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So testen Sie den Chip

Für die So testen Sie den Chip gibt es insgesamt 156 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So testen Sie den Chip die folgenden Kategorien: Mikrobiologie, Elektronische Komponenten und Komponenten, Optoelektronik, Lasergeräte, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Diskrete Halbleitergeräte, Land-und Forstwirtschaft, Allgemeine Methoden der Lebensmittelprüfung und -analyse, Zeichensätze und Nachrichtenkodierung, Tierheilkunde, Fleisch, Fleischprodukte und andere tierische Lebensmittel, medizinische Ausrüstung, mobile Dienste, Straßenfahrzeug umfassend, Glasfaserkommunikation, Biologie, Botanik, Zoologie, Komponenten elektrischer Geräte, Elektrische Lichter und zugehörige Geräte, Wortschatz, Stahlprodukte, Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Straßenbahn, Gummi- und Kunststoffprodukte, Anwendungen der Informationstechnologie, Verbundverstärkte Materialien, Medizin- und Gesundheitstechnik, Netzwerk, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, fotografische Fähigkeiten, Datenspeichergerät, magnetische Materialien, Verstärkter Kunststoff, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Umfangreiche elektronische Komponenten, Optik und optische Messungen, Plastik, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Pumpe, Gebäudestruktur, Baumaterial, Bauteile, Prüfung von Metallmaterialien, Film, Papier und Pappe, Straßenfahrzeuggerät.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, So testen Sie den Chip

  • GB/T 20929-2007 Die Methoden zum Testen von Acidithiobacillus ferrooxidans und seiner Aktivität mittels Microarray-Technologie
  • GB/T 28065-2011 Biochip-Nachweis von Ceratitis capitata (Wiedemann)
  • GB/T 19495.6-2004 Nachweis gentechnisch veränderter Organismen und Folgeprodukte. Nachweis von Genchips
  • GB/T 41522-2022 Methode eines DNA-Mikroarrays zum Nachweis von drei Hundeviren
  • GB/T 35024-2018 Methode zum Nachweis von Säugetier- und Geflügelbestandteilen. Anordnung suspendierter Perlen
  • GB/T 31730-2015 Nachweis gentechnisch veränderter Bestandteile in Reis. Membranbasierte Array-Methode
  • GB/T 31294-2014 Der Kern des Rotorblatts einer Windkraftanlage. Prüfverfahren zur Deckschichtspaltung von Sandwichpaneelen
  • GB/T 9858-2009 Verfahren zur Bestimmung der Faltfestigkeit von fotografischem Film und Filmträger
  • GB/T 12683-2009 Methode zur Bestimmung der Zugeigenschaften von fotografischem Film und Filmträger
  • GB/T 13789-2008 Methoden zur Messung der magnetischen Eigenschaften von Magnetblechen und -bändern mit einem Einzelblechprüfgerät
  • GB/T 13789-2022 Methoden zur Messung der magnetischen Eigenschaften von Elektrostahlbändern und -blechen mit einem Einzelblechprüfgerät
  • GB/T 15457-1995 Verfahren zur Bestimmung der Gleitfähigkeit von fotografischem Film und Filmträger

British Standards Institution (BSI), So testen Sie den Chip

  • 22/30383603 DC BS IEC 63215-4. Dauertestverfahren für Die-Attach-Materialien für die Anwendung in leistungselektronischen Geräten – Teil 4. Power-Cycling-Testverfahren für Die-Attach-Materialien (Near-Chip-Verbindung) für die Anwendung in leistungselektronischen Geräten vom Modultyp
  • BS EN IEC 63215-2:2023 Dauertestmethoden für Die-Attach-Materialien – Temperaturwechseltestmethode für Die-Attach-Materialien, die auf diskrete Leistungselektronikgeräte angewendet werden
  • 21/30439434 DC BS EN IEC 63215-5. Dauertestmethoden für Die-Attach-Materialien – Teil 5. Temperaturwechseltestmethoden für Die-Attach-Materialien (Systemlötverbindung), angewendet auf modulartige leistungselektronische Geräte
  • BS IEC 62528:2007 Standardtestmethode für eingebettete, kernbasierte integrierte Schaltkreise
  • BS EN 62024-1:2002 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich
  • 20/30383597 DC BS EN IEC 63215-2. Dauertestmethoden für Die-Attach-Materialien für Leistungselektronikgeräte. Teil 2. Temperaturwechseltestverfahren und Zuverlässigkeitsleistungsindex für Die-Attach-Materialien für diskrete Leistungselektronikgeräte
  • BS EN 62024-1:2008 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich
  • BS EN ISO 12224-2:1999 Massiv- und Flussmitteldraht - Spezifikation und Prüfverfahren - Bestimmung des Flussmittelgehalts

