ZH
EN
JP
ES
RU
DE

표면 기기 표면 분석

모두 500항목의 표면 기기 표면 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 표면 기기 표면 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 화학 장비, 분석 화학, 어휘, 길이 및 각도 측정, 음향 및 음향 측정, 광학 및 광학 측정, 도로 공사, 전기 장치, 건물 내 시설, 항공우주 제조 관련 도금 및 관련 프로세스, 조선 및 해양 구조물 통합, 정보 기술 응용, 베어링, 시험, 설탕, 설탕제품, 전분, 태양광 공학, 화학 제품, 전자 디스플레이 장치, 기르다, 방사선 측정, 반도체 개별 장치, 계측 및 측정 합성, 전기 및 전자 테스트, 방사선방호, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 유리, IT 단말기 및 기타 주변기기, 열역학 및 온도 측정, 산업자동화 시스템, 환경 테스트, 진공 기술, 야금 장비, 표면 처리 및 도금, 스포츠 장비 및 시설, 담배, 담배 제품 및 담배 산업 장비, 공작기계 장비, 비파괴 검사, 원자력공학, 건축 자재, 분말 야금, 품질.


Defense Logistics Agency, 표면 기기 표면 분석

Group Standards of the People's Republic of China, 표면 기기 표면 분석

Professional Standard - Chemical Industry, 표면 기기 표면 분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 표면 기기 표면 분석

International Federation of Trucks and Engines, 표면 기기 표면 분석

KR-KS, 표면 기기 표면 분석

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 표면 기기 표면 분석

  • GB/T 13592-1992 표면 분석 용어
  • GB/T 22461-2008 표면 화학 분석.
  • GB/T 25187-2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
  • GB/T 21007-2007 표면 화학 분석 정보 형식
  • GB/T 28894-2012 표면 화학 분석 - 분석 전 샘플 준비
  • GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
  • GB/T 19499-2004 표면화학 분석 데이터 전송 형식
  • GB/T 29732-2013 표면 화학 분석을 위한 중해상도 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • GB/T 29557-2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 깊이 측정
  • GB/T 15222-1994 표면 오염 판정 2부 삼중수소 표면 오염
  • GB/T 14056.2-2011 표면 오염 측정 2부: 삼중수소 표면 오염
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 29731-2013 표면 화학 분석 고해상도 오거 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 스케일 교정
  • GB/T 8997-2008 알파 및 베타 표면 오염 측정 장비 및 모니터 교정
  • GB 5202-1985 알파, 베타, 알파-베타 표면 오염 측정기 및 모니터
  • GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
  • GB/T 30815-2014 표면 화학 분석을 위한 분석 샘플 준비 및 설정 가이드
  • GB/T 19146-2010 적외선 인체 표면 온도 급속 검사 장비
  • GB/Z 32494-2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 화학 정보 해석
  • GB 9290-1988 계면활성제 산업용 에톡실화 지방아민 분석 방법
  • GB/T 9290-2008 계면활성제, 산업용 에톡실화 지방 아민, 분석 방법
  • GB/T 19502-2004 표면 화학 분석 - 글로우 방전 방출 분광법의 일반 원리
  • GB/T 19502-2023 표면 화학 분석을 위한 글로우 방전 방출 분광법에 대한 일반 규칙

