ZH

EN

KR

JP

ES

RU

Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

Für die Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten die folgenden Kategorien: Chemische Ausrüstung, analytische Chemie, Wortschatz, Längen- und Winkelmessungen, Akustik und akustische Messungen, Optik und optische Messungen, Straßenarbeiten, Elektronische Geräte, Einrichtungen im Gebäude, Zugehörige Beschichtung und zugehörige Prozesse für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, Anwendungen der Informationstechnologie, Lager, prüfen, Zucker, Zuckerprodukte, Stärke, Solartechnik, Chemikalien, Elektronische Anzeigegeräte, erziehen, Strahlungsmessung, Diskrete Halbleitergeräte, Metrologie und Messsynthese, Elektrische und elektronische Prüfung, Strahlenschutz, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Glas, IT-Terminals und andere Peripheriegeräte, Thermodynamik und Temperaturmessung, Industrielles Automatisierungssystem, Umwelttests, Vakuumtechnik, Metallurgische Ausrüstung, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Sportausrüstung und -anlagen, Tabak, Tabakwaren und Ausrüstung für die Tabakindustrie, Werkzeugmaschinenausrüstung, Zerstörungsfreie Prüfung, Kernenergietechnik, Baumaterial, Pulvermetallurgie, Qualität.


Defense Logistics Agency, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

Group Standards of the People's Republic of China, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • T/ZSA 110-2022 Analysator für spezifische Oberfläche und Porengröße
  • T/HBJLXH 009-2023 Kalibrierungsmethode für Oberflächenvibrationsverdichter
  • T/GDAQI 102-2023 Infrarotgeräte zur Messung der menschlichen Hauttemperatur zur sofortigen Messung

Professional Standard - Chemical Industry, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • HG/T 6138-2023 Analysator für spezifische Oberfläche und Porengröße

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • KS D ISO 14706-2003(2018) Chemische Oberflächenanalyse – Messung von Oberflächenelementverunreinigungen auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektrometer
  • KS D ISO 18115:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
  • KS D ISO 18115-2006(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
  • KS D ISO 18115-2006(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
  • KS D ISO 14975:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • KS D ISO 14975-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • KS D ISO 14975-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
  • KS D ISO TR 15969-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
  • KS D ISO TR 15969-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
  • KS D ISO 14976:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat
  • KS C IEC 61725-2005(2020) Analytischer Ausdruck für tägliche Sonnenprofile
  • KS D ISO 14976-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat
  • KS D ISO 14976-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat
  • KS D ISO TR 15969:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
  • KS D ISO 15472:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
  • KS B 0501-2001 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit mit der Stiftmethode-Profilmethode
  • KS A 4441-2001 Tragbares Messgerät für radioaktive Oberflächenkontamination
  • KS D ISO 17973-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • KS D ISO 17973-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • KS A 4441-2001(2011) Tragbares Messgerät für radioaktive Oberflächenkontamination
  • KS A ISO 7503-2-2003(2018) Bewertung der Oberflächenkontamination – Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination
  • KS D ISO 17973:2011 Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • KS C IEC 61554-2013(2018) Schalttafelmontierte Geräte – Elektrische Messgeräte – Abmessungen für Schalttafelmontage
  • KS B 0506-1975 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit mit der interferometrischen Methode
  • KS B 0506-2016 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit mit der interferometrischen Methode
  • KS D ISO 15471-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • KS A ISO 7503-2:2003 Bewertung der Oberflächenkontamination – Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination
  • KS D ISO 14706:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • KS D ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
  • KS D ISO 15471:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • KS B ISO 25178-1:2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 1: Angabe der Oberflächentextur
  • KS C IEC 61207-6-2014(2019) Leistungsausdruck von Gasanalysatoren – Teil 6: Photometrische Analysatoren
  • KS D ISO 17974-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • KS D ISO 17974-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
  • KS M ISO 894-2007(2018) Oberflächenaktive Stoffe – Technische Natrium-Primäralkylsulfate – Analysemethoden
  • KS M ISO 893-2007(2018) Oberflächenaktive Stoffe – Technische Alkansulfonate – Analysemethoden
  • KS B 0162-1999 Oberflächenrauheit – Terminologie – Teil 1: Oberfläche und ihre Parameter
  • KS B 0162-1999(2009) Oberflächenrauheit – Terminologie – Teil 1: Oberfläche und ihre Parameter
  • KS D ISO 15470:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • KS B 0501-2021 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit mit der Stiftmethode
  • KS B 0506-2016(2021) Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit mit der interferometrischen Methode
  • KS M ISO 456:2007 Oberflächenaktive Stoffe – Analyse von Seifen – Bestimmung von freiem Ätzalkali
  • KS M ISO 893:2007 Oberflächenaktive Stoffe – Technische Alkansulfonate – Analysemethoden
  • KS M ISO 456-2007(2017) Oberflächenaktive Stoffe – Analyse von Seifen – Bestimmung von freiem Ätzalkali
  • KS M ISO 895-2007(2018) Oberflächenaktive Stoffe – Technische Natriumsekundäralkylsulfate – Analysemethoden
  • KS M ISO 456-2007(2022) Oberflächenaktive Stoffe – Analyse von Seifen – Bestimmung von freiem Ätzalkali
  • KS D ISO 17974:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • KS B ISO 25178-1-2017(2022) Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 1: Angabe der Oberflächentextur
  • KS A 4614-2006(2011) Oberflächenbehälter eines Messgeräts, das ionisierende Strahlung nutzt
  • KS B 0501-2016 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit mit der Stiftmethode – Profilmethode
  • KS A 4614-1985 Oberflächenbehälter eines Messgeräts, das ionisierende Strahlung nutzt
  • KS M ISO 894:2007 Oberflächen-N-Wirkstoffe – Technische Natrium-Primäralkylsulfate – Analysemethoden
  • KS M ISO 895:2007 Oberflächen-N-Wirkstoffe – Technische Natrium-Sekundäralkylsulfate – Analysemethoden
  • KS M ISO 6384:2007 Oberflächenaktive Stoffe – Technische ethoxylierte Fettamine – Analysemethoden
  • KS M ISO 6384-2007(2022) Oberflächenaktive Stoffe – Technische ethoxylierte Fettamine – Analysemethoden
  • KS M ISO 6384-2007(2017) Oberflächenaktive Stoffe – Technische ethoxylierte Fettamine – Analysemethoden

International Federation of Trucks and Engines, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