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, So testen Sie den Chip

  • GB/T 36613-2018 Sondentestverfahren für Leuchtdiodenchips
  • GB/T 35029-2018 Auf dem Microarray basierende Methode zur Mutationserkennung bei erblich bedingtem Hörverlust
  • GB/T 37908-2019 Allgemeine Analyseregulierung des markierungsfreien Protein-Microarrays basierend auf bildgebender Ellipsometrie
  • GB/T 38490-2021 Bestimmung der adaptiven Hochdurchsatz-Evolution für Mikroorganismen – Mikrofluidik-Chip-Methode

Group Standards of the People's Republic of China, So testen Sie den Chip

  • T/CIE 126-2021 Testmethode für magnetische Direktzugriffsspeicherchips
  • T/CESA 1119-2020 KI-Chips – Testindex und Testmethode von Deep-Learning-Chips für die Cloud-Seite
  • T/CESA 1121-2020 KI-Chips – Testmetriken und Testmethode von Deep-Learning-Chips für die Terminalseite
  • T/CESA 1120-2020 KI-Chips – Testmetriken und Testmethode von Deep-Learning-Chips für die Edge-Seite
  • T/CASAS 030-2023 Messmethoden für GaN-Millimeterwellen-Frontend-MMIC
  • T/CSAE 251-2022 Testmethoden für die Verarbeitungsleistung von V2X-Fahrzeugsicherheitschips
  • T/CIE 134-2022 Testverfahren für die Datenaufbewahrungszeit eines magnetischen Direktzugriffsspeicherchips
  • T/GDES 29-2019 Die Methode der Green Manufacturing-Bewertung von LED-Chips/-Substraten
  • T/CSPSTC 11-2018 Schnelle Bestimmung pathogener Bakterien in Lebensmitteln mit der Biochip-Methode
  • T/CI 156-2023 Methode des DNA-Mikroarrays zum Nachweis wichtiger Krankheitserreger in kultivierten Fischen
  • T/CI 157-2023 Methode eines DNA-Mikroarrays zum Nachweis wichtiger Krankheitserreger in kultivierten Krebstieren
  • T/CSAE 224-2021 Funktionale Sicherheitsanforderungen und Testspezifikation für integrierte Kommunikationsschaltkreise in batterieelektrischen Personenkraftwagen
  • T/CSAE 223-2021 Funktionale Sicherheitsanforderungen und Testspezifikation für integrierte Steuerschaltungen in batterieelektrischen Personenkraftwagen
  • T/ZACA 031-2020 Schneller Nachweis von Krankheitserregern in Lebensmitteln – Mikrofluidische Chip-Methode
  • T/ZZB Q031-2020 Schneller Nachweis von Krankheitserregern in Lebensmitteln – Mikrofluidische Chip-Methode
  • T/CSAE 260-2022 Technische Spezifikation und Testmethode für einen Computerchip für die visuelle Wahrnehmung eines intelligenten und vernetzten Fahrzeugs
  • T/CSAE 229-2021 Straßentestverfahren für eine batterieelektrische Pkw-Steuerung mit integriertem Schaltkreis für ein fertiges Fahrzeug
  • T/CSAE 230-2021 Straßentestverfahren für batterieelektrische Pkw-Kommunikation mit integriertem Schaltkreis für fertiges Fahrzeug
  • T/CSAE 225-2021 Umweltfunktionstestverfahren für eine integrierte Steuerungsschaltung für batterieelektrische Personenkraftwagen
  • T/CSAE 226-2021 Umweltfunktionstestverfahren für eine integrierte Kommunikationsschaltung für batterieelektrische Personenkraftwagen
  • T/ZSA 106-2021 Batterieelektrisches Personenkraftfahrzeug – Integrierter Schaltkreis in elektronischer Steuereinheit – Prüfverfahren
  • T/CSAE 228-2021 Simulationstestverfahren für die Umgebungssimulation einer batterieelektrischen Pkw-Kommunikation für integrierte Schaltkreise für ein fertiges Fahrzeug
  • T/CSAE 227-2021 Testverfahren zur Simulation der Umgebungssimulation einer batterieelektrischen Pkw-Steuerung für integrierte Schaltkreise für ein fertiges Fahrzeug
  • T/CIE 151-2022 Dynamische Alterungstestmethode für FPGA-Chips (Field Programmable Gate Array).
  • T/SHAAV 007-2021 Mikrofluidische Chip-Methode für sieben zoonotische Erreger bei Hunden
  • T/SHAAV 008-2021 Mikrofluidische Chip-Methode zum Nachweis von fünf zoonotischen Erregern bei Katzen