International Organization for Standardization (ISO), 표면 기기 표면 분석

  • ISO/CD 20289:2017 표면 화학 분석
  • ISO/CD 20579-2:2023 표면 화학 분석
  • ISO/CD 24237:2023 표면 화학 분석
  • ISO 18118:2022 표면 화학 분석
  • ISO/DIS 20579-2:2024 표면 화학 분석
  • ISO/CD 13473-4 표면 프로파일을 이용한 포장 구조 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
  • ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
  • ISO 18115:2001 표면 화학 분석 용어집
  • ISO/TS 13473-4:2008 표면 외관 포장 구조의 특성 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
  • ISO/DIS 13473-4 표면 프로파일을 이용한 포장 구조 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 1/3 옥타브 스펙트럼 분석
  • ISO 18117:2009 표면 화학 분석, 시료 처리 전 분석
  • ISO 14975:2000 표면 화학 분석 정보 형식
  • ISO/TR 14187:2020 표면 화학 분석 - 나노구조 재료의 특성화
  • ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
  • ISO/DIS 17973:2023 표면 화학 분석에서 원소 분석 에너지 분해능 수준의 교정 오거 전자 분광계
  • ISO 18115:2001/Amd 1:2006 표면 화학 분석 어휘 수정 1
  • ISO 18115:2001/Amd 2:2007 표면화학분석 어휘 수정 2
  • ISO 14976:1998 표면화학 분석 데이터 전송 형식
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 표면 화학 분석 화학적 방법 및 광학 분석기(TXRF) 분광 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼 처리 표준 재료 표면 요소 수집 수정 1
  • ISO 24465:2023 표면 화학 분석 - 표면 플라즈몬 공명 장치의 최소 검출 가능성 결정
  • ISO 18115-3:2022 표면 화학 분석 용어집 3부: 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어.
  • ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 - 깊이 분석 - 스퍼터링 깊이 측정
  • ISO/CD 17973 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
  • ISO 7503-2:1988 표면 오염 평가 파트 2: 삼중수소 표면 오염
  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
  • ISO/PAS 13473-6:2021 표면 프로파일을 사용한 포장 구조 특성화 6부: 포장 구조 측정을 위한 레이저 프로파일러 성능 검증
  • ISO 17973:2016 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • ISO 17973:2002 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • ISO 18116:2005 표면 화학 분석 - 분석용 시편 준비 및 조립 지침
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • ISO 25178-1:2016 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 구조: 평면 1부: 표면 구조 표현
  • ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
  • ISO/TR 14187:2011 표면 화학 분석, 나노 구조 물질의 특성 분석
  • ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • ISO/TR 22335:2007 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정: 기계식 광학 스타일러스 프로파일로미터를 사용한 메쉬 복제 방법.
  • ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 25178-6:2010 제품의 기하학적 규격(GPS) 표면 질감: 표면 6부: 표면 질감 측정 방법 분류
  • ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 설명 스퍼터 깊이 측정
  • ISO/TS 15338:2020 표면 화학 분석 - 글로우 방전 질량 분석법 - 작동 절차
  • ISO 893:1978 계면활성제 산업용 알칸술폰산나트륨의 분석방법
  • ISO 893:1989 계면활성제 산업용 알칸 설폰산염에 대한 분석 방법
  • ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
  • ISO 14706:2000 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
  • ISO 14706:2014 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
  • ISO 25178-2:2012 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 표면 2부: 용어, 정의 및 표면 질감 매개변수
  • ISO 13473-3:2002 표면 외관 포장 구조물의 특성 3부: 프로파일로미터의 사양 및 분류
  • ISO 894:1977 계면활성제 산업용 1차 알킬황산나트륨 분석방법
  • ISO 895:1977 계면활성제 산업용 2차 알킬황산나트륨 분석방법
  • ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
  • ISO 13084:2011 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 비행 시간 2차 이온 질량 분석기에 대한 질량 스케일 교정
  • ISO/TR 29901:2007/cor 1:2009 4가지 요인에 대한 종합적인 요인 테스트를 위해 선택된 차트 기술 정오표 1
  • ISO 22048:2004 표면 화학 분석 - 정적 2차 이온 질량분석법 정보 형식
  • ISO 6384:1981 계면활성제 산업용 에톡실화 지방아민 분석 방법
  • ISO 456:1973 계면활성제 비누 분석 유리 가성 알칼리 측정
  • ISO 4287-1:1984 표면 거칠기 용어 1부: 표면 및 해당 매개변수 세 가지 언어 버전

