILLATOR, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-DWG-05013 REV A-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, 3,3 VOLT, ENABLE/TRI-STATE, 312 KHZ BIS 170 MHz, TTL- UND CMOS-KOMPATIBEL, OBERFLÄCHENMONTAGE
DLA DSCC-DWG-05013-2006 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, 3,3 VOLT, ENABLE/TRI-STATE, 312 KHZ BIS 170 MHz, TTL- UND CMOS-KOMPATIBEL, OBERFLÄCHENMONTAGE

U.S. Military Regulations and Norms, Temperaturgesteuerter Oszillator

ARMY QPL-55310-70-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-71-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-74-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-69-2006 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-76-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-81-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-83-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-84-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,544 MHz BIS 125 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, FORTGESCHRITTENES CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,2 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HCMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, Quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 1,0 MHz bis 85 MHz, hermetische Abdichtung, Rechteckwelle, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 450 KHz bis 100 MHz, hermetische Abdichtung, Niederspannungs-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, Quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 1,0 MHz bis 85 MHz, hermetische Abdichtung, Rechteckwelle, Hochgeschwindigkeits-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/25 D-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 25 MHz BIS 175 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, EMITTERGEKOPPELTE LOGIK
ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 50 Hz BIS 50 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 450 kHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/12 H-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,05 MHz BIS 10 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/37 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 500 KHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 D-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/32 B-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,544 MHz BIS 125 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, FORTGESCHRITTENES CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,01 Hz BIS 15,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/31 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,75 MHz BIS 200 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, FORTGESCHRITTENES CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/33 B-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 B-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/38 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/35 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 133 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 2,5 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/36 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/39 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 133 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 2,5 V CMOS

PL-PKN, Temperaturgesteuerter Oszillator

PN T01029-1985 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren Terminologie
PN-EN 17408-2021-02 E Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens viskoelastischer Klebstoffe mittels Oszillationsrheometrie

Association Francaise de Normalisation, Temperaturgesteuerter Oszillator

NF EN ISO 15212-1:1999 Oszillierende Dichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte
NF T43-015:2009 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät.
NF C93-620-6*NF EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
NF EN 60679-6:2011 Qualitätsgesicherte Quarzoszillatoren – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzoszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
NF EN ISO 15212-2:2002 Oszillierende Dichtemessgeräte – Teil 2: Industrieinstrumente für homogene Flüssigkeiten
NF T46-017-2*NF ISO 6502-2:2018 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit Vulkanisationsmessgeräten – Teil 2: Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
NF ISO 6502-2:2018 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit Rheometern – Teil 2: Schwingscheibenrheometer
NF T43-015:1996 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem oszillierenden Vulkanisationsmessgerät.
NF B35-212-2*NF EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
NF EN ISO 22007-3:2012 Kunststoffe – Bestimmung der Wärmeleitfähigkeit und des Temperaturleitvermögens – Teil 3: Verfahren zur Temperaturschwingungsanalyse
NF C93-620-4*NF EN 60679-4:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Temperaturgesteuerter Oszillator

GB/T 35011-2018 Mikrowellenschaltungen – Messmethoden für spannungsgesteuerte Oszillatoren

Professional Standard - Electron, Temperaturgesteuerter Oszillator

SJ 20803-2001 Mikrowellenschaltungen Messmethoden für spannungsgesteuerte Oszillatoren
SJ 20527.2-1995 Mikrowellenbaugruppe. Detailspezifikation für den spannungsgesteuerten Oszillator Modell WFZ817
SJ 20527.3-2001 Detaillierte Spezifikation der Mikrowellenbaugruppe für den spannungsgesteuerten Oszillator Modell WFZ816A

Professional Standard - Aerospace, Temperaturgesteuerter Oszillator

QJ 3047-1998 Detaillierte Spezifikationen für die spannungsgesteuerten Quarzoszillatoren Z602
QJ 3046-1998 Detaillierte Spezifikationen für die spannungsgesteuerten Quarzoszillatoren Z601