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, So testen Sie den Chip

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, So testen Sie den Chip

  • JEDEC JESD51-50-2012 Überblick über Methoden zur thermischen Messung von Single- und Multi-Chip-, Single- und Multi-PN-Junction-Leuchtdioden (LEDs)

Professional Standard - Electron, So testen Sie den Chip

  • SJ/T 11399-2009 Messmethoden für Chips von Leuchtdioden
  • SJ 3175-1988 Messverfahren für Zylinderkerne, Rohrkerne und Schraubenkerne aus magnetischen Oxiden

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, So testen Sie den Chip

工业和信息化部, So testen Sie den Chip

  • YD/T 3944-2021 Bewertungsmethode für Chip-Benchmark-Tests mit künstlicher Intelligenz
  • YD/T 1886-2015 Technische Anforderungen und Testmethoden für die Chipsicherheit mobiler Endgeräte
  • YD/T 3943.1-2021 Methoden zum Testen der Cloud-Computing-Kompatibilität Teil 1: Chips und Betriebssysteme
  • HG/T 3558-2019 Methode zur Bestimmung des Feuchtigkeitsgehalts von Filmen und Filmträgern

Professional Standard - Public Safety Standards, So testen Sie den Chip

  • GA/T 1171-2014 Untersuchungsmethoden zum Ähnlichkeitsvergleich integrierter Schaltkreischips

国家质量监督检验检疫总局, So testen Sie den Chip

  • SN/T 4864-2017 Mikrofluidische Chip-Detektionsmethode zur Erkennung von gentechnisch verändertem Mais
  • SN/T 4417-2016 Visuelle Chip-Detektionsmethode für häufige Lebensmittelallergene
  • SN/T 4413-2015 Visuelle Chip-Detektionsmethode zur Erkennung gentechnisch veränderter Maislinien

Association Francaise de Normalisation, So testen Sie den Chip

  • NF EN IEC 63215-2:2023 Ausdauertests für das Material zur Hautfixierung - Teil 2: Methode zum thermischen Zyklustest für das Material zur Hautfixierung, Anwendung auf diskreten elektronischen Geräten
  • NF EN IEC 61631:2020 Prüfverfahren für die mechanische Festigkeit magnetischer Oxidkerne
  • NF EN IEC 63300:2023 Versuchsmethoden für elektrische und magnetische Geräte und Magnetpulver

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), So testen Sie den Chip

  • EN IEC 63215-2:2023 Dauertestverfahren für Die-Attach-Materialien – Teil 2: Temperaturwechseltestverfahren für Die-Attach-Materialien für diskrete Leistungselektronikgeräte

International Electrotechnical Commission (IEC), So testen Sie den Chip

  • IEC 63215-2:2023 Dauertestverfahren für Die-Attach-Materialien – Teil 2: Temperaturwechseltestverfahren für Die-Attach-Materialien für diskrete Leistungselektronikgeräte
  • IEC 62528:2007 Standardtestmethode für eingebettete, kernbasierte integrierte Schaltkreise

Professional Standard - Post and Telecommunication, So testen Sie den Chip

  • YD/T 1886-2009 Sicherheitsanforderungen und Testspezifikation für SoC in mobilen Endgeräten

Professional Standard - Agriculture, So testen Sie den Chip

  • SN/T 5044-2018 Nachweismethode für den Nukleinsäure-Flüssigkeitschip des West-Nil-Fieber-Virus

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, So testen Sie den Chip

  • GB/T 19495.9-2017 Nachweis gentechnisch veränderter Organismen und Folgeprodukte – Flüssigkügelchen-Array-Detektion für Pflanzenprodukte
  • GB/T 33922-2017 Testmethoden auf Waferebene für die Leistung piezoresistiver druckempfindlicher MEMS-Chips
  • GB/T 33807-2017 Nachweis gentechnisch veränderter Bestandteile im Mais – Genchip-Methode
  • GB/T 35535-2017 Nachweis gentechnisch veränderter Bestandteile in Soja und Raps – Membranbasierte Genchip-Methode
  • GB/T 35917-2018 Schnelle Erkennung tierischer Materialien – membranbasierte Array-Methode