AT-ON, 표면 기기 표면 분석

RO-ASRO, 표면 기기 표면 분석

  • STAS 11195-1987 표면제 분석 방법
  • SR 110-9-1995 설탕. 분석 방법. 표면 품질 결정
  • STAS SR CEI 776-1983 로직 분석기 성능
  • STAS 5730/4-1987 표면 상태. 스타일러스 기구를 이용한 표면 거칠기 측정 방법
  • STAS ISO 1879:1993 프로파일법을 이용하여 표면 거칠기를 측정하는 장비입니다. 어휘
  • STAS SR ISO 7503-2:1996 표면 오염 평가. 2부: 삼중수소 표면 오염
  • STAS SR ISO 3274:1995 프로파일 장비는 표면 거칠기를 측정하는 장비입니다. 윤곽 시퀀스 변환 기능이 있는 접촉식(스타일러스) 유형 기기입니다. 접촉면 측정기 시스템 M

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 표면 기기 표면 분석

  • JIS B 0651:1996 표면 질감 표면 질감 평가를 위한 도구 단면 방법
  • JIS K 0147:2004 표면 화학 분석.
  • JIS K 0142:2000 표면 화학 분석 정보 형식
  • JIS K 0141:2000 표면 화학 분석 - 데이터 전송 형식
  • JIS B 0681-6:2014 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 표면 6부: 표면 질감 측정 방법 분류
  • JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • JIS K 0154:2017 표면 화학 분석 분석용 시료 준비 및 설치 지침
  • JIS K 0165:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • JIS B 0660:1998 표면 거칠기 용어 1부: 표면 및 해당 매개변수
  • JIS K 0161:2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • JIS B 0681-1:2023 제품 기하학적 사양(GPS) 표면 질감: 영역 파트 1: 표면 질감 표시
  • JIS K 0164:2023 실리콘 내 붕소의 깊이 분석을 위한 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 방법
  • JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • JIS K 0148:2005 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼의 주요 표면 오염 물질을 측정합니다.
  • JIS K 0166:2011 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정