KR-KS, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • KS D ISO 14706-2003(2023) Chemische Oberflächenanalyse – Messung von Oberflächenelementverunreinigungen auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektrometer
  • KS D ISO 14707-2003(2023) Chemische Oberflächenanalyse – Glimmentladungs-Emissionsspektroskopie (GD-OES) – Einführung
  • KS D ISO 15472-2003(2023) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Kalibrierung der Energieskala
  • KS B ISO 25178-1-2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 1: Angabe der Oberflächentextur
  • KS M ISO 893-2007(2023) Oberflächenaktive Stoffe – Technische Alkansulfonate – Analysemethoden
  • KS M ISO 894-2007(2023) Oberflächenaktive Stoffe – Technische Natrium-Primäralkylsulfate – Analysemethoden
  • KS M ISO 895-2007(2023) Oberflächenaktive Stoffe – Technische Natriumsekundäralkylsulfate – Analysemethoden

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • GB/T 13592-1992 Begriffe rund um die Oberflächenanalyse
  • GB/T 22461-2008 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz
  • GB/T 25187-2010 Chemische Oberflächenanalyse.Auger-Elektronenspektroskopie.Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • GB/T 21007-2007 Chemische Oberflächenanalyse. Informationsformate
  • GB/T 28894-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Übergabe der Proben vor der Analyse
  • GB/T 28892-2012 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • GB/T 19499-2004 Oberflächenchemische Analyse – Datenübertragungsformat
  • GB/T 29732-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • GB/T 22571-2008 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektrometer.Kalibrierung von Energieskalen
  • GB/T 29557-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Messung der Sputtertiefe
  • GB/T 15222-1994 Bewertung der Oberflächenkontamination – Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination
  • GB/T 14056.2-2011 Bewertung der Oberflächenkontamination. Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination
  • GB/T 30704-2014 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Richtlinien für die Analyse
  • GB/T 29731-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • GB/T 8997-2008 Kalibrierung für Alpha-, Beta- und Alpha/Beta-Oberflächenkontaminationsmessgeräte und -monitore
  • GB 5202-1985 Alpha-, Beta- und Alpha-Beta-Oberflächenkontaminationsmessgeräte und -monitore
  • GB/T 21006-2007 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer.Linearität der Intensitätsskala
  • GB/T 19146-2010 Infrarotgeräte zur sofortigen Messung der menschlichen Hauttemperatur
  • GB/T 42360-2023 Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopische Analyse von Wasser für die chemische Oberflächenanalyse
  • GB/T 30815-2014 Chemische Oberflächenanalyse. Richtlinien für die Vorbereitung und Montage von Proben für die Analyse
  • GB/Z 32494-2016 Analyse der Oberfläche, chemische Analyse, Auger-Elektronenspektroskopie, Interpretation chemischer Informationen
  • GB 9290-1988 Oberflächenaktive Stoffe – Technische ethoxylierte Fettamine – Analysemethoden
  • GB/T 9290-2008 Oberflächenaktive Stoffe.Technische ethoxylierte Fettamine.Analysemethode
  • GB/T 19502-2004 Chemische Oberflächenanalyse – Optische Emissionsspektrometrie mit Glimmentladung (GD-OSE) – Einführung in die Verwendung
  • GB/T 19502-2023 Chemische Oberflächenanalyse – Allgemeine Regeln für die optische Glimmentladungsspektrometrie (GD-OES)

International Organization for Standardization (ISO), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • ISO/DIS 20579-2:2024 Chemische Oberflächenanalyse
  • ISO/CD 20289:2017 Chemische Oberflächenanalyse
  • ISO/CD 20579-2:2023 Chemische Oberflächenanalyse
  • ISO/CD 24237:2023 Chemische Oberflächenanalyse
  • ISO 18118:2022 Chemische Oberflächenanalyse
  • ISO/CD 13473-4 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 4: Spektralanalyse von Oberflächenprofilen
  • ISO 15472:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
  • ISO 15472:2001 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
  • ISO 18115:2001 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
  • ISO/TS 13473-4:2008 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 4: Spektralanalyse von Oberflächenprofilen
  • ISO/DIS 13473-4 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 4: Spektralanalyse von Oberflächenprofilen im Terzband
  • ISO 18117:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Handhabung von Proben vor der Analyse
  • ISO 14975:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • ISO/TR 14187:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Charakterisierung nanostrukturierter Materialien
  • ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
  • ISO/DIS 17973:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • ISO 18115:2001/Amd 1:2006 Chemische Oberflächenanalyse - Vokabular; Änderung 1
  • ISO 18115:2001/Amd 2:2007 Chemische Oberflächenanalyse - Vokabular; Änderung 2
  • ISO 14976:1998 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Chemische Methoden zur Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumwafer-Arbeitsreferenzmaterialien und deren Bestimmung durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF); Änderung 1
  • ISO 24465:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Mindestnachweisbarkeit eines Oberflächenplasmonresonanzgeräts
  • ISO 18115-3:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 3: Begriffe, die in der optischen Grenzflächenanalyse verwendet werden
  • ISO/TR 15969:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
  • ISO/CD 17973 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • ISO 7503-2:1988 Bewertung der Oberflächenkontamination; Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination
  • ISO/PAS 13473-6:2021 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 6: Überprüfung der Leistung von Laserprofilometern zur Messung der Fahrbahntextur
  • ISO 10810:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
  • ISO 20289:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse von Wasser
  • ISO 17973:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • ISO 17973:2002 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • ISO 18116:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Richtlinien für die Vorbereitung und Montage von Proben für die Analyse
  • ISO 10810:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
  • ISO 25178-1:2016 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 1: Angabe der Oberflächenbeschaffenheit
  • ISO 15470:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • ISO/TR 14187:2011 Oberflächenchemische Analyse – Charakterisierung nanostrukturierter Materialien
  • ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
  • ISO/TR 22335:2007 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputterrate: Mesh-Replica-Methode unter Verwendung eines mechanischen Stiftprofilometers
  • ISO 15471:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • ISO 15471:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • ISO 25178-6:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächenbeschaffenheit
  • ISO/TR 15969:2001 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
  • ISO/TS 15338:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Glimmentladungs-Massenspektrometrie – Betriebsverfahren
  • ISO 893:1978 Oberflächenaktive Stoffe – Technische Natriumalkansulfonate – Analysemethoden
  • ISO 893:1989 Oberflächenaktive Stoffe; technische Alkansulfonate; Analysemethoden
  • ISO 15470:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • ISO 12406:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
  • ISO 14706:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • ISO 14706:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • ISO 25178-2:2012 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Teil 2: Begriffe, Definitionen und Oberflächenbeschaffenheitsparameter
  • ISO 13473-3:2002 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 3: Spezifikationen und Klassifizierung von Profilometern
  • ISO 894:1977 Oberflächenaktive Mittel; Technische Natrium-Primäralkylsulfate; Analysemethoden
  • ISO 895:1977 Oberflächenaktive Mittel; Technische Natriumsekundäralkylsulfate; Analysemethoden
  • ISO 17974:2002 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • ISO 13084:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
  • ISO 13424:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
  • ISO/TR 29901:2007/cor 1:2009 Ausgewählte Abbildungen vollfaktorieller Experimente mit vier Faktoren; Technische Berichtigung 1
  • ISO 22048:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
  • ISO 6384:1981 Oberflächenaktive Stoffe; Technische ethoxylierte Fettamine; Analysemethoden
  • ISO 456:1973 Oberflächenaktive Stoffe; Analyse von Seifen; Bestimmung von freiem Ätzalkali

AT-ON, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • ONORM M 1113-1982 Technische Oberflächen; Methoden der Oberflächenanalyse Surjaces techniqu.es; Methoden zur Untersuchung von Oberflächen
  • ONORM M 1114-1982 Messung der Oberflächenrauheit mit Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).