BELST, So testen Sie den Chip

  • STB 1142-99 Schuhe. Methoden zur Definition linearer Messungen

Professional Standard - Commodity Inspection, So testen Sie den Chip

  • SN/T 2651-2010 Bestimmung pathogener Bakterien in Fleisch und Fleischprodukten. Genchip-Methode
  • SN/T 1543-2005 GeneChip-Methoden zur Identifizierung lebensmittelbedingter Krankheitserreger
  • SN/T 3152-2012 Bestimmung von durchfallerregenden Escherichia coli in Lebensmitteln für den Export.GeneChip-Methode
  • SN/T 3267-2012 Nachweismethode für Bacillus anthracis mittels Gen-Suspension-Array in Grenzhäfen
  • SN/T 2774-2011 Methode zum Nachweis von Yersinia pestis-Proteinsuspensionschips in Grenzhäfen
  • SN/T 2518-2010 Bestimmung von durch Lebensmittel übertragenen Viren mit der Schalentier-MNP-Gen-Chip-Methode
  • SN/T 4283.1-2015 Testmethode für Mikroplatten-Genchips im Grenzhafen. Teil 1: Allgemeines technisches Verfahren
  • SN/T 4283.3-2015 Testmethode des Mikroplatten-Genchips im Grenzhafen. Teil 3: Sieben Atemwegsviren
  • SN/T 4283.6-2015 Testmethode für Mikrotiterplatten-Genchips im Grenzhafen. Teil 6: Zwölf durch Lebensmittel übertragene pathogene Bakterien

American National Standards Institute (ANSI), So testen Sie den Chip

  • ANSI/ASTM A346:1974 Testmethode für die magnetische Wechselstromleistung von laminierten Kernproben unter Verwendung der Dieterly-Brückenmethode
  • ANSI/SCTE 312007-2008 Testmethode zur Messung des Durchmessers über dem Kern
  • ANSI/IEEE 1500:2005 Standardtestmethode für eingebettete kernbasierte integrierte Schaltkreise C/TT
  • ANSI IT9.4-1988 Bildgebende Medien (Film) – Schmierung auf Filmen – Methode zur Bestimmung

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, So testen Sie den Chip

AENOR, So testen Sie den Chip

  • UNE 20677:1985 MESSVERFAHREN FÜR ZYLINDERKERN, ROHRKERN UND SCHRAUBENKERN AUS MAGNETISCHEN OXIDEN
  • UNE-EN 12958:2001 SCHUHE – PRÜFMETHODEN FÜR SCHÄFTE – ERmüdungsbeständigkeit.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), So testen Sie den Chip

  • IEEE 1500-2005 Dokument der IEEE Computer Society zur Standardtestbarkeitsmethode für eingebettete kernbasierte integrierte Schaltkreise

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), So testen Sie den Chip

未注明发布机构, So testen Sie den Chip

  • DIN EN IEC 63215-5 E:2022-06 Dauertestmethoden für Die-Attach-Materialien – Teil 5: Temperaturwechseltestmethoden für Die-Attach-Materialien (Systemlötverbindung), angewendet auf modulartige leistungselektronische Geräte
  • DIN EN ISO 18895 E:2018-04 Test method for fatigue resistance of footwear cores (draft)

(U.S.) Ford Automotive Standards, So testen Sie den Chip

German Institute for Standardization, So testen Sie den Chip

  • DIN EN IEC 63215-5:2022-06 Dauertestverfahren für Die-Attach-Materialien – Teil 5: Temperaturwechseltestverfahren für Die-Attach-Materialien (Systemlötverbindung), angewendet auf modulartige leistungselektronische Geräte (IEC 91/1770/CD:2021); Text in Deutsch und Englisch / N...
  • DIN EN 60749-19:2011-01 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Scherfestigkeit der Chips (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + A1:2010 / Hinweis: DIN EN 60749-19 (2003-10) bleibt neben dieser Norm bis zum 01.09.2013 gültig.
  • DIN EN ISO 18895:2018 Schuhe – Prüfverfahren für Schäfte – Ermüdungsbeständigkeit (ISO 18895:2006)

Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, So testen Sie den Chip

  • DB21/T 2838-2017 Vor-Ort-Testverfahren für die Kernmaterialdicke von wasserdichten Polymer-Verbundplatten (FS2)

Society of Automotive Engineers (SAE), So testen Sie den Chip

  • SAE J1533-2022 Testmethode für Luftfilterelemente
  • SAE J913-1994 TESTVERFAHREN ZUR Dochtwirkung von Automobilstoffen und Fasermaterialien
  • SAE J913-1996 Testmethode für die Dochtwirkung von Automobilstoffen und Fasermaterialien

ES-UNE, So testen Sie den Chip

  • UNE-EN IEC 63215-2:2023 Dauertestmethoden für Die-Attach-Materialien – Teil 2: Temperaturwechseltestverfahren für Die-Attach-Materialien, die auf diskrete Leistungselektronikgeräte angewendet werden (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2024.)

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, So testen Sie den Chip

  • DB22/T 3074-2019 Nachweis häufiger Krankheitserreger der Atemwege – Mikrofluidik-Chip-Methode

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), So testen Sie den Chip

  • JIS Z 3198-7:2003 Prüfverfahren für bleifreie Lote – Teil 7: Verfahren zur Scherfestigkeit von Lötverbindungen an Chipbauteilen
  • JIS C 2563:1995 Messmethoden für Ferritkerne für Magnetköpfe
  • JIS C 2561:1992 Messmethoden für Materialeigenschaften von Ferritkernen

GOSTR, So testen Sie den Chip

  • GOST 34285-2017 Lebensmittel, Lebensmittelrohstoffe. Methode zum Nachweis von Chemotherapeutika durch den Hemilumineszenz-Immunenzymtest unter Verwendung der Biochip-Technologie

American Society for Testing and Materials (ASTM), So testen Sie den Chip

Malaysia Standards, So testen Sie den Chip

  • MS 1006-1986 Prüfverfahren für Lote mit Harzflussmittelseele

VE-FONDONORMA, So testen Sie den Chip

Danish Standards Foundation, So testen Sie den Chip

  • DS/EN 60749-19/A1:2010 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit
  • DS/EN 60749-19:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit

CZ-CSN, So testen Sie den Chip

  • CSN 73 6173-1968 Methode zur Messung der Länge eines Bohrkerns aus einer Betondecke
  • CSN 64 0181-1986 Kunststoffe. Methoden zur Dickenbestimmung von Filmen und Platten

海关总署, So testen Sie den Chip

  • SN/T 5107-2019 Methode zum Nachweis von Gensuspensionschips für mehrere Krankheitserreger von durch Mücken übertragenen Infektionskrankheiten an Ein- und Ausreisehäfen
  • SN/T 5336-2020 Mikrofluidische Chip-Methode zum Nachweis des Schweinepestvirus und des Afrikanischen Schweinepestvirus

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, So testen Sie den Chip

  • CNS 13806-1997 Methode zur Messung der Emissionswellenlänge und Lichtintensität epitaktischer Wafer von Leuchtdioden

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, So testen Sie den Chip

  • GJB 130.2-1986 Bestimmungsmethode der Dichte eines Aluminiumwabenkerns

Standard Association of Australia (SAA), So testen Sie den Chip

  • AS 2891.1.2:2023 Methoden zur Probenahme und Prüfung von Asphalt, Methode 1.2: Probenahme – Entkernungsmethode

Professional Standard - Chemical Industry, So testen Sie den Chip

  • HG/T 3558-1988 Methode zur Bestimmung des Feuchtigkeitsgehalts der Filmbasis

RU-GOST R, So testen Sie den Chip

CL-INN, So testen Sie den Chip

IN-BIS, So testen Sie den Chip

  • IS 10419-1982 Methode zur Bestimmung der Sprödigkeit fotografischer Filme
  • IS 10396-1982 Methode zur Bestimmung der Rollneigung fotografischer Filme

RO-ASRO, So testen Sie den Chip

  • SR EN 108-1996 Methoden zur Prüfung von Türen Prüfung auf Verformung des Flügels in seiner Ebene

AT-ON, So testen Sie den Chip

SAE - SAE International, So testen Sie den Chip

  • SAE J913-1985 Testmethode für die Dochtwirkung von Automobilgeweben und Fasermaterialien




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