YU-JUS, 표면 기기 표면 분석

German Institute for Standardization, 표면 기기 표면 분석

  • DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 표면 프로파일을 이용한 포장 질감 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
  • DIN ISO/TS 13473-4:2009 표면 프로파일을 사용한 포장 구조의 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
  • DIN VDE 0603-2-1:2017 계기판 2-1부: 최대 63A의 직접 측정을 위한 계기판
  • DIN VDE 0603-3-3 Berichtigung 1:2021 계기판 파트 3-3: 계기용 터미널 커넥터, 정오표 1
  • DIN ISO 13473-3:2004-07 표면 프로파일을 이용한 포장 질감 특성 분석 3부: 프로파일로미터의 사양 및 분류
  • DIN ISO 13473-3:2004 표면 외관에 따른 포장 구조의 특성 분석 3부: 프로파일로미터의 사양 및 분류
  • DIN 43700:1982 측정 및 제어 계기판에 장착된 측정 및 제어 장비 공칭 패널 전면 및 단면 치수
  • DIN VDE 0603-3-2:2017 계기판 3-2부 : 가정용 전기 계량기 설치 연결
  • DIN EN 61098:2008 방사선 방호 장비 고정된 개인 표면 오염 모니터링 장치
  • DIN ISO 13473-2:2004 표면외관을 이용한 포장구조물의 특성화 제2부: 포장구조물의 외관해석에 관한 용어 및 기본요구사항
  • DIN ISO 13473-2:2004-07 표면 프로파일을 이용한 포장 질감 특성화 2부: 포장 질감 프로파일 분석과 관련된 용어 및 기본 요구 사항
  • DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
  • DIN EN 14670:2005 계면활성제, 라우릴황산나트륨, 분석 방법
  • DIN EN 61725:1998-03 일일 태양 프로필에 대한 분석 표현(IEC 61725:1997)
  • DIN 28400-6:1980-10 진공 기술, 용어 및 정의, 표면 분석 기술
  • DIN EN 61207-6:1995 가스 분석기의 성능 표현 6부: 광도 분석기
  • DIN 43870 Bb.1:1986 장비 장착 패널 작동 표면에 대한 정보
  • DIN EN 61207-6:2016-03 가스 분석기의 성능 표현 6부: 광도 분석기
  • DIN EN IEC 61207-3:2020-12 가스 분석기 성능 표현 3부: 상자성 산소 분석기
  • DIN 68861-8:2001-04 가구 표면 파트 8: 습기 및 열 동작
  • DIN EN 14670:2005-09 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법
  • DIN 28400-6:1980 진공 기술 - 표면 분석 기술의 용어 및 정의
  • DIN EN ISO 25178-1:2016-12 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 영역 파트 1: 표면 질감 표시
  • DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
  • DIN EN 15330-2:2017 주로 실외 사용을 위해 설계된 스포츠 표면용 인조 잔디 및 니들펀치 표면 2부: 테니스 및 멀티 스포츠 표면용 니들펀치 표면 사양
  • DIN 6094-13:1997-05 포장 - 표면 준비 - 13부: 2개의 나사 표면 준비 및 3개의 나사 나사 표면 준비
  • DIN EN ISO 25178-6:2010-06 기하학적 제품 사양(GPS) - 표면 질감: 영역 - 6부: 표면 질감 측정 방법 분류
  • DIN EN 15647:2009-04 계면활성제 분말 분산에 대한 계면활성제 효과 측정
  • DIN EN ISO 13473-1:2004 포장 구조를 특성화하기 위해 표면 모양 사용 1부: 평균 단면 높이 결정
  • DIN EN 15647:2009 분말 내 계면활성제의 분산 효과 확인
  • DIN CEN/TS 15901-2:2010-03*DIN SPEC 1142:2010-03 도로 및 공항 표면 특성 - 2부: 종방향 제어 스키드 장치(LFCRNL)를 사용하여 포장 도로의 미끄럼 저항을 결정하는 절차: ROAR(Norsemeter 도로 분석기 및 레코더)
  • DIN CEN/TS 15901-5:2010-03*DIN SPEC 1145:2010-03 도로 및 공항 표면 특성 - 5부: 종방향 제어 스키드 장치(LFCRDK)를 사용하여 포장 도로의 미끄럼 저항을 결정하는 절차: ROAR(Norsemeter 도로 분석기 및 레코더)
  • DIN 6094-3:2003-10 포장종류 표면처리 3편 : 레버스토퍼 표면처리