RO-ASRO, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • STAS 11195-1987 OBERFLÄCHENMITTEL Analysemethode
  • SR 110-9-1995 Zucker. Analysemethoden. Bestimmung der scheinbaren Masse
  • STAS 5730/4-1987 Oberflächenzustand REGELN FÜR DIE MESSUNG DER OBERFLÄCHENRAUHEIT MITTELS STIFTINSTRUMENTEN
  • STAS SR CEI 776-1983 Ausdruck der Eigenschaften von Logikanalysatoren
  • STAS ISO 1879:1993 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode. Wortschatz
  • STAS SR ISO 7503-2:1996 Bewertung der Oberflächenkontamination Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination
  • STAS SR ISO 3274:1995 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode – Kontaktinstrumente (Stichinstrumente) zur kontinuierlichen Profiltransformation – Kontaktprofilmessgeräte, System M

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • JIS B 0651:1996 Oberflächenbeschaffenheit – Instrumente zur Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit – Profilverfahren
  • JIS K 0147:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
  • JIS K 0142:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • JIS K 0141:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat
  • JIS B 0681-6:2014 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Flächenhaft – Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächentextur
  • JIS K 0181:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse von Wasser
  • JIS K 0154:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Richtlinien für die Vorbereitung und Montage von Proben für die Analyse
  • JIS K 0165:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • JIS B 0660:1998 Oberflächenrauheit – Terminologie – Teil 1: Oberfläche und ihre Parameter
  • JIS K 0161:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • JIS B 0681-1:2023 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 1: Angabe der Oberflächenbeschaffenheit
  • JIS K 0164:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
  • JIS K 0162:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • JIS K 0148:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • JIS K 0166:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse

YU-JUS, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • JUS H.E0.005-1979 Oberflächenaktive Mittel. Glossarj. Liste V. Analyse
  • JUS M.A1.024-1981 Oberflächenrauheit von Industrieprodukten. Klassifizierung von Oberflächenfktws
  • JUS M.A1.027-1981 Oberflächenrauheit von Industrieprodukten. Klassifizierung geschabter Oberflächen.
  • JUS M.A1.032-1980 Klassifizierung von Instrumenten und Geräten zur Messung und Bewertung der geometrischen Parameter der Oberflächenbeschaffenheit
  • JUS M.A1.031-1982 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode – Kontaktprofilmessgeräte, System M
  • JUS H.E8.053-1992 Oberflächenaktive Mittel. Technische ethoxylierte Fettamine. Analysemethoden

German Institute for Standardization, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 4: Spektralanalyse von Oberflächenprofilen (ISO/TS 13473-4:2008)
  • DIN ISO/TS 13473-4:2009 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 4: Spektralanalyse von Oberflächenprofilen (ISO/TS 13473-4:2008)
  • DIN VDE 0603-2-1:2017 Zählertafeln - Teil 2-1: Zählertafeln zur Direktmessung bis 63 A
  • DIN VDE 0603-3-3 Berichtigung 1:2021 Zählertafeln – Teil 3-3: Anschlussklemmen für Zähler; Berichtigung 1
  • DIN ISO 13473-3:2004-07 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 3: Spezifikationen und Klassifizierung von Profilometern (ISO 13473-3:2002)
  • DIN ISO 13473-3:2004 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 3: Spezifikationen und Klassifizierung von Profilometern (ISO 13473-3:2002)
  • DIN 43700:1982 Messung und Steuerung; Mess- und Kontrollinstrumente für den Schalttafeleinbau; nominale Front- und Ausschnittmaße
  • DIN VDE 0603-3-2:2017 Zählertafeln - Teil 3-2: Vorrichtung zur Montage und zum Anschluss (BKE) von elektronischen Zählern (eHZ) für den Hausgebrauch an Zählertafeln
  • DIN EN 61098:2008 Strahlenschutzinstrumentierung – Installierte Baugruppen zur Überwachung der Oberflächenkontamination von Personen (IEC 61098:2003, modifiziert); Deutsche Fassung EN 61098:2007
  • DIN ISO 13473-2:2004 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 2: Terminologie und grundlegende Anforderungen im Zusammenhang mit der Profilanalyse der Fahrbahntextur (ISO 13473-2:2002)
  • DIN ISO 13473-2:2004-07 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 2: Terminologie und grundlegende Anforderungen im Zusammenhang mit der Profilanalyse der Fahrbahntextur (ISO 13473-2:2002)
  • DIN ISO 15472:2020-05 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen (ISO 15472:2010); Text auf Englisch
  • DIN EN 14670:2005 Oberflächenaktive Stoffe – Natriumdodecylsulfat – Analyseverfahren; Deutsche Fassung EN 14670:2005
  • DIN EN 61725:1998-03 Analytischer Ausdruck für tägliche Sonnenprofile (IEC 61725:1997); Deutsche Fassung EN 61725:1997
  • DIN 28400-6:1980-10 Vakuumtechnik; Begriffe und Definitionen, Oberflächenanalysetechniken
  • DIN EN 61207-6:1995 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren - Teil 6: Photometrische Analysatoren (IEC 61207-6:1994); Deutsche Fassung EN 61207-6:1994
  • DIN 43870 Bb.1:1986 Zählermontageplatten; Informationen zum Funktionsbereich
  • DIN EN 61207-6:2016-03 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren - Teil 6: Photometrische Analysatoren (IEC 61207-6:2014); Deutsche Fassung EN 61207-6:2015 / Hinweis: DIN EN 61207-6 (1995-02) bleibt neben dieser Norm bis zum 30.12.2017 gültig.
  • DIN EN IEC 61207-3:2020-12 Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren (IEC 61207-3:2019); Deutsche Fassung EN IEC 61207-3:2019 / Hinweis: DIN EN 61207-3 (2002-11) und DIN EN 61207-3 Berichtigung 1 (2003-05) behalten neben dieser Norm ihre Gültigkeit...
  • DIN 68861-8:2001-04 Möbeloberflächen - Teil 8: Verhalten bei feuchter Hitzeeinwirkung
  • DIN 28400-6:1980 Vakuumtechnik; Begriffe und Definitionen, Oberflächenanalysetechniken
  • DIN EN 14670:2005-09 Oberflächenaktive Stoffe - Natriumdodecylsulfat - Analysemethode; Deutsche Fassung EN 14670:2005
  • DIN EN ISO 25178-1:2016-12 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Teil 1: Angabe der Oberflächenbeschaffenheit (ISO 25178-1:2016); Deutsche Fassung EN ISO 25178-1:2016
  • DIN ISO 15472:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen (ISO 15472:2010); Text auf Englisch
  • DIN EN 15330-2:2017 Oberflächen für Sportflächen – Kunstrasen und Nadelvliesoberflächen, die hauptsächlich für den Außenbereich bestimmt sind – Teil 2: Spezifikation für Nadelvliesoberflächen für Tennis- und Multisportoberflächen
  • DIN 6094-13:1997-05 Verpackungsmittel - Veredelungen - Teil 13: 2 Gewinde- und 3 Gewinde-Schraub-Veredelungen
  • DIN EN ISO 25178-6:2010-06 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Flächenhaft – Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächentextur (ISO 25178-6:2010); Deutsche Fassung EN ISO 25178-6:2010
  • DIN EN ISO 13473-1:2004 Charakterisierung der Fahrbahntextur durch Verwendung von Oberflächenprofilen – Teil 1: Bestimmung der mittleren Profiltiefe (ISO 13473-1:1997); Deutsche Fassung EN ISO 13473-1:2004
  • DIN EN 15647:2009-04 Oberflächenaktive Mittel - Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver; Deutsche Fassung EN 15647:2009
  • DIN EN 15647:2009 Oberflächenaktive Stoffe – Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver; Englische Fassung von DIN EN 15647:2009-04
  • DIN CEN/TS 15901-2:2010-03*DIN SPEC 1142:2010-03 Eigenschaften von Straßen- und Flugplatzoberflächen – Teil 2: Verfahren zur Bestimmung der Rutschfestigkeit einer Fahrbahnoberfläche unter Verwendung eines Geräts mit längskontrolliertem Schlupf (LFCRNL): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter); Deutsche Fassung CEN/TS 15...
  • DIN CEN/TS 15901-5:2010-03*DIN SPEC 1145:2010-03 Eigenschaften von Straßen- und Flugplatzoberflächen – Teil 5: Verfahren zur Bestimmung der Rutschfestigkeit einer Fahrbahnoberfläche unter Verwendung eines Geräts mit längskontrolliertem Schlupf (LFCRDK): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter); Deutsche Fassung CEN/TS 15...