Lithuanian Standards Office , Temperaturgesteuerter Oszillator

LST EN 169000+A1-2001 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
LST EN 169200-2001 Abschnittsspezifikation. Quarzoszillatoren (Qualifikationszulassung)
LST EN 60679-6-2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien (IEC 60679-6:2011)
LST EN 169100-2003 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
LST EN ISO 15212-1:2000 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998)
LST EN 169201-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzoszillatoren (Qualifikationszulassung)
LST EN 169101-2003 Blanko-Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
LST EN ISO 15212-2:2003 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002)
LST EN ISO 15212-1:2000/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
LST EN 17408-2020 Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens viskoelastischer Klebstoffe mittels Oszillationsrheometrie
LST EN ISO 15212-2:2003/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
LST EN 60679-1-2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2007)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Temperaturgesteuerter Oszillator

JJG(电子) 01002-1989 QF16101GAJF 5 MHz Spannungsgesteuerte Quarzoszillator-Verifizierungsvorschriften
JJG 180-2002 Verifizierungsregelung von Quarzoszillatoren in elektrischen Messgeräten
JJG 874-1994 Überprüfungsregelung des Temperaturanzeigereglers
JJG 874-2007 Überprüfungsregelung des Temperaturanzeigereglers

British Standards Institution (BSI), Temperaturgesteuerter Oszillator

BS ISO 6502-2:2018 Gummi. Messung der Vulkanisationseigenschaften mittels Härtungsmessgeräten. Oszillierender Scheibenhärtemesser
BS ISO 3159:2009 Zeitmessgeräte. Armbandchronometer mit Federunruh-Oszillator
BS EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von bewerteter Qualität. Phasenjitter-Messmethode für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren. Anwendungsrichtlinien
BS ISO 3159:2010 Zeitmessgeräte - Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
BS EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
DD CEN/TS 15324:2008 Bitumen und bituminöse Bindemittel. Bestimmung der äquiviskosen Temperatur basierend auf der Viskosität bei niedriger Scherung unter Verwendung eines dynamischen Scherrheometers im Niederfrequenzoszillationsmodus
BS EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Abschnittsspezifikation. Fähigkeitsgenehmigung
BS EN 60679-5:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Abschnittsspezifikation. Qualifikationsgenehmigung
BS ISO 12013-2:2012 Farben und Lacke. Bestimmung der Aushärtungseigenschaften mithilfe einer Methode der freien gedämpften Schwingung. Glasübergangstemperatur
19/30387856 DC BS EN 17408. Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens von viskoelastischen Klebstoffen mithilfe der Oszillationsrheometrie
BS EN 169000:1993 Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Allgemeine Spezifikation. Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
BS ISO 6721-10:2001 Kunststoffe - Bestimmung dynamisch-mechanischer Eigenschaften - Komplexe Scherviskosität mit einem Parallelplatten-Schwingungsrheometer
BS EN 60679-4-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Leere Detailspezifikation. Fähigkeitsgenehmigung
BS EN 60679-5-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Leere Detailspezifikation. Qualifikationsgenehmigung
BS ISO 6721-10:2015 Kunststoffe. Bestimmung dynamischer mechanischer Eigenschaften. Komplexe Scherviskosität mit einem Parallelplatten-Oszillationsrheometer

VN-TCVN, Temperaturgesteuerter Oszillator

TCVN 6094-2010 Gummi. Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät

RO-ASRO, Temperaturgesteuerter Oszillator

STAS 9294-1982 HUBBEH Messung der Vulkanisationseigenschaften mit oszillierendem Scheibenhärtungsmessgerät
STAS SR ISO 3159:1994 Zeitmessgeräte. Armbandchronometer mit Federunruh-Oszillator

International Organization for Standardization (ISO), Temperaturgesteuerter Oszillator

ISO 15212-1:1998 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte
ISO 3159:2009 Zeitmessgeräte - Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
ISO 3159:1976 Zeitmessgeräte; Armbandchronometer mit Federunruh-Oszillator
ISO 15212-1:1998/cor 1:2008 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte; Technische Berichtigung 1
ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
ISO 15212-2:2002/cor 1:2008 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten; Technische Berichtigung 1

European Committee for Standardization (CEN), Temperaturgesteuerter Oszillator

EN ISO 15212-1:1999 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002)
EN ISO 15212-1:1999/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
EN ISO 15212-2:2002/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)