Association Francaise de Normalisation, 표면 기기 표면 분석

Standard Association of Australia （SAA）, 표면 기기 표면 분석

British Standards Institution (BSI), 표면 기기 표면 분석

  • BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
  • BS EN IEC 61207-3:2019 가스 분석기 성능 상자성 산소 분석기
  • BS ISO 14975:2000 표면 화학 분석 정보 형식
  • BS ISO 14975:2001 표면 화학 분석 정보 형식
  • PD ISO/TR 14187:2020 나노구조 물질의 특성화를 위한 표면 화학 분석
  • DD ISO/TS 13473-4:2008 포장 질감 질감 프로필을 특성화하기 위해 표면 프로필을 사용한 스펙트럼 분석
  • BS ISO 18117:2009 표면 화학 분석 - 분석 전 샘플 준비
  • BS ISO 18115-3:2022 표면 화학 분석 용어집 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어
  • BS DD ISO/TS 13473-4:2008 표면 프로파일을 이용한 포장 구조의 특성화 구조 프로파일의 스펙트럼 분석
  • BS ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
  • BS ISO 14976:1998 표면 화학 분석 - 데이터 전송 형식
  • BS EN 61725:1997 일일 태양 프로필에 대한 분석 표현
  • DD ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 깊이 측정
  • BS DD ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
  • BS PD ISO/TR 15969:2021 스퍼터 깊이의 표면 화학 분석 깊이 프로파일 측정
  • BS ISO 24465:2023 표면 화학 분석을 위한 표면 플라즈몬 공명 장치의 최소 검출 능력 결정
  • BS ISO 17973:2016 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
  • BS EN 61207-6:2015 가스 분석기 성능 광도 분석기의 표현
  • BS ISO 18115-1:2010 표면 화학 분석, 용어집, 일반 용어 및 분광학 용어
  • BS ISO 18115-1:2013 표면 화학 분석, 용어집, 일반 용어 및 분광학 용어
  • BS ISO 11039:2012 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 드리프트 속도 결정
  • BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • PD ISO/TS 15338:2020 표면화학분석 글로우방전 질량분석법 분석 운용과정
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS ISO 17973:2003 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • 21/30404376 DC BS ISO 24465. 표면 화학 분석. 표면 플라즈몬 공명 장치의 최소 검출 능력 결정
  • PD ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
  • BS ISO 13473-3:2002 표면 프로파일링 포장 재료의 표면 구조 특성화 프로파일로미터의 사양 및 분류
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • BS ISO 18116:2005 표면 화학 분석 - 분석용 시편 준비 및 조립 지침
  • PD ISO/PAS 13473-6:2021 포장 질감을 특성화하기 위해 표면 프로파일을 사용하여 포장 질감 측정을 위한 레이저 프로파일로미터의 성능 검증
  • 21/30385921 DC BS ISO 18115-3 표면 화학 분석 용어집 3부. 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어
  • BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • BS EN 14670:2005 계면활성제, 라우릴황산나트륨, 분석 방법
  • BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS ISO 13084:2018 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 분석 Time-of-Flight 2차 이온 질량 분석법 질량 스케일 교정
  • BS ISO 17862:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량분석기 분석 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
  • BS EN 1370:1997 주조.표면 거칠기를 확인하는 시각적 비교기
  • BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
  • BS DD ISO/TS 25138:2011 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
  • BS ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
  • BS ISO 18115-2:2010 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어입니다.
  • PD ISO/TR 19693:2018 표면 화학 분석 바이오센싱 응용을 위한 기능성 유리 기판의 특성 분석
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • BS EN ISO 25178-6:2010 제품 기하학적 사양(GPS) 표면 질감 평평한 표면 표면 질감 측정 방법 분류
  • BS EN ISO 8503-4:2012 코팅 및 관련 제품을 적용하기 전 강철 기판 준비 쇼트 피닝된 강철 기판의 표면 거칠기 4부: ISO 표면 프로파일 비교기의 교정 방법 및 표면 프로파일 결정 방법 스타일러스 장비 방법
  • BS EN 15330-2:2008 스포츠 경기장 표면 원래 옥외용으로 설계된 인조 잔디 및 니들 펀치 표면 파트 2: 니들 펀치 표면 사양
  • BS EN 15647:2009 계면활성제 분말 분산에 대한 계면활성제의 효과 측정
  • BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • PD ISO/TR 22335:2007 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정 기계식 스타일러스 프로파일로미터를 이용한 그리드 복제 방법
  • BS 4359-4:1995 분말의 표면 계수 결정 4부: 가스 표면 흡착 기술을 사용한 금속 표면적 결정을 위한 권장 방법
  • BS ISO 14707:2015 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
  • BS ISO 14707:2000 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
  • BS ISO 18115-2:2013 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 대한 용어

Society of Automotive Engineers (SAE), 표면 기기 표면 분석

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 표면 기기 표면 분석

Professional Standard-Ships, 표면 기기 표면 분석

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 표면 기기 표면 분석

  • GB/T 33498-2017 표면 화학 분석 나노구조 물질 특성화
  • GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
  • GB/T 32999-2016 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 기계적 프로파일로미터 그리드 복제 방법을 사용한 스퍼터링 속도 측정
  • GB/T 32996-2016 표면 화학 분석 금속 산화막의 글로우 방전 방출 분광 분석

未注明发布机构, 표면 기기 표면 분석

Professional Standard - Machinery, 표면 기기 표면 분석

  • JB/T 6791-2010 계기 및 미터용 페이스 젬 베어링
  • JB/T 6791-1993 계기 및 미터용 페이스 젬 베어링
  • JB/T 11271-2012 접촉식(스타일러스)형 표면조도 측정기
  • JB/T 7976-1999 프로파일로메트리로 표면 거칠기를 측정하는 장비입니다.
  • JB/T 7976-2010 프로파일로메트리로 표면 거칠기를 측정하는 장비입니다.