Association Francaise de Normalisation, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • NF X21-055:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen.
  • NF ISO 18117:2009 Chemische Analyse von Oberflächen – Handhabung von Proben vor der Analyse
  • NF X21-065*NF ISO 18117:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Handhabung von Proben vor der Analyse
  • NF EN ISO 25178-700:2023 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche - Teil 700: Kalibrierung, Justierung und Überprüfung von Messgeräten für die Oberflächentopographie
  • NF X21-052/A2:2008 Chemische Oberflächenanalyse – Wortschatz – Änderung 2.
  • NF X21-052/A1:2008 Chemische Oberflächenanalyse – Wortschatz – ÄNDERUNGSANTRAG 1.
  • NF ISO 17973:2006 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • NF ISO 18116:2006 Chemische Analyse von Oberflächen – Richtlinien für die Vorbereitung und Zusammenstellung von Proben für die Analyse
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse.
  • NF M60-702:1988 Bewertung der Oberflächenkontamination. Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination.
  • NF EN 61725:1998 Analytischer Ausdruck täglicher Sonnenprofile
  • NF EN ISO 25178-601:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 601: Nenneigenschaften von Kontaktinstrumenten (Sondeninstrumenten).
  • NF X21-056*NF ISO 18116:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Richtlinien für die Vorbereitung und Montage von Proben für die Analyse
  • NF ISO 893:1990 Tenside – Technische Alkansulfonate – Analysemethode.
  • NF X21-071:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse.
  • NF C46-251-3*NF EN IEC 61207-3:2019 Gasanalysatoren – Leistungsausdruck – Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • NF EN 61207-6:2015 Ausdruck der Leistung von Gasanalysatoren – Teil 6: Photometrische Analysatoren
  • NF EN IEC 61207-3:2019 Gasanalysatoren – Leistungsausdruck – Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • NF E05-031-6*NF EN ISO 25178-6:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächentextur
  • NF T73-292*NF EN 14670:2005 Oberflächenaktive Stoffe – Natriumdodecylsulfat – Analysemethode.
  • NF EN 14670:2005 Tenside – Natriumdodecylsulfat – Analysemethode
  • NF EN ISO 105-Z01:1996 Textilien - Farbechtheitsprüfungen - Teil Z01: Farbechtheit gegenüber Metallen in Färbebädern: Chromsalze.
  • NF EN ISO 25178-2:2022 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 2: Begriffe, Definitionen und Oberflächenbeschaffenheitsparameter
  • NF T73-428*NF EN 15647:2009 Oberflächenaktive Mittel – Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver
  • NF E05-031-1*NF EN ISO 25178-1:2016 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: flächig – Teil 1: Angabe der Oberflächenbeschaffenheit
  • NF EN ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 701: Kalibrierungs- und Messstandards für Kontaktinstrumente
  • NF P90-149-2*NF EN 15330-2:2017 Oberflächen für Sportflächen – Kunstrasen und Nadelvliesoberflächen, die hauptsächlich für den Außenbereich bestimmt sind – Teil 2: Spezifikation für Nadelvliesoberflächen für Tennis- und Multisportoberflächen
  • NF C46-251-6*NF EN 61207-6:2015 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren – Teil 6: Photometrische Analysatoren
  • NF C46-256:1994 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren. Teil 6: Photometrische Analysegeräte.
  • NF S31-252-1:2004 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 1: Bestimmung der mittleren Profiltiefe.
  • NF EN ISO 25178-1:2016 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 1: Angabe der Oberflächenbeschaffenheit
  • NF EN 15647:2009 Tenside – Bestimmung der Dispersionskräfte von Tensiden auf Pulver
  • NF EN ISO 25178-606:2015 Geometrische Produktspezifikation (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 606: Nenneigenschaften von berührungslosen Instrumenten (Fokusvariation).
  • FD X21-063*FD ISO/TR 22335:2008 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputterrate: Mesh-Replica-Methode unter Verwendung eines mechanischen Stiftprofilometers
  • NF T73-275:1982 Aktive Oberflächenmittel. Technische ethoxylierte Fettamine. Analysemethoden.
  • NF T73-233*NF ISO 893:1990 Oberflächenaktive Mittel. Technische Alkansulfonate. Analysemethoden.
  • XP CEN/TS 15901-13:2011 Oberflächeneigenschaften von Straßen und Flughäfen – Teil 13: Verfahren zur Bestimmung der Haftung der Oberfläche einer Straßenoberfläche durch Messung eines Querreibungskoeffizienten (CFTO): der Odoliograph
  • NF EN ISO 25178-73:2019 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 73: Begriffe und Definitionen für Oberflächenfehler bei materialisierten Messungen
  • NF EN ISO 25178-607:2019 Geometrische Produktspezifikation (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 607: Nenneigenschaften berührungsloser Instrumente (konfokale Mikroskopie)
  • NF EN IEC 60580:2020 Elektromedizinische Geräte – Produktstrahlungsmessgeräte für die Expositionsoberfläche
  • NF ISO 17974:2009 Chemische Analyse von Oberflächen – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • XP P98-832-5*XP CEN/TS 15901-5:2011 Eigenschaften von Straßen- und Flugplatzoberflächen – Teil 5: Verfahren zur Bestimmung der Rutschfestigkeit einer Fahrbahnoberfläche unter Verwendung eines Geräts mit längskontrolliertem Schlupf (LFCRDK): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter)
  • NF C46-253*NF EN 61207-3:2002 Gasanalysatoren – Leistungsausdruck – Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren.
  • NF EN 15042-1:2006 Messung der Schichtdicke und Charakterisierung von Oberflächen mithilfe von Oberflächenwellen – Teil 1: Leitfaden zur Bestimmung von elastischen Konstanten, Dichte und Filmdicke mithilfe von Wellen von...
  • NF T73-232:1978 Oberflächenaktive Mittel. Technische Natrium-Sekundäralkylsulfate. Analysemethoden.
  • NF T73-231:1978 Oberflächenaktive Mittel. Technische primäre Natriumalkylsulfate. Analysemethoden.
  • NF P98-857-1*NF EN 12274-1:2018 Schlämme-Beschichtung – Prüfverfahren – Teil 1: Probenahme von Schlämme-Beschichtungsmischungen

