Flüssigkeitsoszillator

Für die Flüssigkeitsoszillator gibt es insgesamt 443 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Flüssigkeitsoszillator die folgenden Kategorien: Messung von Volumen, Masse, Dichte und Viskosität, Chemische Ausrüstung, Ausrüstung für die Gummi- und Kunststoffindustrie, Filter, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Zahnheilkunde, Umfangreiche elektronische Komponenten, Umwelttests, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, Diskrete Halbleitergeräte, Gummi, Uhrmacherkunst, Messung von Zeit, Geschwindigkeit, Beschleunigung und Winkelgeschwindigkeit, grob, Kraftstoff, Optik und optische Messungen, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge, Vibration und Schock (personenbezogen), Vibrations-, Schock- und Vibrationsmessungen, Abfall, Kraftwerk umfassend, Wasserqualität, Rotierender Motor, Physik Chemie, Chemikalien, Ausrüstung für die Öl- und Gasindustrie, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Klebstoffe und Klebeprodukte, Erdölprodukte umfassend, Wortschatz, Baumaterial, Transformatoren, Drosseln, Induktoren, Mechanische Komponenten für elektronische Geräte, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Plastik, Schmiersystem, Messung des Flüssigkeitsflusses, Lager- und Transportausrüstung für Erdöl, Erdölprodukte und Erdgas, Elektrische und elektronische Prüfung, Qualität, analytische Chemie, Komponenten elektrischer Geräte, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Schmierstoffe, Industrieöle und verwandte Produkte.

Association Francaise de Normalisation, Flüssigkeitsoszillator

NF EN ISO 15212-2:2002 Oszillierende Dichtemessgeräte – Teil 2: Industrieinstrumente für homogene Flüssigkeiten
NF B35-212-2*NF EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
NF EN ISO 15212-1:1999 Oszillierende Dichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte
NF C93-620-6*NF EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
NF EN 60679-6:2011 Qualitätsgesicherte Quarzoszillatoren – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzoszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
NF T43-015:2009 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät.
NF M08-016:1992 Erdöl und flüssige Erdölprodukte. Bestimmung der Dichte für messtechnische Zwecke. Oszillationsfrequenzmethode.
NF M07-096:2000 Emulsionen in Gazole – Bestimmung in der volumetrischen Masse – Methode der Röhre in U-Oszillation
NF T46-017-2*NF ISO 6502-2:2018 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit Vulkanisationsmessgeräten – Teil 2: Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
NF ISO 6502-2:2018 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit Rheometern – Teil 2: Schwingscheibenrheometer
NF T43-015:1996 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem oszillierenden Vulkanisationsmessgerät.
NF E90-403:2005 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte.
NF C96-016-5*NF EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
NF EN 60747-16-5/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
NF EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
NF M08-016:2005 Erdöl und flüssige Erdölprodukte – Bestimmung der Dichte für messtechnische Zwecke – Schwingungsfrequenzverfahren.
NF M08-016:2014 Erdöl und flüssige Erdölprodukte – Bestimmung der Dichte für messtechnische Zwecke – Schwingungsfrequenzverfahren
NF C93-611:1975 Komponenten für elektronische Geräte. Piezoelektrische Geräte. Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren.
NF C93-620-1:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
UTE C93-611U*UTE C93-611:1975 Komponenten für elektrische Geräte. Piezoelektrische Geräte. Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren.
NF EN 60679-4-1:1999 Quarzgesteuerte Oszillatoren in der Qualitätssicherung – Teil 4-1: Besondere Rahmenspezifikation. Anerkennung von Know-how.
NF EN 60679-3:2013 Quarzgesteuerte Oszillatoren in der Qualitätssicherung – Teil 3: Genormte Abmessungen und Ausgangsanschlüsse
NF E90-403-1*NF EN ISO 8041-1:2017 Menschliche Reaktion auf Vibrationen – Messgeräte – Teil 1: Allzweck-Vibrationsmessgeräte