Danish Standards Foundation, Temperaturgesteuerter Oszillator

DS/EN ISO 15212-1:1999 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte
DS/EN ISO 15212-1/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte
DS/EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
DS/EN ISO 15212-2/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
DS/EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
DS/EN 169200:1998 Abschnittsspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)
DS/EN 169201:1998 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationsgenehmigung)
DS/EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
DS/CEN/TS 15324:2008 Bitumen und bituminöse Bindemittel – Bestimmung der äquiviskosen Temperatur basierend auf der Viskosität bei niedriger Scherung unter Verwendung eines dynamischen Scherrheometers im Niederfrequenz-Oszillationsmodus
DS/EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
DS/EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung

KR-KS, Temperaturgesteuerter Oszillator

KS B ISO 3159-2008 Zeitmessinstrumente – Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
KS C IEC 60679-6-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
KS C IEC 60679-5-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
KS C IEC 60679-4-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Temperaturgesteuerter Oszillator

GJB 1648/2-2011 Detailspezifikation für temperaturkompensierte Quarzoszillatoren vom Typ ZC547(ZWB-1).
GJB 1648/3-2011 Detailspezifikation für den temperaturkompensierten Quarzoszillator vom Typ ZC545 (ZWC-6B-1/2).
GJB 2438/25-2021 Detaillierte Spezifikationen für den integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillator WHZD6500M-11 mit integriertem Hybridschaltkreis
GJB 2438/23-2021 Detaillierte Spezifikationen des integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillators vom Typ WHZD950M1050M-10 des integrierten Hybridschaltkreises
GJB 2438/24-2021 Detaillierte Spezifikationen für den integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillator vom Typ WHZD800M1100M-10 des integrierten Hybridschaltkreises
GJB 2438/28-2021 Detaillierte Spezifikationen für den integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillator vom Typ WHZD2200M2600M-10 des integrierten Hybridschaltkreises
GJB 2438/21-2021 Detaillierte Spezifikationen des integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillators vom Typ WHZD8240M8600M-10 des integrierten Hybridschaltkreises

International Electrotechnical Commission (IEC), Temperaturgesteuerter Oszillator

IEC PAS 60679-6:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden
IEC 60679-3:1989 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 3: Standardumrisse und Anschlussverbindungen
IEC 60679-1:1980 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
IEC 60679-1/AMD1:1985 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
IEC 60314:1970 Temperaturkontrollgeräte für Quarzkristallgeräte
IEC 60679-1/AMD2:2003 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation; Änderung 2
IEC 60679-3:2012 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Temperaturgesteuerter Oszillator

EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
EN 169200:1995 Abschnittsspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)
EN 169201:1995 Blank Detail Specification: Quartz Crystal Controlled Oscillators (Qualification Approval)
EN 60679-3:2001 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit geprüfter Qualität Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen

YU-JUS, Temperaturgesteuerter Oszillator

JUS G.S2.118-1984 Gummi. Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät

ES-UNE, Temperaturgesteuerter Oszillator

UNE-EN ISO 15212-2:2002/AC:2010 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
UNE-EN ISO 15212-1:1999/AC:2010 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
UNE-EN 60679-4:1998 QUARZKRISTALLGESTEUERTE OSZILLATOREN VON GEPRÜFTER QUALITÄT. TEIL 4: SEKTORIALE SPEZIFIKATION. FÄHIGKEITSGENEHMIGUNG. (Von AENOR im Juni 1998 bestätigt.)
UNE-EN 60679-5:1998 QUARZKRISTALLGESTEUERTE OSZILLATOREN VON GEPRÜFTER QUALITÄT. TEIL 5: ABSCHNITTSPEZIFIKATION. QUALIFIZIERUNGSGENEHMIGUNG (Von AENOR im November 1998 bestätigt.)
UNE-EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 3: Standardumrisse und Anschlussverbindungen (Genehmigt von AENOR im August 2013.)