Standard Association of Australia (SAA), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • AS ISO 18115:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
  • AS ISO 14975:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • AS ISO 14976:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat
  • AS ISO 18116:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Richtlinien für die Vorbereitung und Montage von Proben für die Analyse
  • AS 1627.7:1988 Metallbearbeitung – Vorbereitung und Vorbehandlung von Oberflächen Teil 7: Handwerkzeugreinigung von Metalloberflächen
  • AS ISO 15470:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter

British Standards Institution (BSI), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • BS ISO 13424:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Berichterstattung über Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
  • BS EN IEC 61207-3:2019 Gasanalysatoren. Ausdruck von Leistung. Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • BS ISO 14975:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • BS ISO 14975:2001 Chemische Oberflächenanalyse. Informationsformate
  • DD ISO/TS 13473-4:2008 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen. Spektralanalyse von Texturprofilen
  • PD ISO/TR 14187:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Charakterisierung nanostrukturierter Materialien
  • BS ISO 18117:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Handhabung von Proben vor der Analyse
  • BS ISO 18115-3:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Vokabular – Begriffe, die in der optischen Schnittstellenanalyse verwendet werden
  • BS DD ISO/TS 13473-4:2008 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Spektralanalyse von Texturprofilen
  • BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
  • BS ISO 14976:1998 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat
  • BS EN 61725:1997 Analytischer Ausdruck für tägliche Sonnenprofile
  • DD ISO/TR 15969:2001 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Messung der Sputtertiefe
  • BS DD ISO/TR 15969:2001 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
  • BS PD ISO/TR 15969:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Messung der Sputtertiefe
  • BS ISO 24465:2023 Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der minimalen Nachweisbarkeit eines Oberflächenplasmonresonanzgeräts
  • BS ISO 17973:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • BS EN 61207-6:2015 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren. Photometrische Analysegeräte
  • BS ISO 18115-1:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Allgemeine Begriffe und Begriffe, die in der Spektroskopie verwendet werden
  • BS ISO 18115-1:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Vokabular. Allgemeine Begriffe und Begriffe, die in der Spektroskopie verwendet werden
  • BS ISO 11039:2012 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Messung der Driftrate
  • BS ISO 20289:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse von Wasser
  • PD ISO/TS 15338:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Glimmentladungs-Massenspektrometrie. Arbeitsanweisungen
  • BS ISO 10810:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Richtlinien zur Analyse
  • BS ISO 17973:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • BS ISO 15471:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • 21/30404376 DC BS ISO 24465. Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der minimalen Nachweisbarkeit eines Oberflächenplasmonenresonanzgeräts
  • PD ISO/TR 15969:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Messung der Sputtertiefe
  • BS ISO 13473-3:2002 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Spezifikation und Klassifizierung von Profilometern
  • BS ISO 10810:2010 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Richtlinien zur Analyse
  • BS ISO 18116:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Richtlinien für die Vorbereitung und Montage von Proben für die Analyse
  • PD ISO/PAS 13473-6:2021 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen. Überprüfung der Leistung von Laserprofilometern zur Messung der Fahrbahntextur
  • 21/30385921 DC BS ISO 18115-3. Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Teil 3. Begriffe, die in der optischen Schnittstellenanalyse verwendet werden
  • BS ISO 15471:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • BS ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer. Linearität der Intensitätsskala
  • BS EN 14670:2005 Oberflächenaktive Stoffe – Natriumdodecylsulfat – Analysemethode
  • BS ISO 15470:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • BS ISO 15470:2017 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
  • BS ISO 13084:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
  • BS ISO 17862:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
  • BS EN 1370:1997 Gießen – Oberflächenrauheitsprüfung durch visuelle taktile Komparatoren
  • BS ISO 12406:2010 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
  • BS DD ISO/TS 25138:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Analyse von Metalloxidfilmen durch optische Glimmentladungsspektrometrie
  • BS ISO 17974:2002 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • BS ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
  • BS ISO 18115-2:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Begriffe aus der Rastersondenmikroskopie
  • PD ISO/TR 19693:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Charakterisierung funktioneller Glassubstrate für Biosensoranwendungen
  • BS EN ISO 8503-4:2012 Vorbereitung von Stahlsubstraten vor dem Auftragen von Farben und verwandten Produkten. Oberflächenrauheitseigenschaften von gestrahlten Stahlsubstraten. Methode zur Kalibrierung von ISO-Oberflächenprofilkomparatoren und zur Bestimmung des Oberflächenprofils
  • BS EN ISO 25178-6:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit - Fläche - Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächenbeschaffenheit
  • BS EN 15330-2:2008 Oberflächen für Sportflächen – Kunstrasen und Nadelvliesoberflächen, die hauptsächlich für den Außenbereich bestimmt sind – Teil 2: Spezifikation für Nadelvliesoberflächen
  • BS EN 15647:2009 Oberflächenaktive Mittel – Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver
  • BS ISO 14706:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • BS ISO 14706:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • BS ISO 14706:2001 Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • PD ISO/TR 22335:2007 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Messung der Sputterrate. Mesh-Replica-Methode unter Verwendung eines mechanischen Stiftprofilometers
  • BS 4359-4:1995 Bestimmung der spezifischen Oberfläche von Pulvern – Empfehlungen für Methoden zur Bestimmung der Metalloberfläche mithilfe von Gasadsorptionstechniken
  • BS ISO 14707:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Optische Glimmentladungsspektrometrie (GD-OES). Einführung in die Nutzung
  • BS ISO 14707:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Optische Emissionsspektrometrie mit Glimmentladung (GD-OES) – Einführung in die Anwendung
  • BS ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden

Society of Automotive Engineers (SAE), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • SAE ARP4252-1989 Instrumentelle Methoden zur Bestimmung der Oberflächenreinheit R(1995)
  • SAE ARP4252A-2006 Instrumentelle Methoden zur Bestimmung der Oberflächenreinheit
  • SAE ARP4252A-2017 Instrumentelle Methoden zur Bestimmung der Oberflächenreinheit
  • SAE ARP4252-1995 INSTRUMENTELLE METHODEN ZUR BESTIMMUNG DER OBERFLÄCHENREINIGKEIT

Professional Standard-Ships, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • CB 1085.4-1989 Oberflächenbehandlung in Arbeitsstunden für die Instrumentenherstellung

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • JJG 478-2016 α、β Oberflächenkontaminationsmonitore
  • JJG(建材) 107-1999 Eichvorschrift zur Bestimmung der spezifischen Oberfläche von Luftdurchlässigkeitsgeräten
  • JJG 478-1996 Verifizierungsverordnung für Alpha-Beta- und Gamma-Oberflächenkontaminationsinstrumente

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • GB/T 33498-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Charakterisierung nanostrukturierter Materialien
  • GB/T 22571-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
  • GB/T 32999-2016 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputterrate: Mesh-Replica-Methode unter Verwendung eines mechanischen Stiftprofilometers
  • GB/T 32996-2016 Chemische Oberflächenanalyse – Analyse von Metalloxidfilmen durch optische Glimmentladungsspektrometrie

未注明发布机构, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • BS ISO 14975:2000(2012) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
  • BS ISO 18117:2009(2015) Chemische Oberflächenanalyse – Handhabung von Proben vor der Analyse
  • DIN ISO 15472 E:2019-09 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
  • DIN ISO 13473-3 E:1999-10 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 3: Spezifikationen und Klassifizierung von Profilometern
  • ISO 14976:1998/Cor 1:1999 Technische Berichtigung zum Datenübertragungsformat für die chemische Oberflächenanalyse 1
  • BS 6829-0:1991(2008) Analyse oberflächenaktiver Stoffe (Rohstoffe) – Teil 0: Allgemeine Einführung
  • DIN ISO 13473-2 E:1999-10 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 2: Terminologie und grundlegende Anforderungen im Zusammenhang mit der Profilanalyse der Fahrbahntextur
  • BS ISO 17974:2002(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
  • DIN EN ISO 25178-1 E:2013-02 Geometric Product Specification (GPS) Surface Structure: Planar Form Part 1: Representation of Surface Structure (Draft)
  • BS ISO 21270:2004(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
  • BS 7044-4:1991(1999) Künstliche Sportflächen – Teil 4: Spezifikation für Flächen für den Mehrzwecksport
  • DIN EN 61207-6 E:2015-02 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren – Teil 6: Photometrische Analysatoren
  • BS 6351-2:1983(1999) Elektrische Flächenheizung – Teil 2: Leitfaden zur Auslegung elektrischer Flächenheizungssysteme

Professional Standard - Machinery, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

AWS - American Welding Society, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • C4.1 SET-1977 Messgerät für die Rauheit von Sauerstoff-Schnittflächen und Tabelle für Kriterien zur Beschreibung von Sauerstoff-Schnittflächen

Indonesia Standards, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • SNI 05-4533-1998 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode – Kontaktinstrumente (Stifte) zur progressiven Profiltransformation – Profilaufzeichnungsinstrument

American Society for Testing and Materials (ASTM), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • ASTM E673-98E1 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
  • ASTM E673-01 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
  • ASTM E673-02 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
  • ASTM E673-02b Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
  • ASTM E673-02a Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
  • ASTM E673-03 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
  • ASTM D1001-51 Spezifikation für die Siebanalyse von körnigen Mineralbelägen für Asphaltdächer und Schindeln
  • ASTM E1829-14(2020) Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
  • ASTM E770-80(1985)e1 Verfahren zur Klassifizierung der Oberflächentexturen von Straßenbelägen
  • ASTM E1829-02 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
  • ASTM E1829-97 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
  • ASTM E1829-09 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
  • ASTM E1078-14(2020) Standardhandbuch für die Probenvorbereitung und -montage in der Oberflächenanalyse
  • ASTM E1829-14 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
  • ASTM E1078-14 Standardhandbuch für die Probenvorbereitung und -montage in der Oberflächenanalyse
  • ASTM D7013/D7013M-15 Standardhandbuch für den Aufbau einer Kalibrierungsanlage für Messgeräte für die Kernoberfläche
  • ASTM D452-91(1997)e1 Standardtestverfahren zur Siebanalyse von Belägen für Asphaltdachprodukte
  • ASTM D452-91(2008) Standardtestverfahren zur Siebanalyse von Belägen für Asphaltdachprodukte
  • ASTM D452/D452M-19 Standardtestverfahren zur Siebanalyse von Belägen für Asphaltdachprodukte

AENOR, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • UNE-EN 61725:1998 ANALYTISCHER AUSDRUCK FÜR TÄGLICHE SOLARPROFILE.
  • UNE 82303:1991 INSTRUMENTE ZUR MESSUNG DER OBERFLÄCHENRAUHEIT NACH DER PROFILMETHODE. WORTSCHATZ
  • UNE 55517:1984 OBERFLÄCHENAKTIVE MITTEL. ANALYSE TECHNISCHER ALKYLBETAINE
  • UNE 20776:1996 AUSDRUCK DER EIGENSCHAFTEN VON LOGIKANALYSATOREN.
  • UNE-EN 61207-3:2004 Gasanalysatoren – Leistungsausdruck – Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • UNE 55510:1991 OBERFLÄCHENAKTIVE MITTEL. TECHNISCHE ALKASULFONATE. ANALYSEMETHODEN.
  • UNE-EN 14670:2005 Oberflächenaktive Stoffe – Natriumdodecylsulfat – Analysemethode
  • UNE 55526:1982 OBERFLÄCHENAKTIVE MITTEL. OBERFLÄCHENAKTIVE MITTEL UND REINIGUNGSMITTEL. METHODEN DER PROBENTEILUNG
  • UNE-EN 15647:2009 Oberflächenaktive Mittel – Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver
  • UNE 55909:1985 OBERFLÄCHENAKTIVE MITTEL. ANALYSE VON SEIFEN. BESTIMMUNG DES GESAMTEN FREIEN ALKALIS
  • UNE-EN 15330-2:2009 Oberflächen für Sportflächen – Kunstrasen und Nadelvliesoberflächen, die hauptsächlich für den Außenbereich bestimmt sind – Teil 2: Spezifikation für Nadelvliesoberflächen
  • UNE 55511-1:1981 OBERFLÄCHENAKTIVE MITTEL. ANALYSE TECHNISCHER NATRIUMPRIM-ALKYLSULFATE. UMFANG