Danish Standards Foundation, Flüssigkeitsoszillator

DS/EN ISO 15212-2/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
DS/EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
DS/EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
DS/EN ISO 15212-1:1999 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte
DS/EN ISO 15212-1/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte
DS/EN 169200:1998 Abschnittsspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)
DS/EN 169201:1998 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationsgenehmigung)
DS/EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
DS/ENV 28041:1993 Menschliche Reaktion auf Vibration. Messgeräte
DS/EN ISO 8041/AC:2008 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte
DS/EN ISO 8041:2005 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte
DS/EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
DS/EN ISO 8041-2:2021 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte – Teil 2: Persönliche Vibrationsexpositionsmessgeräte (ISO 8041-2:2021)
DS/EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
DS/EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Flüssigkeitsoszillator

KS B ISO 15212-2-2006(2021) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
KS B ISO 15212-2-2021 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
KS B ISO 15212-2-2006(2016) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
KS B ISO 15212-2:2006 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
KS C 6503-1999 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
KS C 6503-1984 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
KS C IEC 60679-2:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
KS C IEC 60679-2-2023 Quarzkristall-Oszillator Teil 2: Eine Anleitung zur Verwendung eines Quarzkristall-Oszillators
KS C 6509-1991 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
KS C 6508-2013 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
KS C 6509-1991(2011) Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
KS C 6504-1987 Öfen für Quarzkristalleinheiten
KS C 6508-1990 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
KS B ISO 15212-1:2006 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
KS B ISO 15212-1-2006(2016) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
KS B ISO 15212-1-2006(2021) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
KS B ISO 15212-1-2021 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
KS C IEC 60679-6:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
KS C IEC 60679-6-2023 Qualifizierte Quarzkristalloszillatoren Teil 6: Anwendungsrichtlinien für Phasenjitter-Messmethoden für Quarzkristalloszillatoren und Oberflächenwellenoszillatoren
KS C 6503-1999(2009) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
KS M ISO 3417-2012(2022) Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
KS B ISO 3159-2013 Zeitmessinstrumente – Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
KS C 6509-2013 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
KS C 6508-1990(2010) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
KS C IEC 60122-2-1-2021 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
KS B ISO 8041:2013 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messinstrumente
KS C IEC 62860-1:2018 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
KS M 6687-2021 Testverfahren für die Vulkanisierungseigenschaften von Gummimischungen unter Verwendung eines oszillierenden Scheibenvulkanisationsmessgeräts
KS C IEC 62860-1-2023 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
KS B ISO 8041-2019 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messinstrumente
KS B ISO 4868-2003(2008) Code für die Messung und Meldung lokaler Vibrationsdaten der Schiffsstruktur und -ausrüstung
KS C IEC 60679-5:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
KS C IEC 60679-4:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
KS C IEC 60679-4-2023 Bewertung der Qualität von Quarzkristalloszillatoren Teil 4: Zertifizierung der Kompetenz zur Segmentierung von Spezifikationen
KS C IEC 60679-5-2023 Bewertung der Qualität von Quarzkristalloszillatoren Teil 5: Teilweise Spezifikationsqualifizierung
KS B ISO 8041-1:2019 Menschliche Reaktion auf Vibrationen – Messgeräte – Teil 1: Allzweck-Vibrationsmessgeräte