AWS - American Welding Society, 표면 기기 표면 분석

  • C4.1 SET-1977 산소 절단 표면 거칠기 측정기 및 산소 절단 표면 표준을 설명하는 차트

Indonesia Standards, 표면 기기 표면 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 표면 기기 표면 분석

AENOR, 표면 기기 표면 분석

  • UNE-EN 61725:1998 일일 태양 프로필에 대한 분석 표현
  • UNE 82303:1991 프로파일링 방법을 사용하여 표면 거칠기를 측정하는 장비 용어집
  • UNE 55517:1984 계면활성제 산업용 알킬 베타인 분석
  • UNE 20776:1996 로직분석기의 특징적인 표현
  • UNE-EN 61207-3:2004 가스 분석기 성능 파트 3: 상자성 산소 분석기
  • UNE 55510:1991 계면활성제 산업용 알칸 설폰산염에 대한 분석 방법
  • UNE-EN 14670:2005 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법
  • UNE 55526:1982 계면활성제 및 세제 시료 분류 방법
  • UNE-EN 15647:2009 분말 분산에 대한 계면활성제의 효과 결정
  • UNE 55909:1985 계면활성제 비누 분석 총 유리 염기 측정
  • UNE-EN 15330-2:2009 주로 실외 사용을 위해 설계된 운동장 표면용 인조 잔디 및 니들 펀치 표면 2부: 니들 펀치 표면 사양
  • UNE 55511-1:1981 계면활성제 산업용 1차 알킬황산나트륨 분석 범위

ET-QSAE, 표면 기기 표면 분석

Professional Standard - Education, 표면 기기 표면 분석

International Electrotechnical Commission (IEC), 표면 기기 표면 분석

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 표면 기기 표면 분석

  • GB/T 29732-2021 중해상도의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 보정 표면 화학 분석을 위한 오거 전자 분광기
  • GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
  • GB/T 6060.1-2018 표면거칠기 비교시편 1부 : 주조면
  • GB/T 41072-2021 표면 화학 분석 전자 분광학 UV 광전자 분광학 안내서
  • GB/T 40109-2021 표면 화학 분석 실리콘 내 붕소의 깊이 프로파일링을 위한 2차 이온 질량 분석 방법
  • GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
  • GB/T 40129-2021 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 비행 시간 2차 이온 질량 분석기 질량 교정
  • GB/T 36504-2018 인쇄 회로 기판의 표면 오염 물질 분석 오거 전자 분광법

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 표면 기기 표면 분석

SE-SIS, 표면 기기 표면 분석

  • SIS SS-ISO 4287/1:1988 표면 거칠기. 용어 사전. 1부: 표면 및 해당 매개변수
  • SIS SS IEC 473:1981 전기 측정 장비. 패널 장착형 계측기. 크기
  • SIS SS-ISO 7503-2:1990 표면 오염 평가. 2부: 삼중수소 표면 오염
  • SIS SS-ISO 4287/2:1988 표면 거칠기. 용어. 파트 2: 표면 거칠기 매개변수 측정
  • SIS SS-ISO 8503-4:1992 코팅 및 관련 제품을 사용하기 전 강철 기판을 준비합니다. 샌드블라스트 처리된 강철 기판의 표면 거칠기 특성. 4부: ISO 표면 프로파일 비교기의 교정 방법 및 표면 프로파일 측정 방법. 포인터 바늘 기구 프로그램

RU-GOST R, 표면 기기 표면 분석

  • GOST 19300-1986 프로파일로메트리를 사용하여 표면 거칠기를 측정하는 장비 접촉 표면 광도계 유형, 기본 매개변수
  • GOST 9847-1979 표면 거칠기 매개변수를 측정하기 위한 광학 기기 유형 및 기본 매개변수
  • GOST R 50001-1992 계면활성제.산업용 황산나트륨.분석 방법
  • GOST R 50002-1992 계면활성제.산업용 1차 알킬황산나트륨.분석 방법