ET-QSAE, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • ES 515-2000 Tenside – Waschmittel – Qualitative Analyse

Professional Standard - Education, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

International Electrotechnical Commission (IEC), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • IEC 61134:1992 Luftgestützte Instrumente zur Messung terrestrischer Gammastrahlung
  • IEC 61098:2003 Strahlenschutzinstrumentierung – Installierte Baugruppen zur Überwachung der Oberflächenkontamination des Personals
  • IEC 61207-3:2002/COR2:2003 Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren; Technische Berichtigung 2
  • IEC 60714:1981 Ausdruck der Eigenschaften von Spektrumanalysatoren
  • IEC 61207-3:2019 RLV Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • IEC 61207-3:2019 Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • IEC 60776:1983 Ausdruck der Eigenschaften von Logikanalysatoren
  • IEC 61098:2023 Strahlenschutzinstrumentierung – Installierte Oberflächenkontaminationsmonitore für das Personal
  • IEC 61207-7:2013/COR1:2015 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren - Teil 7: Abstimmbare Halbleiterlaser-Gasanalysatoren; Berichtigung 1

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • GB/T 29732-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Schneckenelektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
  • GB/T 40110-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
  • GB/T 6060.1-2018 Vergleichsprobe zur Oberflächenrauheit – Teil 1: Gussoberfläche
  • GB/T 41072-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse durch Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie
  • GB/T 40109-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
  • GB/T 36401-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
  • GB/T 40129-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
  • GB/T 36504-2018 Leitfaden zur Analyse der Oberflächenverunreinigung von Leiterplatten – Auger-Elektronenspektroskopie

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

SE-SIS, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • SIS SS-ISO 4287/1:1988 Oberflächenrauheit – Terminologie – Teil 1: Oberfläche und ihre Parameter
  • SIS SS IEC 473:1981 Elektrische Messgeräte – Einbaugeräte – Abmessungen
  • SIS SS-ISO 7503-2:1990 Bewertung der Oberflächenkontamination – Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination
  • SIS SS-ISO 4287/2:1988 Oberflächenrauheit – Terminologie – Teil 2: Messung von Oberflächenrauheitsparametern
  • SIS SS-ISO 8503-4:1992 Vorbereitung von Stahlsubstraten vor dem Auftragen von Farben und verwandten Produkten – Oberflächenrauheitseigenschaften von gestrahlten Stahlsubstraten – Teil 3: Verfahren zur Kalibrierung von ISO-Oberflächenprofilkomparatoren und für

RU-GOST R, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • GOST 19300-1986 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode. Kontaktprofilographen und Profilometer. Typen und Hauptparameter
  • GOST 9847-1979 Optische Instrumente zur Messung von Oberflächenrauheitsparametern. Basisparameter und -typen
  • GOST R 50001-1992 Oberflächenaktive Mittel. Technische Natrium-Sekundäralkylsulfate. Analysemethoden
  • GOST R 50002-1992 Oberflächenaktive Mittel. Primäre technische Natriumalkylsulfate. Analysemethoden

TR-TSE, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • TS 929-1976 INSTRUMENTE ZUR MESSUNG DER OBERFLÄCHENRAUHEIT NACH DEM PROF?LE-METHODENVOKABULAR
  • TS 930-1976 INSTRUMENTE ZUR VERMESSUNG VON OBERFLÄCHEN MIT DER POFILE-METHODE KONTAKT (STIFT) INSTRUMENTE DER PROGRESSIVEN PROF?LE-TRANSFORMATION PROF?LE-AUFZEICHNUNGSINSTRUMENTE

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • JJF 1285-2011 Kalibrierungsspezifikation für Oberflächenwiderstandstester
  • JJF 1762-2019 Programm zur Musterbewertung von α、β-Oberflächenkontaminationsmonitoren
  • JJF(建材) 162-2019 Kalibrierungsspezifikation für Glasoberflächenspannungsdetektoren
  • JJF 1105-2003 Kalibrierungsspezifikation für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente) zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode
  • JJF 1105-2018 Kalibrierungsspezifikation für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente) zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • CNS 10794-1984 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit mit der Stiftmethode

HU-MSZT, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

VN-TCVN, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • TCVN 7078-2-2007 Bewertung der Oberflächenkontamination. Teil 2: Tritium-Oberflächenkontamination

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • ASHRAE 3864-1995 Frequenzganganalyse bodengekoppelter Gebäudehüllenoberflächen

GB-REG, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

IT-UNI, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • UNI 7215-1973 Tragen Sie eine Isolierschicht auf die Oberfläche auf. Rechenfläche der T-Kreuzung

Professional Standard - Nuclear Industry, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • EJ/T 979-1995 Akkumulationsmethode zur Bestimmung der Radon-Ausatemrate an der Oberfläche

SAE - SAE International, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • IEEE/ASA C39.1-1955 Elektrische Anzeigeinstrumente, Schalttafeln und tragbare Instrumente nach ASA-Standard nach amerikanischem Standard
  • IEEE/ASA C39.1-1959 ASA Amerikanische Standardanforderungen für elektrische Anzeigeinstrumente, Schalttafeln und tragbare Instrumente

MSS - Manufacturers Standardization Society of the Valve and Fittings Industry., Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • SP 112 COMPARATOR-2016 Qualitätsstandard für die Bewertung von Gussoberflächen – Visuelle und taktile Methode – Dreidimensionaler Vergleich von Gussoberflächen

Danish Standards Foundation, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • DS/ISO 4287/1:1986 Oberflächenrauheitsterminologie Teil 1: Oberfläche und ihre Parameter
  • DS/EN 61207-3/Corr.2:2003 Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • DS/EN 61207-3/Corr.1:2003 Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • DS/EN 61207-3:2002 Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • DS/EN 14670:2005 Oberflächenaktive Stoffe – Natriumdodecylsulfat – Analysemethode
  • DS/IEC 776:1987 Ausdruck der Eigenschaften von Logikanalysatoren
  • DS/EN 15647:2009 Oberflächenaktive Mittel – Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver
  • DS/EN ISO 25178-6:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächenbeschaffenheit
  • DS/EN 15330-2:2008 Oberflächen für Sportflächen – Kunstrasen und Nadelvliesoberflächen, die hauptsächlich für den Außenbereich bestimmt sind – Teil 2: Spezifikation für Nadelvliesoberflächen
  • DS/CEN/TS 15901-2:2011 Eigenschaften von Straßen- und Flugplatzoberflächen – Teil 2: Verfahren zur Bestimmung der Rutschfestigkeit einer Fahrbahnoberfläche unter Verwendung eines Geräts mit längskontrolliertem Schlupf (LFCRNL): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter)
  • DS/CEN/TS 15901-5:2011 Eigenschaften von Straßen- und Flugplatzoberflächen – Teil 5: Verfahren zur Bestimmung der Rutschfestigkeit einer Fahrbahnoberfläche mit einem Gerät mit längskontrolliertem Schlupf (LFCRDK): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter)
  • DS/ISO 4287/2:1986 Oberflächenrauheit – Terminologie Teil 2: Parameter und Eigenschaften der Oberflächenrauheit