German Institute for Standardization, Flüssigkeitsoszillator

DIN EN ISO 15212-2 Berichtigung 1:2009-07 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002); Deutsche Fassung EN ISO 15212-2:2002, Berichtigung zu DIN EN ISO 15212-2:2002-07; Deutsche Fassung EN ISO 15212-2:2002/AC:2009
DIN EN ISO 15212-2:2002-07 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002); Deutsche Fassung EN ISO 15212-2:2002
DIN IEC 60679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
DIN EN ISO 15212-1 Berichtigung 1:2009-07 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998); Deutsche Fassung EN ISO 15212-1:1999, Berichtigung zu DIN EN ISO 15212-1:1999-06; Deutsche Fassung EN ISO 15212-1:1999/AC:2009
DIN EN ISO 15212-1:1999-06 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998); Deutsche Fassung EN ISO 15212-1:1999
DIN IEC 60679-2:1997-09 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
DIN EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien (IEC 60679-6:2011); Deutsche Fassung EN 60679-6:2011
DIN EN 169200:1996-05 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169200:1995
DIN EN ISO 8041:2006 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte (ISO 8041:2005); Englische Fassung von DIN EN ISO 8041:2006-06
DIN EN 60747-16-5:2021-08 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); Deutsche Fassung EN 60747-16-5:2013 + A1:2020 / Hinweis: DIN EN 60747-16-5 (2014-04) bleibt neben dieser Norm bis 2023 gültig...
DIN EN 169201:1996-05 Vordruck für Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169201:1995
DIN EN 60679-1:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2007); Deutsche Fassung EN 60679-1:2007
DIN EN 60679-5:1999-05 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5: Rahmenspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5:1998
DIN 53019-4:2016 Rheometrie – Messung rheologischer Eigenschaften mit Rotationsrheometern – Teil 4: Oszillatorische Rheologie
DIN 53019-4:2016-10 Rheometrie – Messung rheologischer Eigenschaften mit Rotationsrheometern – Teil 4: Oszillatorische Rheologie
DIN EN 60747-16-5/A1:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 47E/649/CD:2019); Text in Deutsch und Englisch
DIN EN ISO 8041-1:2017-10 Menschliche Reaktion auf Vibrationen – Messgeräte – Teil 1: Allzweck-Vibrationsmessgeräte (ISO 8041-1:2017); Deutsche Fassung EN ISO 8041-1:2017
DIN EN 60679-5-1:1999-05 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5-1: Vordruck für Bauartspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5-1:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5-1:1998 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 60679-1 (1998-09), DIN EN 60679-5...
DIN EN 60679-4-1:1998-12 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4-1: Vordruck für Bauartspezifikation; Fähigkeitsgenehmigung (IEC 60679-4-1:1998); Deutsche Fassung EN 60679-4-1:1998 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 60679-1 (2008-02), DIN EN 60679-4 (1...)
DIN EN 60679-4:1998-11 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4: Rahmenspezifikation - Fähigkeitszulassung (IEC 60679-4:1997); Deutsche Fassung EN 60679-4:1998
DIN 51810-4:2021 Prüfung von Schmierstoffen - Bestimmung der Konsistenz metallverseifter Schmierfette mit einem Schwingrheometer mit Kegel-Platte-System
DIN 51810-4:2021-04 Prüfung von Schmierstoffen - Bestimmung der Konsistenz metallverseifter Schmierfette mit einem Schwingrheometer mit Kegel-Platte-System

ES-UNE, Flüssigkeitsoszillator

UNE-EN ISO 15212-2:2002/AC:2010 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
UNE-EN ISO 15212-1:1999/AC:2010 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
UNE-EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (Befürwortet von AENOR im Oktober 2013.)
UNE-EN ISO 8041-1:2018 Menschliche Reaktion auf Vibrationen – Messgeräte – Teil 1: Allzweck-Vibrationsmessgeräte (ISO 8041-1:2017)

British Standards Institution (BSI), Flüssigkeitsoszillator

BS EN ISO 15212-2:2002(2009) Oszillations-Dichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
BS EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten
BS EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von bewerteter Qualität. Phasenjitter-Messmethode für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren. Anwendungsrichtlinien
BS ISO 6502-2:2018 Gummi. Messung der Vulkanisationseigenschaften mittels Härtungsmessgeräten. Oszillierender Scheibenhärtemesser
BS ISO 3159:2009 Zeitmessgeräte. Armbandchronometer mit Federunruh-Oszillator
BS EN ISO 15212-1:1999(2009) Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
BS ISO 3159:2010 Zeitmessgeräte - Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
BS EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 Halbleiterbauelemente – Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
BS EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Allgemeine Spezifikation
BS EN ISO 8041:2005 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte
BS EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
BS IEC 62860-1:2013 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
BS 9620:1975 Spezifikation für Quarzkristalloszillatoren mit bewerteter Qualität: allgemeine Daten und Prüfmethoden
BS EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Standardumrisse und Anschlussverbindungen
19/30387856 DC BS EN 17408. Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens von viskoelastischen Klebstoffen mithilfe der Oszillationsrheometrie
BS ISO 6721-10:2001 Kunststoffe - Bestimmung dynamisch-mechanischer Eigenschaften - Komplexe Scherviskosität mit einem Parallelplatten-Schwingungsrheometer
BS ISO 6721-10:2015 Kunststoffe. Bestimmung dynamischer mechanischer Eigenschaften. Komplexe Scherviskosität mit einem Parallelplatten-Oszillationsrheometer
BS EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Abschnittsspezifikation. Fähigkeitsgenehmigung
BS EN 60679-5:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Abschnittsspezifikation. Qualifikationsgenehmigung
BS EN 169101:1995 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Blanko-Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
19/30393894 DC BS EN 60747-16-5 AMD1. Halbleiterbauelemente. Teil 16-5. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
BS EN 169000:1993 Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Allgemeine Spezifikation. Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren

GSO, Flüssigkeitsoszillator

GSO ISO 15212-2:2010 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
OS GSO ISO 15212-2:2010 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
GSO IEC 60679-2:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
BH GSO IEC 60679-2:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
OS GSO IEC 60679-2:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
GSO IEC 60679-6:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
BH GSO IEC 60679-6:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
OS GSO IEC 60679-6:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
OS GSO ISO 3417:2015 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
BH GSO ISO 3417:2016 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
OS GSO ISO 15212-1:2007 OSZILLATION – TYP DICHTEMESSGERÄTE – TEIL 1: LABORGERÄTE
GSO ISO 3417:2015 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
OS GSO ISO 3159:2007 ZEITMESSER-ARMBANDUHR-CHRONOMETER MIT FEDERBALANCE-OSZILLATOR
GSO ISO 7278-3:2015 Flüssige Kohlenwasserstoffe – Dynamische Messung – Prüfsysteme für volumetrische Messgeräte – Teil 3: Pulsinterpolationstechniken
BH GSO ASTM D7483:2017 Standardtestmethode zur Bestimmung der dynamischen Viskosität und der abgeleiteten kinematischen Viskosität von Flüssigkeiten mittels Oszillationskolbenviskosimeter
OS GSO ASTM D7483:2015 Standardtestmethode zur Bestimmung der dynamischen Viskosität und der abgeleiteten kinematischen Viskosität von Flüssigkeiten mittels Oszillationskolbenviskosimeter
GSO IEC 60747-16-5:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
OS GSO IEC 60747-16-5:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
OS GSO OIML R103:2002 MESSGERÄT FÜR DIE MENSCHLICHE REAKTION AUF VIBRATIONEN
GSO ISO 8041:2013 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte
BH GSO IEC 60679-1:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
OS GSO IEC 60679-1:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
GSO IEC 60679-1:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
GSO IEC 60679-4:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
GSO IEC 60679-5:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
BH GSO IEC 60679-5:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
BH GSO IEC 60679-4:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
OS GSO IEC 60679-5:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
OS GSO IEC 60679-4:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung

SCC, Flüssigkeitsoszillator

DANSK DS/EN ISO 15212-2/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
IEC 60122-2:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzoszillatorkristallen
BS DD IEC/PAS 60679-6:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Phasenjitter-Messmethode für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren. Anwendungsleitfaden
AWWA C713-2019 Kaltwasserzähler – Fluid-Oszillator-Typ
AWWA C713-2005 Kaltwasserzähler: Fluidoszillatortyp
CEI EN 60679-6:2015 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
DANSK DS/EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
DANSK DS/EN ISO 15212-1:1999 Dichtemessgeräte mit Schwingungstechnik - Teil 1: Laborgeräte
IEC 60122-2:1962/AMD1:1969 Änderung 1 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzoszillatorkristallen
UNE 53629:1989 GUMMI. MESSUNG DER VULKANISATIONSEIGENSCHAFTEN MIT DEM OSZILLIERENDEN SCHEIBEN-HÄRTUNGSMETER
DIN EN 60679-6 E:2009 Entwurf eines Dokuments – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden (IEC 49/811/CDV:2008); Deutsche Fassung FprEN 60679-6:2008
BS DD 225:1995 Bestimmung der Verschleißschutzeigenschaften von Hydraulikflüssigkeiten mit der Methode des oszillierenden Stifts auf rotierender Scheibe
NS-EN ISO 15212-1:1999 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998)
BS 7482-1:1991 Instrumentation for the measurement of vibration exposure of human beings-Specification for general requirements for instrumentation for measuring the vibration applied to human beings
IEC 60122-3:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
CEI EN IEC 60747-16-5/A1:2021 Halbleiterbauelemente Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
CEI EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
DANSK DS/EN 60747-16-5/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
DANSK DS/EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
BS EN 60679-1:1998 Quarzgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Fachgrundspezifikation
AS 2973:1987 Vibration und Schock - Instrumente zur Messung der menschlichen Reaktion auf Vibrationen
BS 7482-3:1991 Instrumentation for the measurement of vibration exposure of human beings-Specification for instrumentation for measuring vibration exposure to the whole body
AS 1683.22:1983 Prüfmethoden für Gummi, Methode 22: Gummi – Bestimmung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheibenvulkanisationsmessgerät
IEC 60122-3B:1962 Ergänzung 2 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
IEC 60122-3A:1962 Ergänzung 1 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
IEC 60122-3C:1962 Beilage 3 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
IEC 60122-3D:1962 Beilage 4 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
BS ISO 6721-10:1999 Kunststoffe. Bestimmung dynamisch-mechanischer Eigenschaften – komplexe Scherviskosität mit einem Parallelplatten-Oszillationsrheometer
BS 7482-2:1991 Instrumentation for the measurement of vibration exposure of human beings-Specification for instrumentation for measuring vibration transmitted to the hand
BS DD ENV 28041:1993 Menschliche Reaktion auf Vibrationen. Messgeräte
IEC 60747-16-5:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren KONSOLIDIERTE AUSGABE
DIN 53019-4 E:2015 Entwurfsdokument – Rheometrie – Messung rheologischer Eigenschaften mit Rotationsrheometern – Teil 4: Oszillatorische Rheologie
BS EN 60679-3:2002 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit geprüfter Qualität – Standardkonturen und Anschlussverbindungen
ULC Subject C25:1975 Messgeräte für brennbare Flüssigkeiten und Flüssiggas
IEC 60122-3A:1962/COR1:1969 Berichtigung 1 – Ergänzung A – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Abschnitt 5: Pin-Anschlüsse
ULC ORD-C25-1992 Messgeräte für brennbare und brennbare Flüssigkeiten und Propan
DANSK DS/EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
DANSK DS/EN 60679-4:1998 Quarzgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4: Rahmenspezifikation - Eignungsnachweis
NS-EN ISO 8041:2005 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte (ISO 8041:2005)
DIN 54458 E:2012 Entwurfsdokument - Strukturklebstoffe - Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens viskoelastischer Klebstoffe mittels Oszillationsrheometrie

Professional Standard - Education, Flüssigkeitsoszillator

JY 0018-1990 Demonstrator der elektromagnetischen Schwingung

工业和信息化部, Flüssigkeitsoszillator

HG/T 3121-2017 Scheibenoszillierender Vulkanisator
JC/T 2419-2017 Kaliumtitanylphosphatkristall für optische parametrische Oszillation

International Organization for Standardization (ISO), Flüssigkeitsoszillator

ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten
ISO 15212-2:2002/cor 1:2008 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 2: Prozessgeräte für homogene Flüssigkeiten; Technische Berichtigung 1
ISO 15212-1:1998 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte
ISO/DIS 6502-2:2024 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit Härtungsmessgeräten – Teil 2: Schwingscheiben-Härtungsmessgerät
ISO 3159:2009 Zeitmessgeräte - Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
ISO 3159:1976 Zeitmessgeräte; Armbandchronometer mit Federunruh-Oszillator
ISO 8041:2005 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte
ISO 8041:1990 Menschliche Reaktion auf Vibration; Messgeräte
ISO 15212-1:1998/cor 1:2008 Oszillationsdichtemessgeräte - Teil 1: Laborgeräte; Technische Berichtigung 1
ISO 8041:1990/Amd 1:1999 Menschliche Reaktion auf Vibrationen - Messgeräte; Änderung 1
ISO 8041:1990/Cor 1:1993 Menschliche Reaktion auf Vibration; Messgeräte; Technische Berichtigung 1
ISO 23350:2021 Hydrometrie – Messgeräte zur Messung von flüssigem Niederschlag