Professional Standard - Electricity, Temperaturgesteuerter Oszillator

DL/T 2251-2021 Technische Spezifikationen für das System zur Überwachung und Steuerung subsynchroner Schwingungen
DL/T 849.5-2004 Allgemeine technische Spezifikation von Prüfgeräten für Energieanlagen Teil 5: Schwingwellen-Hochspannungsgenerator
DL/T 849.5-2019 Allgemeine Spezifikationen für spezielle Prüfgeräte für Energieanlagen Teil 5: Oszillierender Wellen-Hochspannungsgenerator

国家药监局, Temperaturgesteuerter Oszillator

YY/T 0952-2022 Medizinischer Temperaturregler

TR-TSE, Temperaturgesteuerter Oszillator

TS 3436-1979 GUMMI - MESSUNG DER VULKANISATIONSEIGENSCHAFTEN MIT DEM HÄRTUNGSMETER MIT SCHWINGENDER SCHEIBE

AENOR, Temperaturgesteuerter Oszillator

UNE-EN ISO 15212-1:1999 OSZILLATIONSDICHTEMESSGERÄTE. TEIL 1: LABORINSTRUMENTE (ISO 15212-1:1999)
UNE-EN ISO 15212-2:2003 Dichtemessgeräte vom Oszillationstyp. Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten. (ISO 15212-2:2002)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Temperaturgesteuerter Oszillator

EN 169101:1993 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung) (bleibt aktuell)
EN 60679-5:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung

American Society for Testing and Materials (ASTM), Temperaturgesteuerter Oszillator

ASTM D2084-01 Standardtestmethode für die Vulkanisation der Gummieigenschaften unter Verwendung eines Aushärtungsmessers mit oszillierender Scheibe
ASTM D2084-07 Standardtestmethode für die Vulkanisation der Gummieigenschaften unter Verwendung eines Aushärtungsmessers mit oszillierender Scheibe
ASTM D7271-06(2020) Standardtestmethode für viskoelastische Eigenschaften von Pastentintenträgern unter Verwendung eines Oszillationsrheometers
ASTM D2084-11 Standardtestmethode für Gummieigenschaften – Vulkanisation mit einem Schwingscheiben-Härtungsmessgerät
ASTM D7271-06 Standardtestmethode für viskoelastische Eigenschaften von Pastentintenträgern unter Verwendung eines Oszillationsrheometers
ASTM D7271-06(2012) Standardtestmethode für viskoelastische Eigenschaften von Pastentintenträgern unter Verwendung eines Oszillationsrheometers

CH-SNV, Temperaturgesteuerter Oszillator

SN EN 17408-2021 Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens viskoelastischer Klebstoffe mittels Oszillationsrheometrie

IT-UNI, Temperaturgesteuerter Oszillator

UNI EN 17408-2021 Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens viskoelastischer Klebstoffe mittels Oszillationsrheometrie

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), Temperaturgesteuerter Oszillator

NEMA HP 100 SET-1991 Hochtemperatur-Instrumentierungs- und Steuerkabel

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, Temperaturgesteuerter Oszillator

NEMA HP 100-1985 HOCHTEMPERATUR-INSTRUMENTATIONS- UND STEUERKABEL

RU-GOST R, Temperaturgesteuerter Oszillator

GOST 29179-1991 Elektromagnetische Verträglichkeit technischer Mittel. HUF-Ausrüstung. Methoden zur Messung von Seitenschwingungen

Professional Standard - Nuclear Industry, Temperaturgesteuerter Oszillator

EJ/T 20177-2018 Erkennungsverfahren eines Vibrationsreglers mit mehreren Eingängen und mehreren Ausgängen

Professional Standard - Machinery, Temperaturgesteuerter Oszillator

JB/T 10968-2010 Vibrationswächter und Elektronenvibrationsschalter für Zentrifugen und Separatoren

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Temperaturgesteuerter Oszillator

IEEE P1871.1/D4, April 2014 IEEE Draft Empfohlene Praxis für die Verwendung von IEEE 1671.2-Instrumentenbeschreibungsvorlagen zur Beschreibung synthetischer Instrumentierung für Instrumentenklassen wie Wellenformgeneratoren, Digitalisierer, externe Oszillatoren und Auf- und Abwärtswandler