TR-TSE, 표면 기기 표면 분석

  • TS 929-1976 프로파일법 표면거칠기 측정기
  • TS 930-1976 윤곽법 스타일러스 표면 측정기 점근적 윤곽 측정기 윤곽 기록계

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 표면 기기 표면 분석

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 표면 기기 표면 분석

HU-MSZT, 표면 기기 표면 분석

VN-TCVN, 표면 기기 표면 분석

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 표면 기기 표면 분석

  • ASHRAE 3864-1995 지면과 결합된 건물 외피 표면의 주파수 응답 분석

GB-REG, 표면 기기 표면 분석

IT-UNI, 표면 기기 표면 분석

  • UNI 7215-1973 표면에 절연층을 추가합니다. T-접합의 계산 표면

Professional Standard - Nuclear Industry, 표면 기기 표면 분석

  • EJ/T 979-1995 표면 라돈 용출률 측정을 위한 축적 방법

SAE - SAE International, 표면 기기 표면 분석

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 표면 기기 표면 분석

  • IEEE/ASA C39.1-1955 전기 표시 계기판, 배전반 및 휴대용 기기에 대한 ASA 미국 표준
  • IEEE/ASA C39.1-1959 전기 표시 계기판, 배전반 및 휴대용 기기에 대한 ASA 미국 표준 요구 사항

MSS - Manufacturers Standardization Society of the Valve and Fittings Industry., 표면 기기 표면 분석

  • SP 112 COMPARATOR-2016 주물 표면 마감 평가 품질 기준 "육안 검사 방법" "3차원 주물 표면 비교기"

Danish Standards Foundation, 표면 기기 표면 분석

  • DS/ISO 4287/1:1986 표면 거칠기. 용어. 1부: 표면 및 해당 매개변수
  • DS/EN 61207-3/Corr.2:2003 가스 분석기 성능 파트 3: 상자성 산소 분석기
  • DS/EN 61207-3/Corr.1:2003 가스 분석기 성능 파트 3: 상자성 산소 분석기
  • DS/EN 61207-3:2002 가스 분석기 성능 파트 3: 상자성 산소 분석기
  • DS/EN 14670:2005 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법
  • DS/IEC 776:1987 로직 분석기 성능 표현
  • DS/EN 15647:2009 분말 분산에 대한 계면활성제의 효과 결정
  • DS/EN ISO 25178-6:2010 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 영역 6부: 표면 질감 측정 방법 분류
  • DS/EN 15330-2:2008 주로 실외 사용을 위해 설계된 운동장 표면용 인조 잔디 및 니들 펀치 표면 2부: 니들 펀치 표면 사양
  • DS/CEN/TS 15901-2:2011 도로 및 공항 표면 특성 2부: 종방향 제어 미끄럼 장치(LFCRNL)를 사용하여 포장 도로의 미끄럼 저항을 결정하는 절차: ROAR(Norsemeter 도로 분석기 및 기록기)
  • DS/CEN/TS 15901-5:2011 도로 및 공항 표면 특성 5부: 종방향 제어 스키드 장치(LFCRDK)를 사용하여 포장 도로의 미끄럼 저항을 결정하는 절차: ROAR(Norsemeter 도로 분석기 및 기록기)
  • DS/ISO 4287/2:1986 표면 거칠기. 용어. 2부: 표면 거칠기의 매개변수 및 특성
  • DS/EN ISO 13473-5:2010 표면 프로파일을 이용한 포장 질감 특성 분석 5부: 큰 질감 결정