European Committee for Standardization (CEN), Flüssigkeitsoszillator

EN ISO 15212-2:2002 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002)
EN ISO 15212-2:2002/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
EN ISO 15212-1:1999 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborinstrumente
EN ISO 15212-1:1999/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
EN ISO 8041:2005 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte (ISO 8041:2005)
DD ENV 28041-1993 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte (ISO 8041: 1990)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Flüssigkeitsoszillator

CNS 12253-1988 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 1 MHz – 125 MHz)
CNS 12254-1988 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200-1000 kHz)
CNS 12256-1988 Öfen für Quarzkristalleinheiten
CNS 11624-1986 Kristalleinheitsquarz CR-84/U für Radiooszillation
CNS 3770-1989 Abmessungen und Wicklung des Zwischenfrequenztransformators und der Oszillatorspule für Transistorradio

Lithuanian Standards Office , Flüssigkeitsoszillator

LST EN ISO 15212-2:2003 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002)
LST EN ISO 15212-2:2003/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
LST EN 60679-6-2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien (IEC 60679-6:2011)
LST EN 169000+A1-2001 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
LST EN ISO 15212-1:2000 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998)
LST EN 168200-2002/A1-2005 Abschnittsspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
LST EN 168200-2002 Abschnittsspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
LST EN 169100-2003 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
LST EN 168201-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
LST EN 168101-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitsnachweis)
LST EN ISO 15212-1:2000/AC:2009 Oszillationsdichtemessgeräte – Teil 1: Laborgeräte (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
LST EN 169101-2003 Blanko-Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
LST EN 17408-2020 Bestimmung der Fließfähigkeit und des Auftragsverhaltens viskoelastischer Klebstoffe mittels Oszillationsrheometrie
LST EN ISO 8041:2005 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte (ISO 8041:2005)

Defense Logistics Agency, Flüssigkeitsoszillator

DLA A-A-59433 VALID NOTICE 1-2004 MISCHER, FLÜSSIGKEITEN, RÜHRWERKARTEN
DLA A-A-59433-1999 MISCHER, FLÜSSIGKEITEN, RÜHRWERKARTEN
DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
DLA SMD-5962-81020 REV F-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, MONOSTABILER/ASTABILER MULTIVIBRATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MONOSTABILER MULTIVIBRATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, DUAL MONOSTABLE MULTIVIBRATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-DWG-05014 REV A-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, 5 VOLT, ENABLE/TRI-STATE, 312 KHZ BIS 120 MHz, TTL- UND CMOS-KOMPATIBEL, OBERFLÄCHENMONTAGE

AENOR, Flüssigkeitsoszillator

UNE-EN ISO 15212-2:2003 Dichtemessgeräte vom Oszillationstyp. Teil 2: Prozessinstrumente für homogene Flüssigkeiten. (ISO 15212-2:2002)
UNE-EN ISO 15212-1:1999 OSZILLATIONSDICHTEMESSGERÄTE. TEIL 1: LABORINSTRUMENTE (ISO 15212-1:1999)
UNE-EN ISO 8041:2006 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messgeräte (ISO 8041:2005)

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Flüssigkeitsoszillator

ECA 417-A-1991 Kristallumrisse

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Flüssigkeitsoszillator

JIS T 5504:2021 Dentale rotierende und oszillierende Instrumente – Schäfte
JIS C 6701:1995 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
JIS C 6710:1995 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
JIS C 6710:1999 Allgemeine Spezifikation quarzgesteuerter Oszillatoren
JIS C 6710:2007 Allgemeine Spezifikation quarzgesteuerter Oszillatoren
JIS K 6296-2:2023 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit Vulkanisationsmessgeräten – Teil 2: Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät

TR-TSE, Flüssigkeitsoszillator

TS 2319-1976 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
TS 3436-1979 GUMMI - MESSUNG DER VULKANISATIONSEIGENSCHAFTEN MIT DEM HÄRTUNGSMETER MIT SCHWINGENDER SCHEIBE
TS 2268-1976 Quarzkristall-Einheitshalter für Oszillatoren und Stiftanschlüsse