European Committee for Standardization (CEN), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • EN ISO 25178-6:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Flächenhaft – Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächentextur (ISO 25178-6:2010)
  • EN 14670:2005 Oberflächenaktive Stoffe – Natriumdodecylsulfat – Analysemethode
  • EN ISO 25178-1:2016 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 1: Angabe der Oberflächenbeschaffenheit
  • EN 15647:2009 Oberflächenaktive Mittel – Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver
  • CEN/TS 15901-5:2009 Eigenschaften von Straßen- und Flugplatzoberflächen – Teil 5: Verfahren zur Bestimmung der Rutschfestigkeit einer Fahrbahnoberfläche mit einem Gerät mit längskontrolliertem Schlupf (LFCRDK): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter)
  • CEN/TS 15901-2:2009 Eigenschaften von Straßen- und Flugplatzoberflächen – Teil 2: Verfahren zur Bestimmung der Rutschfestigkeit einer Fahrbahnoberfläche unter Verwendung eines Geräts mit längskontrolliertem Schlupf (LFCRNL): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter)

AGMA - American Gear Manufacturers Association, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • 99FTM5-1999 Analyse von Micropitting an Prototypen von Oberflächenermüdungstestzahnrädern

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • EN 61207-6:1994 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren Teil 6: Photometrische Analysatoren

ES-UNE, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • UNE-EN 61207-6:2015 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren – Teil 6: Photometrische Analysatoren (Von AENOR im Februar 2015 gebilligt.)
  • UNE-EN IEC 61207-3:2019 Gasanalysatoren – Leistungsausdruck – Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren (Von der spanischen Normungsvereinigung im Oktober 2019 gebilligt.)
  • UNE 55901:1986 ERRATUM OBERFLÄCHENAKTIVE MITTEL. ANALYSE VON SEIFEN. BESTIMMUNG VON LÄTZFREIEN ALKALIEN
  • UNE-EN ISO 25178-1:2016 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Teil 1: Angabe der Oberflächenbeschaffenheit (ISO 25178-1:2016)

United States Navy, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

Association of German Mechanical Engineers, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

IN-BIS, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

GOSTR, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • GOST R 58868-2020 Wälzlager für Instrumente. Abweichung von der Rundheit der Oberflächen von Teilen. Messverfahren

Professional Standard - Electron, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • EN IEC 61207-3:2019 Gasanalysatoren - Leistungsausdruck - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren
  • EN 61207-6:2015 Leistungsausdruck von Gasanalysatoren – Teil 6: Photometrische Analysatoren
  • HD 469-1987 Ausdruck der Eigenschaften von Logikanalysatoren

BE-NBN, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • NBN T 63-110-1980 Oberflächenaktive Stoffe – Technische Natriumalkansulfonate – Analysemethoden
  • NBN-ISO 893:1990 Oberflächenaktive Stoffe – Technische Alkansulfonate – Analysemethoden
  • NBN T 63-102-1980 Oberflächenaktive Stoffe - Analyse von Seifen - Bestimmung von freiem Ätzalkali
  • NBN E 22-103 Gelenkfläche der segmentierten Welle
  • NBN E 22-103-1975 Gelenkfläche der segmentierten Welle
  • NBN T 63-146-1981 Oberflächenaktive Stoffe - Technische ethoxylierte Fettamine - Analysemethoden

American Gear Manufacturers Association, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • AGMA 99FTM5-1999 Analyse von Micropitting an Prototypen von Oberflächenermüdungstestzahnrädern

Lithuanian Standards Office , Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • LST EN 14670-2005 Oberflächenaktive Stoffe – Natriumdodecylsulfat – Analysemethode
  • LST EN 15647-2009 Oberflächenaktive Mittel – Bestimmung der dispergierenden Wirkung von Tensiden auf Pulver
  • LST EN 15330-2-2008 Oberflächen für Sportflächen – Kunstrasen und Nadelvliesoberflächen, die hauptsächlich für den Außenbereich bestimmt sind – Teil 2: Spezifikation für Nadelvliesoberflächen

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • IPC TM-650 2.3.39A-1988 Test zur Identifizierung organischer Oberflächenverunreinigungen (Infrarot-Analysemethode)
  • IPC TM-650 2.3.39B-1997 Test zur Identifizierung organischer Oberflächenverunreinigungen (Infrarot-Analysemethode)
  • IPC TM-650 2.3.39C-2004 Test zur Identifizierung organischer Oberflächenverunreinigungen (Infrarot-Analysemethode)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • GJB 8201-2015 Allgemeine Spezifikation für elektronische Bodengeräte für die Landung von Dezimeterwelleninstrumenten

CZ-CSN, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • CSN 68 1148-1994 Prüfmethoden für Tenside und Detergenzien. Oberflächenaktive Mittel. Analyse von Seifen. Bestimmung von freiem Ätzalkali
  • CSN ISO 1879:1993 Instrumente zur Messung der Oberflächenrauheit nach der Profilmethode. Terminologie

Professional Standard - Military and Civilian Products, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • WJ 2250-1994 Verifizierungsvorschriften für Messgeräte für die spezifische Oberfläche von Aktivkohle

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • DB13/T 5865-2023 Kalibrierungsmethode für Instrumente zur Prüfung der Partikelgröße der Waferoberfläche

Professional Standard - Tobacco, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • YC/T 271.8-2008 Tabakmaschinen – Modalitätsdesign – Teil 8: Oberflächenschutz und Oberflächenbehandlung

Professional Standard - Agriculture, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • JJG(教委) 004-1996 Verifizierungsregeln für Oberflächen-Thermionisationsisotopen-Massenspektrometer

AT-OVE/ON, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten

  • OVE EN IEC 61207-3:2021 Gasanalysatoren - Leistungsbeschreibung - Teil 3: Paramagnetische Sauerstoffanalysatoren (deutsche Version)

(U.S.) Ford Automotive Standards, Oberflächenanalyse mit Oberflächeninstrumenten





©2007-2024Alle Rechte vorbehalten