European Committee for Standardization (CEN), 표면 기기 표면 분석

  • EN ISO 25178-6:2010 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감 표면 6부: 표면 질감 측정 방법 분류
  • EN ISO 25178-1:2016 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 구조 영역 1부: 표면 구조 표현(ISO 25178-1:2016)
  • EN 14670:2005 계면활성제, 라우릴황산나트륨, 분석 방법
  • EN 15647:2009 계면활성제 분말 내 계면활성제의 분산 효과 확인
  • CEN/TS 15901-5:2009 도로 및 공항 표면 특성 5부: 종방향 제어 스키드 장치(LFCRDK)를 사용하여 포장 도로의 미끄럼 저항을 결정하는 절차: ROAR(Norsemeter 도로 분석기 및 기록기)
  • CEN/TS 15901-2:2009 도로 및 공항 표면 특성 2부: 종방향 제어 스키드 장치(LFCRNL)를 사용하여 포장 도로의 미끄럼 저항을 결정하는 절차: ROAR(Norsemeter 도로 분석기 및 기록기)
  • prEN ISO 13473-5 rev 표면 프로파일을 이용한 포장 질감 특성 분석 5부: 큰 질감 결정

AGMA - American Gear Manufacturers Association, 표면 기기 표면 분석

  • 99FTM5-1999 프로토타입 표면 피로 테스트에서 기어 마이크로피팅 부식 분석

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 표면 기기 표면 분석

ES-UNE, 표면 기기 표면 분석

United States Navy, 표면 기기 표면 분석

Association of German Mechanical Engineers, 표면 기기 표면 분석

IN-BIS, 표면 기기 표면 분석

Professional Standard - Electron, 표면 기기 표면 분석

GOSTR, 표면 기기 표면 분석

  • GOST R 58868-2020 기기 롤링 베어링 부품의 표면 진원도에 대한 편차 측정 단계

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 표면 기기 표면 분석

BE-NBN, 표면 기기 표면 분석

American Gear Manufacturers Association, 표면 기기 표면 분석

  • AGMA 99FTM5-1999 프로토타입 표면 피로 시험 장치의 마이크로피팅 분석

Lithuanian Standards Office , 표면 기기 표면 분석

  • LST EN 14670-2005 계면활성제 라우릴황산나트륨의 분석방법
  • LST EN 15647-2009 분말 분산에 대한 계면활성제의 효과 결정
  • LST EN 15330-2-2008 주로 실외 사용을 위해 설계된 운동장 표면용 인조 잔디 및 니들 펀치 표면 2부: 니들 펀치 표면 사양

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 표면 기기 표면 분석

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 표면 기기 표면 분석

  • GJB 8201-2015 데시미터파 계기착륙용 지상전자장비 일반규격

CZ-CSN, 표면 기기 표면 분석

  • CSN 68 1148-1994 계면활성제 및 세제에 대한 테스트 방법. 계면활성제. 비누 분석. 유리 부식성 알칼리 측정
  • CSN ISO 1879:1993 프로파일로메트리 방법을 사용하여 표면 두께를 측정하는 장비입니다. 용어

Professional Standard - Military and Civilian Products, 표면 기기 표면 분석

  • WJ 2250-1994 활성탄 비표면적 측정기의 교정 절차

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 표면 기기 표면 분석

Professional Standard - Tobacco, 표면 기기 표면 분석

  • YC/T 271.8-2008 담배 기계, 형태 디자인 파트 8: 표면 보호 및 표면 처리

Professional Standard - Agriculture, 표면 기기 표면 분석

AT-OVE/ON, 표면 기기 표면 분석

(U.S.) Ford Automotive Standards, 표면 기기 표면 분석

  표면 분석, 표면 분석기, 표면 분석기, 표면 분석, 표면 분석 기술, 재료 표면 분석, 표면요소 분석, 표면요소해석 표면요소해석, 표면요소 분석, 비표면분석, 표면 분석 방법, 표면 분석 시스템, 진공 표면 분석, 표면 에너지 분석, 표면 분석, 표면 분석 시스템, 표면 분석 표면 분석 방법, 표면분석 표면분석 시스템, 비표면적 측정기 비표면 분석, 표면 기기 표면 분석.

 



©2007-2024 저작권 소유