Professional Standard - Electron, Flüssigkeitsoszillator

SJ/Z 9155.2-1987 Quarzkristalloszillator Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalloszillatoren
SJ 1852-1981 Begriffe für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
SJ 51648/5-1997 Typ ZC 503,Oszillatoren,Quarz,Detailspezifikation für
SJ/T 10638-1995 Messmethoden für Quarzkristalloszillatoren
SJ 51648.4-1995 Oszillator, Quarz, Typ ZC505E, detaillierte Spezifikation für
SJ 51648/1-1994 Oszillator, Quarz, Typ ZF507, Detailspezifikation für
SJ 51648/2-1994 Oszillator, Quarztyp ZD509, detaillierte Spezifikation für
SJ/T 9570.3-1995 Qualitätsbewertungsstandard für Quarzkristalloszillatoren
SJ 51648/3-1994 Oszillator, Quarz, Typ ZC505(A～D) Detailspezifikation für
SJ 2073-1982 Kerne für ZF-Transformatoren und Mittelwellen-Oszillatorspule von Transistor-Funkempfängern
SJ/T 11256-2001 Quarzkristall-Kratal-gesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 1: Allgemeine Spezifikation
SJ/T 10685-1995 Zwischenfrequenztransformatoren und Oszillatorspulen für Transistor-Amplitudenmodulations-Rundfunkempfänger
SJ/T 11257-2001 Quarzkristall-gesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 5: Rahmenspezifikation, Qualifikationszulassung
SJ 2072-1982 Kerne für ZF-Transformatoren von Transistoren und für Kurzwellenoszillatorspulen von Funkempfängern

International Electrotechnical Commission (IEC), Flüssigkeitsoszillator

IEC 60679-2:1981 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
IEC PAS 60679-6:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden
IEC 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden
IEC 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 60679-1:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
IEC 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
IEC 62860-1:2013 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
IEC 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
IEC 60679-3:1989 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 3: Standardumrisse und Anschlussverbindungen
IEC 60679-1/AMD1:2002 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation; Änderung 1
IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Änderung 1 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 Berichtigung 1 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
IEC 60679-4:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
IEC 60679-1:1980 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
IEC 60679-1/AMD1:1985 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
IEC 60679-5:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Flüssigkeitsoszillator

GB/T 32710.13-2016 Sicherheitsanforderungen für Umweltprüf- und Konditionierungsgeräte. Teil 13: Schüttler, Schüttelwasserbäder und Schüttelinkubatoren
GB 12274-1990 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren Allgemeine Spezifikation für
GB 12275-1990 Nomenklatur des Quarzkristalloszillatormodells
GB/T 9869-1997 Gummi – Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
GB/T 9869-2014 Gummi. Messung der Vulkanisationseigenschaften mit dem Schwingscheiben-Vulkanisationsmessgerät
GB 5086.2-1997 Prüfmethodenstandard für die Auslaugtoxizität fester Abfälle – Horizontales Vibrationsextraktionsverfahren
GB/T 20870.5-2023 Halbleiterbauelemente Teil 16-5: Oszillatoren für integrierte Mikrowellenschaltungen
GB/T 12274.1-2012 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 1: Fachgrundspezifikation
GB/T 23716-2009 Menschliche Reaktion auf Vibration. Messinstrumente

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Flüssigkeitsoszillator

JJG 180-2002 Verifizierungsregelung von Quarzoszillatoren in elektrischen Messgeräten
JJG(电子) 01002-1989 QF16101GAJF 5 MHz Spannungsgesteuerte Quarzoszillator-Verifizierungsvorschriften
JJG 1058-2010 Überprüfungsregelung für Labor-Flüssigkeitsdichtemessgeräte vom Oszillationstyp
JJG 370-2019 Online-Schwingrohr-Flüssigkeitsdichtemessgeräte

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Flüssigkeitsoszillator

JJF 1984-2022 Spezifikation zur Kalibrierung von Quarzoszillatoren in elektronischen Messgeräten
JJF(机械) 1013-2018 Kalibrierungsspezifikation für Impuls-Schwingstrom-Interferenztester
JJF(机械)1013-2018 Kalibrierungsspezifikation für Impuls-Schwingstrom-Interferenztester
JJF 1866-2020 Kalibrierungsspezifikation für elektronische Flüssigkeitsdichtemessgeräte vom Immersionsoszillationstyp

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Flüssigkeitsoszillator

GJB 1648-1993 Allgemeine Spezifikationen für Quarzoszillatoren
GJB 1648-2-2011 Allgemeine Spezifikation für Quarzoszillatoren
GJB 1648A-2011 Allgemeine Spezifikation für Quarzoszillatoren
GJB 1648/1-2011 Detailspezifikation für den Quarzoszillator Typ ZA511(ZPB-5).
GJB 1648/2-2011 Detailspezifikation für temperaturkompensierte Quarzoszillatoren vom Typ ZC547(ZWB-1).
GJB/Z 45.2-1993 Militärischer Spektrum-Kristalloszillator der piezoelektrischen Geräteserie
GJB 1648/3-2011 Detailspezifikation für den temperaturkompensierten Quarzoszillator vom Typ ZC545 (ZWC-6B-1/2).

KR-KS, Flüssigkeitsoszillator

KS C IEC 60679-2-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
KS C IEC 60679-2-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
KS C IEC 60679-6-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
KS B ISO 3159-2008 Zeitmessinstrumente – Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
KS C IEC 60679-6-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
KS C IEC 62860-1-2018 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
KS C IEC 62860-1-2018(2023) Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
KS B ISO 8041-2013 Menschliche Reaktion auf Vibration – Messinstrumente
KS C IEC 60679-4-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
KS C IEC 60679-5-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
KS B ISO 8041-1-2019 Menschliche Reaktion auf Vibrationen – Messgeräte – Teil 1: Allzweck-Vibrationsmessgeräte
KS C IEC 60679-5-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
KS C IEC 60679-4-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung

Group Standards of the People's Republic of China, Flüssigkeitsoszillator

T/HEBQIA 135-2022 OC1409 Quarzoszillator mit konstanter Temperatur

U.S. Military Regulations and Norms, Flüssigkeitsoszillator

ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,2 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HCMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, Quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 1,0 MHz bis 85 MHz, hermetische Abdichtung, Rechteckwelle, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 450 KHz bis 100 MHz, hermetische Abdichtung, Niederspannungs-CMOS
ARMY QPL-55310-70-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-71-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-74-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, Quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 1,0 MHz bis 85 MHz, hermetische Abdichtung, Rechteckwelle, Hochgeschwindigkeits-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,544 MHz BIS 125 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, FORTGESCHRITTENES CMOS
ARMY QPL-55310-69-2006 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-76-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-81-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-83-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55310-84-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 50 Hz BIS 50 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/35-2007 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 133 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 2,5 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,01 Hz BIS 15,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/25 D-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 25 MHz BIS 175 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, EMITTERGEKOPPELTE LOGIK
ARMY MIL-PRF-55310/30 D-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 450 kHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/12 H-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,05 MHz BIS 10 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/37 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 500 KHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 D-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/32 B-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,544 MHz BIS 125 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, FORTGESCHRITTENES CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/31 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,75 MHz BIS 200 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, FORTGESCHRITTENES CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/33 B-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 B-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/38 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/35 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 133 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 2,5 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/36 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/39 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 133 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 2,5 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS

未注明发布机构, Flüssigkeitsoszillator

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IEEE/IEC 62860-1-2013 IEC/IEEE-Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
IEEE Std 1620.1-2006 IEEE-Standard für Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
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IEEE P1871.1/D4, April 2014 IEEE Draft Empfohlene Praxis für die Verwendung von IEEE 1671.2-Instrumentenbeschreibungsvorlagen zur Beschreibung synthetischer Instrumentierung für Instrumentenklassen wie Wellenformgeneratoren, Digitalisierer, externe Oszillatoren und Auf- und Abwärtswandler

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OVE EN 60747-16-5-2021 Halbleiterbauelemente - Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Oszillatoren (deutsche Version)

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Flüssigkeitsoszillator

ESDU 83010 A-1992 Oszillatorische Aerodynamik schlanker Körper (ZUSAMMENHÄNGENDE SOFTWARE: ESDUPAC A8310 NUR IM Abonnement VERFÜGBAR)

AT-ON, Flüssigkeitsoszillator

ONORM ENV 28041-1994 Menschliche Reaktion auf Vibration. Messgeräte (ISO 8041:1990)